薛書亮,張 博,趙永進,王文麗,潘 峰,陳 威
( 中國電子科技集團公司第四十五研究所, 北京 100176)
碲鋅鎘(Cadmium Zinc Telluride,CdZnTe,CZT)是一種寬禁帶化合物半導體材料,具有優異的光電特性,作為優選的外延襯底材料,用于制備高性能HgCdTe 紅外器件[1]。化學拋光工藝是CZT 襯底制備過程中的最后一步。CZT 襯底制備直接關乎到后續外延工藝的效果[2]。目前,用于碲鋅鎘襯底制備的化學拋光設備均為手動設備,人工干預較多,難以保證產品品質一致性,生產效率較低。因此,研制全自動化學拋光設備尤為必要。
CZT 晶片是用于外延碲鎘汞的重要襯底材料,因此在外延工藝前,獲取滿足粗糙度與TTV指標以及無損傷層的襯底尤為重要[3]。
化學拋光工藝中最為重要的是拋光工藝,其應用化學腐蝕原理,通過拋光液腐蝕晶片表面,同時拋光盤旋轉與晶片表面相對物理摩擦,去除晶片表面機械損傷層及隱形缺陷。化學拋光原理示意圖如圖1 所示。

圖1 化學拋光原理示意圖
在化學拋光工藝中,除化學腐蝕拋光工藝外,仍需具備如下3 道工藝:
(1)拋光前清洗:通過試劑清洗晶片表面,潤濕晶片;
(2)拋光后清洗:通過不同試劑先后清洗,去除腐蝕后晶片表面殘留拋光液及雜質;
(3)吹干:通過氮氣吹干方式,干燥拋光清洗后的晶片,使其表面無殘留清洗試劑。
之前,完整的化學拋光工藝基本使用手動機臺,需要人工操作的流程較多,對操作人員的要求較高,工藝效果及重復性無法保證。因此,需要設計一套全自動化學拋光設備。
化學拋光工藝基本流程如圖2 所示。

圖2 化學拋光工藝
為了滿足工藝需求,全自動化學拋光機需具備自動上料、拋光前清洗、拋光、拋光后清洗、清洗后吹干、自動下料以及溶液供給、廢液排放等輔助功能模塊。設備主要功能實現如圖3 所示。

圖3 全自動化學拋光機主要功能模塊
(1)自動上料模塊:具備Z 向模組,可進行上料片盒Z 向移動,以及對片盒中晶片進行掃描;
(2)X-θ 傳輸模塊:將晶片從上料片盒傳送至拋光前清洗工位;
(3)拋光前清洗模塊:通過控制溶液供給,對晶片進行拋光前清洗;
(4)Robot1 傳輸模塊:將通過拋光前清洗后的晶片傳遞至旋轉的拋光臺上,拋光模塊:旋轉的拋光臺對晶片進行化學腐蝕拋光;
(5)Robot2 傳輸模塊:將拋光后的晶片傳遞至拋光后清洗工位中;
(6)拋光后清洗模塊:通過控制溶液供給,對晶片進行拋光后清洗;
(7)氮氣吹干模塊:通過對氮氣控制,對晶片進行干燥;
(8)X-Y-θ 傳輸模塊:進行晶片從拋光后清洗模塊到氮氣吹干模塊的傳輸,以及從氮氣吹干模塊到自動下料模塊的傳輸;
(9)自動下料模塊:具備Z 向模組,可進行下料片盒Z 向移動,以及對片盒中晶片進行掃描。根據以上各主要功能模塊,進行整體布局設計,如圖4 所示。

圖4 設備整體布局
全自動化學拋光機的控制系統設計分為硬件設計與軟件設計,通過對控制系統設計,實現全自動拋光的流程控制。
化學拋光機的控制系統采用PLC+HMI+機器人控制器的總體架構,如圖5 所示。HMI 進行控制系統的人機交互;Robot 系統實現機器人運動;PLC 系統實現邏輯控制,單軸或多軸運動控制,以及系統之間的通訊控制等。

圖5 全自動化學拋光機控制系統架構
PLC 系統采用EtherCAT 總線方式進行運動控制,利用高速背板總線進行DI/DO、AI/AO、串口通訊控制。
PLC 系統與 Robot 系統之間、PLC 系統與HMI 系統之間通過EtherNet/IP 協議進行通訊,方便數據的傳遞。控制系統框圖如圖6 所示。

圖6 控制系統框圖
化學拋光機控制系統軟件編程系統采用PLC編程、觸摸屏編程,以及機器人編程相結合的方式。主控系統應用LAD、ST 語言進行PLC 編程實現;人機交互采用HMI 組態方式編程實現;機器人控制采用V+ 語言編程實現。整體軟件架構如圖7 所示。通過將各程序模塊有效結合,實現全自動拋光流程控制,自動拋光流程如圖8 所示。

圖7 全自動化學拋光機程序架構

圖8 全自動化學拋光控制流程
通過對CZT 晶片化學拋光工藝簡要分析,介紹了一種全自動化學拋光設備的工藝實現及整體功能布局設計,同時從硬件設計及軟件設計兩方面對整機控制系統進行了說明。全自動化學拋光設備滿足了工藝需求,提高了生產效率,減少了人員干預,保證了產品質量的一致性和良率。