顏擁軍,周劍良,楊 彬,丘壽康
(南華大學(xué) 核科學(xué)技術(shù)學(xué)院,湖南 衡陽 421001)
氡及其子體的測量和控制是氡計量學(xué)和輻射防護(hù)研究共同關(guān)心的問題。219Rn在自然條件下濃度較低,含量較少,半衰期非常短,研究難度較大。目前氡的研究方面主要側(cè)重于220Rn和222Rn的測量。同時,分辨測量氡同位素(222Rn/220Rn/219Rn)是間接分辨測量鐳同位素(226Ra/224Ra/223Ra)的有效方法,而鐳的各同位素是海洋學(xué)過程研究的非常重要的示蹤劑,鐳同位素的分辨測量是同位素海洋學(xué)當(dāng)前的研究熱點(diǎn)[1]。
氡的測量有多種方法,其中延遲符合技術(shù)適用于低水平氡同位素的分辨測量。延遲符合技術(shù)根據(jù)氡同位素的短壽命子體釙半衰期不同來分辨測量219Rn和220Rn,該技術(shù)已成功應(yīng)用于空氣中低濃度220Rn的測量,特別是海水中鐳同位素的間接測量[2-7]。
本文提出一種軟件延遲符合測量方案,以S3C2410嵌入式微處理器為控制核心,通過移植uC/OS-Ⅱ操作系統(tǒng),記錄存儲核脈沖信號的脈沖寬度及時間間隔分布信息,采用軟件實(shí)現(xiàn)延遲時間調(diào)整和符合測量計數(shù),實(shí)現(xiàn)氡同位素的分辨。
延遲符合分辨測量氡同位素原理[2-3]如圖1所示。符合測量軟件中有3個計數(shù)通道,a通道為延遲符合測量后220Rn脈沖計數(shù),b通道為延遲符合前總脈沖計數(shù),c通道為延遲符合測量后219Rn脈沖計數(shù)。各符合通道的符合時間記為Tg。1個220Rn或219Rn發(fā)生衰變后產(chǎn)生 子 體216Po或215Po,并放出1個α粒子。α粒子脈沖首先觸發(fā)延遲電路,經(jīng)延遲Td時間后打開符合電路。子體216Po或215Po在很短的時間內(nèi)發(fā)生衰變并放出α粒子,如果釙衰變產(chǎn)生的脈沖在Td到Td+Tg時間內(nèi)到達(dá)符合電路,脈沖將被記錄。
根據(jù)氡同位素衰變規(guī)律,219Rn通道延遲時間Td219=0.15ms,目的是使整個系統(tǒng)穩(wěn)定,219Rn通道開門時間Tg219=5.6ms(約為4倍215Po半衰期),以保證215Po衰變產(chǎn)生的脈沖均被記錄。由于216Po半衰期為150ms,可認(rèn)為在這段時間內(nèi)216Po未衰變,不會影響219Rn通道計數(shù)。同樣,220Rn通道延遲時間 Td220=10ms(約為6倍215Po半衰期),以保證這段時間內(nèi)215Po已衰變完,不會對220Rn通道計數(shù)產(chǎn)生影響。220Rn通道開門時間Tg220=600ms(約為4倍216Po半衰期),以保證216Po產(chǎn)生的脈沖均被記錄。
實(shí)際測量中,兩個延遲符合通道的計數(shù)會受到222Rn衰變及其他本底計數(shù)的影響,另外,符合通道之間也會產(chǎn)生互擾。
Giffin等[2]推導(dǎo)出計算偶然符合事件的概率表達(dá)式。每個通道都會有偶然符合事件發(fā)生,其修正根據(jù)總計數(shù)率和每個通道的開門時間。為了測定220Rn或219Rn的真計數(shù)率,需將偶然符合事件從測量到的計數(shù)率中扣除,偶然符合事件計數(shù)率y的計算公式如下:

式中:nb為符合前總計數(shù)率;na為符合后計數(shù)率。具體計算各通道偶然符合計數(shù)率時,只需代入相應(yīng)的開門時間和計數(shù)率即可。
從式(1)可看出,各通道偶然符合計數(shù)率隨總計數(shù)率和開門時間的增加而增加,220Rn通道開門時間較長,更易受隨機(jī)脈沖的影響,因此延遲符合法不適合測量高活度氡同位素。測量高活度氡時,可用一定比例的潔凈氣體(不含氡且不產(chǎn)生α粒子)將其稀釋后再測量。

圖1 軟件延遲符合法原理圖Fig.1 Software delayed coincidence flow
延遲符合測量系統(tǒng)以達(dá)盛公司的EL-ARM-830實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)為開發(fā)平臺,S3C2410(ARM9)核心板為控制中心。S3C2410是Samsung公司推出的16/32位RISC處理器,基于ARM9TDMI內(nèi)核,最高工作頻率202.8MHz,24個外部中斷源,4個16位定時器,片上集成了32M的FLASH和64M的SDRAM,為用戶的軟件研發(fā)提供了足夠的空間。核心板具有體積小、功耗低、處理能力強(qiáng)等優(yōu)點(diǎn)[8]。
探測器輸出信號經(jīng)放大整形為矩形脈沖序列后,送入S3C2410外中斷引腳,并由核心板記錄脈沖序列的上升沿及下降沿時間信息。根據(jù)氡子體215Po和216Po具有不同的半衰期,通過在分析軟件中設(shè)置不同的符合時間來達(dá)到分辨測 量219Rn 和220Rn 的 目 的。該 系 統(tǒng) 采 用UCGUI圖形用戶界面模塊設(shè)計,結(jié)果通過LCD顯示,具有良好的人機(jī)交互界面。同時數(shù)據(jù)能通過串口發(fā)送到上位機(jī)進(jìn)一步分析處理。硬件結(jié)構(gòu)如圖2所示。

圖2 系統(tǒng)硬件框圖Fig.2 Hardware chart of system
延遲符合測量軟件[8-10]主要包括 uC/OS-Ⅱ操作系統(tǒng)及運(yùn)行其上的符合分析軟件。符合分析軟件主要由定時時間設(shè)置程序、核脈沖采集程序、延遲符合測量程序、脈沖寬度及間隔計算程序、測量結(jié)果查詢程序、UCGUI圖形用戶界面等組成。
該系統(tǒng)除了能實(shí)時顯示符合測量結(jié)果外,還能在線查詢測量結(jié)果,并設(shè)置了清除查詢標(biāo)志鍵。在多次查詢后,能返回第1次測量結(jié)果重新查詢。
2.2.1 定時時間設(shè)置 本設(shè)計利用定時器Time0產(chǎn)生定時時鐘,程序開始測量即啟動該定時器計時。S3C2410有5個16位定時器,定時器工作頻率PCLK=50.7MHz,每個定時器有1個時鐘分割器TCFG0(2,4,8,16)和1個8位預(yù)定標(biāo)器TCFG1(0~255),根據(jù)TCFG0和TCFG1中的數(shù)值分割PCLK。定時時鐘頻率為PCLK/((TCFG1+1)*TCFG0)。設(shè)置TCFG0=2,TCFG1=0,根 據(jù) PCLK/((TCFG1+1)*TCFG0)計算定時時鐘頻率為25.35MHz(最大定時時鐘頻率)。 設(shè) 置TCNTB0=63357,TCMPB0=0,定時器中斷1次時間為63357/25.35MHz=25ms。在定時器中斷服務(wù)程序中遞減定時器計數(shù)timecount,當(dāng)其遞減到0時結(jié)束定時。如需定時1s,則設(shè)置timecount=400,定時器經(jīng)400次重載后停止,總定時時間為25ms*400=1s。其余定時時間依次類推。
2.2.2 脈沖采集 放大整形電路輸出脈沖序列,送入S3C2410微處理器F口的第0和第3外中斷引腳,分別設(shè)置上升沿及下降沿觸發(fā)產(chǎn)生中斷。在外中斷服務(wù)程序中,記錄定時時間。當(dāng)定時器計數(shù)timecount遞減到0時,在定時器中斷服務(wù)程序中關(guān)閉外中斷0和外中斷3及定時器,完成此次脈沖采集。
2.2.3 脈沖符合計數(shù) 本工作提出的軟件延遲符合法的思路是先記錄脈沖序列的時序信息,然后用軟件方式實(shí)現(xiàn)延遲時間控制,根據(jù)上述延遲符合分辨測量氡同位素原理對脈沖到達(dá)的時刻進(jìn)行分析,滿足符合時序即可得到每個通道1個符合計數(shù),依次遞推。軟件延遲符合測量程序設(shè)計流程如圖3所示。分別存儲單次符合計數(shù)和總符合計數(shù),符合測量結(jié)束后,將總符合計數(shù)sum除以定時時間得到符合計數(shù)率。將總計數(shù)率減去220Rn通道和219Rn通道計數(shù)率即可得到222Rn計數(shù)。
以 EL-ARM-830實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)、FD-125室內(nèi)氡釷分析器、放大整形電路構(gòu)建延遲符合測量實(shí)驗(yàn)系統(tǒng),如圖4所示。

圖3 軟件延遲符合測量程序設(shè)計流程圖Fig.3 Flow of software delayed coincidence counting
利用延遲符合測量實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)測量219Rn源(活度A 約為8Bq)和220Rn源(活度A 約為15Bq)。采用流氣閃爍室。由于所用219Rn源和220Rn源的活度較實(shí)際樣品大得多,所以在源與閃爍室之間接一級緩沖容器,使219Rn和220Rn的活度因衰變而降低,從而減少單位時間閃爍室內(nèi)219Rn和220Rn的衰變數(shù)。
1)閃爍室內(nèi)219Rn或220Rn衰變率標(biāo)稱值計算公式
閃爍室內(nèi)219Rn或220Rn衰變率標(biāo)稱值計算公式[7]如下:

其中:D為衰變率標(biāo)稱值;A為源活度;f1為氡原子流經(jīng)樣品到閃爍室之間的存活因子(圖4中的1至2);f2為氡原子流經(jīng)閃爍室的衰變因子(圖4中的2至3),且,式中,V1為從源表面1到閃爍室入口2的體積,V2為閃爍室容積,λ為219Rn或220Rn的衰變常量,ω為空氣采樣泵流率(L/min)。
2)符合通道效率計算公式
符合通道效率f包括兩個方面:(1)閃爍室探測效率fD;(2)氡子體釙在開門時間內(nèi)衰變概率fE。閃爍室探測單個粒子效率為fD,則探測Rn-Po粒子對效率為。因此,有:
219Rn通道開門時間5.6ms,則fE219=1-=0.8842。220Rn通道開門時間600ms,則fE220=1-=0.9374。

閃爍室探測效率fD約為0.86(閃爍室標(biāo)定常數(shù)K為每分1個計數(shù)對應(yīng)的氡濃度,單位為Bq·m-3min-1,實(shí)驗(yàn)所用的閃爍室標(biāo)定常數(shù)K 約為13Bq·m-3min-1)。根據(jù)式(3)計算219Rn通道效率理論值f219=0.654,220Rn通道效率理論值f220=0.693。
閃爍室內(nèi)220Rn和219Rn衰變率測量值與標(biāo)稱值列于表1。219Rn和220Rn衰變率測量值=凈計數(shù)率/f。
從表1可見,閃爍室內(nèi)220Rn衰變率測量值與標(biāo)稱值接近,兩者的相對偏差在2.0%以內(nèi);219Rn衰變率測量值較標(biāo)稱值偏差較大,但不同流率時,此偏大程度相近,約為20.0%,這說明測量值的精密度較好,主要偏差來源是219Rn源活度不準(zhǔn)確。

圖4 延遲符合測量實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)Fig.4 Experiment system of delayed coincidence counting

表1 220 Rn和219 Rn衰變率測量值與標(biāo)稱值Table 1 Comparison between measurement values and theoretical values of 220 Rn and 219 Rn decay rate
由上述分析可知,該軟件延遲符合實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)能在環(huán)境水平222Rn的背景下分辨測量較低水平220Rn和219Rn源。
軟件延遲符合測量實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)能測量低水平219Rn和220Rn,該實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)對220Rn源測量的相對偏差在2%以內(nèi)。軟件延遲符合法相比于傳統(tǒng)的硬件符合系統(tǒng)有一定的優(yōu)越性,如它能對脈沖數(shù)據(jù)用符合、反符合等多種方法進(jìn)行處理,簡化了電路結(jié)構(gòu),延遲時間調(diào)整方便且精度高,功能靈活,有更好的抗干擾力,因而是一種靈活的核脈沖處理技術(shù)。
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