關(guān)于家電產(chǎn)品使用可靠性模擬試驗(yàn)

惠州三星電子有限公司 闞洪磊

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關(guān)于家電產(chǎn)品使用可靠性模擬試驗(yàn)

惠州三星電子有限公司 闞洪磊

當(dāng)今社會(huì)，家電產(chǎn)品競(jìng)爭(zhēng)加劇，為了能夠在市場(chǎng)占有一席之地，就需要產(chǎn)品有競(jìng)爭(zhēng)力，因家電產(chǎn)品技術(shù)比較成熟，外觀和性能方面都大同小異，因此就需要在產(chǎn)品品質(zhì)方面進(jìn)行突破，如何提前檢出產(chǎn)品的缺陷及潛在不良，作者結(jié)合自己的工作實(shí)際，以家電產(chǎn)品為實(shí)驗(yàn)對(duì)象，對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行壽命預(yù)測(cè)：高加速壽命試驗(yàn)(Highly Accelerated Life Test)進(jìn)行探討。

高加速壽命試驗(yàn)(Highly Accelerated Life Test)是通過不同極限應(yīng)力(電壓，溫度，振動(dòng))在最短時(shí)間內(nèi)檢出產(chǎn)品的缺陷及潛在不良。也就是說為了檢出潛在不良，增強(qiáng)產(chǎn)品可靠性對(duì)在現(xiàn)地長(zhǎng)時(shí)間的低應(yīng)力及在短時(shí)間的高應(yīng)力進(jìn)行問題點(diǎn)檢出，從而降低不良。

試驗(yàn)條件：

試驗(yàn)項(xiàng)目　輸入電壓　溫度　振動(dòng)溫度STEP STRESS　極限動(dòng)作電壓　 -30 ~ 100℃　0 Grms振動(dòng)STEP STRESS　額定電壓　常溫　0 ~ 25Grms復(fù)合cycle　極限動(dòng)作電壓　極限動(dòng)作溫度　最大動(dòng)作Grms

設(shè)備要求：

1)試驗(yàn)箱（溫度范圍：-100℃~+200℃，振動(dòng)范圍：0Grms~40Grms）；

2)調(diào)壓器（0V ~ 300V以上）；

3)振動(dòng)測(cè)定分析設(shè)備（FFT Analyzer）；

4)溫度測(cè)定分析設(shè)備（Thermal Recorder）；

5)模仿儀器（Pattern Generator)。

試驗(yàn)方法：

試驗(yàn)順序：溫度Step Stress -> 振動(dòng)Step Stress -> 復(fù)合Cycle1

1 溫度Step Stress (高&低溫度Margin)

本試驗(yàn)是考核產(chǎn)品受溫度影響的各種產(chǎn)品特性，從室溫開始找出其動(dòng)作下限值，動(dòng)作上限值，破壞下限值，破壞上限值。

試驗(yàn)profile：

判定基準(zhǔn)：

1)-10℃~80℃：誤動(dòng)作/機(jī)能喪失/破壞/PL不能發(fā)生；

2)-10℃~-20℃：機(jī)能喪失/破壞/PL不能發(fā)生；

3)-20℃~-30℃，80℃~100℃：破壞/PL不能發(fā)生。

2 振動(dòng) Step Stress

本試驗(yàn)是考核產(chǎn)品受一定的振動(dòng)時(shí)各種產(chǎn)品的特性，并找出其動(dòng)作上限值和破壞上限值。

試驗(yàn)profile：

判定基準(zhǔn)：

1)0Grms~15Grms：不能發(fā)生誤動(dòng)作/機(jī)能喪失/破壞/PL；

2)15Grms ~ 25Grms：不能發(fā)生PL現(xiàn)象。

3 復(fù)合Cycle試驗(yàn)（加速溫度沖擊Cycle及振動(dòng)試驗(yàn)）

本試驗(yàn)是在溫度極限范圍和電壓極限范圍以及振動(dòng)極限范圍條件下進(jìn)行10Cycle的試驗(yàn)，并對(duì)其動(dòng)作特性進(jìn)行檢查。

試驗(yàn)profile：

判定基準(zhǔn)：

1)溫度：-10℃~80℃，輸入電壓：額定±20%，Vibration:10Grms；

2)Cycle:5Cycle誤動(dòng)作/機(jī)能喪失/破壞/PL等現(xiàn)象不能發(fā)生。

參考文獻(xiàn)

[1]GB/T 4857.23-2012.

[2]GB/T 4857.5-1992.

[3]GB/T 2423.08 1995.

[4]GB/T 5170.18-2005.

闞洪磊（1981—），男，大學(xué)本科，現(xiàn)供職于惠州三星電子有限公司，研究方向：電子產(chǎn)品信賴性實(shí)驗(yàn)。

作者簡(jiǎn)介：