射線底片偽缺陷產生原因及識別方法

李亞梅

河南省鍋爐壓力容器安全檢測研究院，中國·河南 鶴壁 475000

1 引言

按照NB/T47013.2—2015《承壓設備無損檢測》射線篇的射線探傷底片質量要求，射線底片評定范圍內不應存在干擾缺陷影像識別的水跡、劃痕、斑紋等偽缺陷影像。偽缺陷是由于照相過程中照相材料、工藝或操作不當在底片上留下的影象，裝片、卸片以及沖洗過程違反暗室操作工藝守則都會引起底片偽缺陷的產生，我們必須對這些偽缺陷產生原因進行分析并加以識別，采取必要的預防措施，否則就可能會造成誤判，給特種設備安全造成隱患[1]。

2 底片常見偽缺陷的分類

底片偽缺陷按照產生時機可分為沖洗前產生的偽缺陷、沖洗過程中產生的偽缺陷以及沖洗后產生的偽缺陷三種。

2.1 沖洗前引起的偽缺陷

2.1.1 膠片劃傷

膠片被尖銳物體（指甲、器具尖角、膠片尖角、砂粒等）劃過，裝片或卸片過程中指甲碰到膠片，或操作馬虎等都容易引起膠片劃傷，在底片上留下的黑線，劃痕細而光滑，十分清晰，如圖1所示。識別方法膠片劃傷可借助與膠片表面成某一角度的反射光來識別，能看到痕跡。

圖1 指甲印

2.1.2 折痕

膠片折痕通常是在裝片或卸片過程中，膠片過度彎曲受折引起。膠片在曝光前受折，會產生黑度低于底片臨近黑度的新月型顯示，膠片在曝光后受折，會產生黑度高于底片臨近黑度的新月型顯示。識別方法借助反射光觀察，可以看到底片有折傷痕跡。

2.1.3 壓痕

膠片局部受壓會引起局部感光，從而在底片上留下壓痕。壓痕是黑度很大的黑點，其大小與受壓面積有關，例如在透照布片過程中，一些零件可能落到膠片暗盒上，這樣在處理后的膠片上就會產生壓痕偽缺陷。識別方法為借助反射光觀察，可以看到底片上藥膜有壓傷痕跡。

2.1.4 靜電斑痕

切裝膠片時，因摩擦產生的靜電發生放電現象使膠片感光，在底片上留下黑色影象。快速抽掉膠片包裝中的夾紙時，也可能產生靜電電荷。靜電斑痕的形狀各不相同，有分枝狀、鋸齒狀黑線，也有不規則、不連續的黑點，靜電感光影象以樹枝狀為最常見。靜電感光影象比較特殊，易于識別。

2.1.5 屏痕

由于增感屏的損壞或污染使局部增感性能改變而在底片上留下的影象。如增感屏上的裂紋或劃傷會在底片上造成黑色偽缺陷影象，而增感屏上的污物會在底片上造成白色影象。增感屏引起的偽缺陷，在底片上的形狀和部位與增感屏上完全一致。當增感屏重復使用時，偽缺陷會重復出現，避免此類偽缺陷的方法是經常檢查增感屏，及時淘汰損壞了的增感屏，在鉛屏的角落處應刻有統一的編號，以能識別上述問題，并易于找出有問題的增感屏[2]。

2.1.6 外來物質

像頭發絲、纖維絲、煙絲、頭皮屑等物質夾入膠片與熒光增感屏或鉛箔增感屏之間，就會在處理后的膠片上引起亮點，如圖2所示。為盡可能減少因增感屏引起的偽缺陷，應該使增感屏絕對清潔、光滑、無缺陷和外來雜物。同時還要注意：若使用有塑料防護涂層的增感屏，在新屏使用前一定要將涂層清除掉。識別方法為可以清楚地看到底片中的物品的清晰輪廓。

圖2 管內雜物

2.1.7 灰霧

灰霧是未處理的膠片因受到低度輻射、高濕或高溫，或受到光強超過限值的安全燈照射，所引起的一種輕微、普遍的曝光效應。識別方法為底片不透明，比較昏暗。

2.1.8 跑光

若膠片暗盒在過亮的暗室中打開，或者膠片放在并不完全避光的暗盒中，會使未處理的膠片無意中受到曝光。這樣膠片會造成嚴重的過曝光，為解決這一問題，應定期對暗盒進行檢查，及時對破損的暗盒進行更換。一般發生在底片的四周，黑度比較大，朝內逐漸減小。

2.2 沖洗過程中引起的偽缺陷

2.2.1 化學條痕

在手工沖洗過程中，若原先洗片時留在洗片架上的藥液未清洗掉，就可能在膠片上留下條痕。若膠片顯影后不先放在停顯液中，而直接放到水中漂洗，就可能在膠片上產生條痕，顯影液被膠片帶到定影液中也可能引起條痕，此外顯影時洗片架未充分晃動，也是產生條痕的另一原因。底片有明顯的夾子印跡。

2.2.2 顯影斑紋

由于曝光過度，顯影液溫度過高，濃度過大導致快速顯影，或因顯影時攪動不及時，均會造成顯影不均勻，從而產生顯影斑紋顯影斑紋呈黑色條狀或寬帶狀，在整張底片范圍出現，影象對比度不大，輪廓模糊，一般不會與缺陷影象混淆。

2.2.3 顯影液沾染

顯影操作開始前，膠片上沾染了顯影液。沾上顯影液的部位提前顯影，黑度比其他部位大，影象可能是點、條或成片區域的黑影。如圖3所示，影像一般中心部位黑度較大，朝外逐漸模糊。

圖3 藥液感染

2.2.4 氣泡斑痕

氣泡斑痕是由膠片浸泡在顯影液中時附著在膠片表面上的空氣泡造成的，它在底片圖像上呈現亮點。將洗片架對著洗片槽邊側拍打，并適當晃動，空氣泡就會消失。一般情況圓點四周輪廓比較清晰，圓點內部比較亮。

2.2.5 定影液沾染

顯影操作開始前，膠片沾染了定影液，沾上定影液的部位發生定影作用，使得該部位黑度小于其他部位，影象可能是點、條或成片區域的白影。影像一般中心部位白色影像較清晰，朝外逐漸模糊[3]。

2.2.6 污跡

若有污物聚集在顯影液、停顯液或定影液表面，膠片沖洗后就可能出現明顯的污跡。若水洗水補充不當，也可能引起類似的問題，特別是進入水洗箱的水較臟而又未經過濾時問題會更為嚴重。表面污跡可在反射光下通過觀察底片表面加以證實。

2.2.7 粘痕

膠片在沖洗過程中翻動不及時，膠片與膠片相互接觸粘在一起，特別是手工沖洗膠片在顯影液中時，接觸處會產生嚴重的粘痕。因此，通過觀察兩張底片粘痕的位置互相吻合。

2.3 沖洗后引起的偽缺陷

2.3.1 劃傷

底片沖洗后由于操作不當引起底片藥膜脫落。即使在底片處理后，膠片乳劑對各種擦傷仍然很敏感。為盡量減少對乳劑的損傷，接觸膠片務必小心謹慎。識別方法為借助反射光觀察，可以看到底片上有明顯的劃傷痕跡。

2.3.2 指印

評片過程中手持底片不正確，沒有帶專用手套，有可能產生手指印，為防止手指印拿取底片一定要注意手拿底片的位置，要拿住底片的兩端，不要拿底片的中間。可以通過側著底片對著觀片燈觀察，有手指紋路，

2.3.3 水跡

由于水質不好或底片干燥處理不當，會在底片上出現水跡，水滴流過的痕跡是一條黑線或黑帶，水滴最終停留的痕跡是黑色的點或弧線。水跡可以發生在底片的任何部位，黑度一般木大。水流痕跡直而光滑，可以找到起點和終點；水珠痕跡形狀如水滴一致；借助反射光觀察有時可以看到底片上水跡處藥膜有污物痕跡。

3 結語

通過對射線底片偽缺陷的產生原因分析，使每個探傷人員了解偽缺陷產生原因，促使探傷人員嚴格按照操作工藝的要求進行操作，就能有效地避免偽缺陷的產生，提高射線探傷的質量，減少時間和資源浪費，更能有效保證特種設備的安全。