分離器的夾套縱環縫RT檢測工藝

劉建華(桂林市南方檢測有限責任公司， 廣西 桂林 541004)

分離器的夾套縱環縫RT檢測工藝

劉建華(桂林市南方檢測有限責任公司， 廣西 桂林 541004)

本文對搪玻璃水分離器的夾套縱環縫的射線檢測的技術工藝要點進行闡述，檢測后底片的像質計靈敏度、清晰度和黑度能夠滿足JB/T4730-2005標準要求。為類似的壓力容器射線檢測提供了借鑒和參考。

射線檢測；搪玻璃水分離器；夾套縱環縫

射線檢測是指用X射線或r射線穿透試件，以膠片作為記錄信息的器材的無損檢測方法，該方法也是應用最廣泛的一種最基本的射線檢測方法。

1 根據設計要求對搪玻璃水分離器的夾套縱環縫進行20%RT檢測

已知該產品編號為11C060,A5規格為1960×8mm、A6規格為1724×8mm 、B12規格為Φ1100(內)×8mm，內筒的規格為Φ1000(內)×14mm，材料為Q245R，坡口為V型，焊接方法為GTAW+SMAW,按JB/T4730.2-2005標準AB級檢測技術Ⅲ級合格。檢測焊縫編號A5、A6、B12示意圖如下：

根據委托和工件實際情況對A5、A6、B12的透照工藝參數做以下闡述：

(1)透照方式的確定：根據此搪玻璃容器的夾套制造工藝，夾套的縱、環縫是在釜體搪瓷結束后再在釜體上完成裝配及焊接的。A5、A6采用源在內雙壁透照，B12可采用源在內中心周向雙壁透照。

(2)透照厚度：A5、A6采用源在內雙壁透照時，射線所透照厚度為內筒厚度+夾套厚度，即W=14+8=22mm；B12采用中心周向雙壁透照時射線所透照厚度為內筒厚度+夾套厚度，即W=14+8=22mm。

(3)射線源的選擇：根據該產品的結構特點及本公司的設備情況，A5、A6選用XXG-2505定向射線探傷機(焦點尺寸2.0×2.0mm)；B12選用XXGZ-2505周向錐靶射線探傷機(焦點尺寸2.0×2.0mm)。

(4)膠片型號與增感屏的選擇：由于該設備的材質為Q245R，此材料不屬于具有冷裂紋傾向的材料，所以根據標準要求可選用AGFA-C7膠片(T3類)和前、后屏均為0.03mm的鉛箔增感屏。

(5)象質計型號和象質計靈敏度的確定：因為W=22mm，根據JB/T4730.2-2005的表7可查得應識別絲號為12號絲，所以可選用Fe10/16型象質計；根據設備本身特點，象質計無法放置在射線源側，只能放置在膠片側，同時需在底片上加F標記。

(6)透照焦距：JB/T 4730.2-2005中規定AB級射線檢測技術f≥10d?b2/3， A5、A6的焦距可取F=700mm；B12的焦距F=1100/2+8+2=560mm，都滿足AB級射線檢測技術源到工件表面最小距離要求。

(7)透照次數和一次透照長度：一次透照長度應以透照厚度比K進行控制。縱向焊接接頭AB級允許的透照厚度比K值小于等于1.03。根據K值A5、A6縱縫一次透照長度為340mm,各透照2次，每次布片1張(布片時應包括焊縫交叉部位)，每張片透照長度為280mm(膠片長度為360mm)。B12采用中心透照時，透照厚度比K值為1.0，透照次數為1次，布片3張(布片時應包括焊縫交叉部位)，每張片透照長度為280mm。

(8)底片有效評定長度：A5、A6的透照由于搭接標記無法放在源側，只能放在膠片測，其底片有效評定長度Leff=L3+ΔL= L3+L2×L3/L1=280+(8+2)×280/(700-10)=284mm；B12由于采用中心透照，其底片有效評定長度即Leff=L3=280mm。

(9)檢測比例：A5=(280×2)÷1960=28%;A6=(280×2) ÷1724=32%;B12=(280×3) ÷(1116×3.14)=22%。符合委托要求。

(10)膠片規格：根據現場焊縫的實際寬度，選用360×80mm。

(11)曝光參數的確定： 根據所選用設備的曝光曲線圖和曝光量的平方反比定律，A5，A6的透照管電壓為220Kv、管電流5mA、曝光時間3min；B12透照管電壓為225Kv、管電流5mA、曝光時間3.3min.

(12)底片黑度：按JB/T 4730.2-2005第4.11.2條的規定，黑度應控制在2.0≤D≤4.0范圍內.

注意事項：具體操作時要注意對搪玻璃層的保護，采取對射線機的工裝用膠布包裝，操作人員進入釜體內必須穿布鞋。

2 結語

經實施上述RT檢測工藝，底片的像質計靈敏度、清晰度和底片黑度完全滿足JB/T 4730-2005標準要求。說明此工藝射線檢測搪玻璃水分離器的夾套縱環縫符合標準要求，保證了產品出廠質量，達到了檢測目標。為類似的壓力容器夾套縱環縫檢測也可以值得參考。

[1]強天鵬.《射線檢測》M.中國勞動社會保障出版社，北京，2007.

[2]JB/T4730.1～4730.6-2005《承壓設備無損檢測》 北京 2005.