高宏屹
摘 要:貼片式LED由于體積小、散射角大、發光均勻性好等優點,應用較為廣泛。在貼片式LED封裝工藝中死燈現象是影響產品品良的重要因素。如何降低或者杜絕死燈現象,是當前LED封裝行業的一個重要研究課題。本文分析了貼片式LED封裝工藝中死燈現象主要的影響因素,并提出了控制對策。
關鍵詞:LED;封裝;死燈;影響因素;控制
LED封裝技術大都是在分立器件封裝技術基礎上發展與演變而來的,但卻有很大的特殊性。一般情況下,分立器件的管芯被密封在封裝體內,封裝的作用主要是保護管芯和完成電氣互連。而LED封裝則是完成輸出電信號,保護管芯正常工作,輸出可見光,既有電參數,又有光參數的設計及技術要求,無法簡單地將分立器件的封裝用于LED。貼片式LED由于體積小、散射角大、發光均勻性好等優點,廣泛用于建筑物輪廓燈、娛樂場所裝飾照明、廣告裝飾燈光照明領域等。
1 研究意義
什么是死燈現象?在貼片式LED封裝工藝中,封裝后遇到LED燈不亮,這種情況通常被業界稱為死燈現象或死燈問題。
當前,電子產品市場競爭激烈,價格戰已經迫使企業不得不將工作重點放在成產成本控制方面。對各個貼片式LED封裝企業來說,為追求利潤最大化,要想生存與發展,必須控制生產成本,則必須在控制死燈率方面采取有效措施。部分貼片式LED封裝企業的死燈率控制在超過20%,與貼片式LED封裝工藝發達企業差距較大,因此研究貼片式LED封裝工藝中死燈現象影響因素及對策分析具有重要的現實意義。
2 貼片式LED封裝工藝中死燈現象影響因素及對策分析
本文講到的貼片式LED封裝的主要工藝流程為:固晶——通過在支架上點絕緣膠或銀膠,把LED芯片固晶到支架的碗杯中央;焊線——用導線將芯片表面電極和支架連接起來,當導通電流時,芯片發光;點粉——由于LED芯片為單色光,通過LED芯片激發不同的熒光粉,從而實現白光輸出,此外也起到保護芯片和提高出光率的作用;分光分色——對LED光源色溫、亮度、電壓、波長、漏電等光電性能進行測試,按照客戶要求將不同參數等級材料分BIN級;包裝——采用防靜電材料包裝。
2.1 固晶不良引起的死燈
⑴影響因素分析:固晶中,點膠量的多少直接影響LED燈珠死燈。點得多了,膠會返到芯片金墊上,造成短路;點得少了,芯片又粘不牢,散熱變差,長時間點亮后很容易死燈。
⑵對策建議:點膠必須恰到好處,在生產工藝中,點膠量的多少與芯片大小、型號等有關,既不能多也不能少。因此,嚴格控制點膠量成為本工藝站質檢的重要工作。
2.2 焊線不良引起的死燈
⑴影響因素分析:有些企業采用手工焊接,使用40瓦普通烙鐵,焊接溫度無法控制,烙鐵溫度在300-400℃以上,過高的焊接溫度也會造成死燈,LED引線在高溫下膨脹系數比在150℃左右的膨脹系數高好幾倍,內部的金絲焊點會因為過大的熱脹冷縮將焊接點拉開,造成死燈現象。此外,鍍銀層太薄附著力不強,焊點與支架脫離,也很容易造成死燈現象。
⑵對策建議:對于焊線工藝中各參數的控制很關鍵,金絲球焊機的壓力、時間、溫度、功率四個參數要配合得恰到好處,還要注重對焊接質量的監測檢查。在電鍍前的處理應嚴格按操作規程進行,除銹、除油、磷化等工序應一絲不茍,電鍍時要控制好電流,鍍銀層厚度要控制好,鍍層太厚成本高,太薄影響品質。因為一般的LED封裝企業都不具備檢驗支架排電鍍品質的能力,這就給了一些電鍍企業有機可乘,使電鍍的支架排鍍銀層減薄,減少成本支出,一般封裝企業IQC對支架排檢驗手段欠缺,沒有檢測支架排鍍層厚度和牢度的儀器,所以較容易蒙混過關。
2.3 點粉工藝引起的死燈
⑴影響因素分析:點粉工藝中死燈主要由于對膠體烘烤條件的控制不佳引起,如果膠體硬化速度過快或者烘烤度溫度不均,會導致膠體中有裂化發生,且膠體與支架間蓄積過大的應力,燈珠經長時間點亮或高溫焊接后,由于膠體膨脹對金線的拉動引起死燈。
⑵對策建議:點膠工藝環節要注意:測定所用膠是否有硬化不良之現象;確認烤箱內部的實際溫度,確認烤箱內部溫度是否均勻,并做好記錄;降低初烤溫度,延長初烤時間。
2.4 靜電引起的死燈
⑴影響因素分析:靜電對LED燈來說是一種危害極大的魔鬼,全世界因為靜電損壞的電子元器件不計其數,所以防止靜電損壞電子元器件,是電子行業一項很重要的工作。人體(ESD)靜電可以達到三千伏左右,足可以將LED芯片擊穿損壞,在LED封裝生產線,各類設備的接地電阻是否符合要求,這也是很重要的,一般要求接地電阻為4歐姆,有些要求高的場合其接地電阻甚至要達到≤2歐姆。
⑵對策建議:在LED封裝生產線,工作時應穿防靜電服裝,配帶靜電環,靜電環應接地良好,有一種不須要接地的靜電環防靜電的效果不好,建議不使用配帶該種產品,如果工作人員違反操作規程,則應接受相應的警示教育,同時也起到告示他人的作用。