超薄Ce:YAG閃爍晶體用于高分辨X光成像

近期，中國科學院上海光學精密機械研究所中科院強激光材料重點實驗室利用提拉法生長出的高品質(zhì)Ce∶YAG閃爍晶體開展了高分辨率X射線成像系統(tǒng)核心器件——閃爍體研制工作，成功制備了尺寸為φ30 mm，厚度為30～45 μm的高品質(zhì)閃爍晶體元件，并和中科院上海應(yīng)用物理研究所合作，研制基于超薄Ce∶YAG閃爍晶體的高分辨X光探測器，實現(xiàn)X光輻照條件下高分辨成像。在同等實驗條件下，與Crytur公司同類晶體對比，上海光機所研制的Ce∶YAG閃爍晶體圖像邊沿銳度較高，圖像對比度好，成像分辨率高，圖像質(zhì)量更好。該項成果將在6月22日至26日舉辦的2014年度International Workshop on Radiation Imaging Detectors (iWoRID, Italy)會議上發(fā)表。

Crytur公司是國際知名的閃爍晶體生長公司，閃爍晶體的性能一直處于國際領(lǐng)先水平，其制備的閃爍晶體探測器件在高能射線探測成像方面占據(jù)較多國際份額。Ce∶YAG是一種重要的具有優(yōu)良閃爍性能的閃爍晶體，除了高能射線探測成像應(yīng)用外，在高能物理與核物理實驗、安檢、醫(yī)療和軍事等領(lǐng)域有重要應(yīng)用。超薄Ce∶YAG閃爍晶體的研制成功標志著上海光機所在高性能閃爍體器件研制方面已處于該領(lǐng)域領(lǐng)先水平。通過與上海應(yīng)物所等優(yōu)勢單位協(xié)同創(chuàng)新，將有望研制性能更為優(yōu)良的各類高能射線探測器。