羅 策, 雷小燕, 黃永紅, 李 劍
(寶鈦集團有限公司,陜西寶雞 721014)
Cd元素作為Zr材中的一種“有害”元素,其含量要被控制在極低的范圍內(nèi)。我國國家標準(GB/T 26314-2010)《鋯及鋯合金牌號和化學成分》中,明確規(guī)定核工業(yè)用Zr材中Cd質(zhì)量分數(shù)不得超過0.00005%[1]。電感耦合等離子體質(zhì)譜(ICP-MS)具有極高的靈敏度和極低的檢出限,是當前超痕量元素分析最有力的技術(shù)之一,可以用于超痕量Cd元素的測定[2,3]。然而,ICP-MS技術(shù)在實際應用中卻存在著嚴重的質(zhì)譜干擾,國內(nèi)外大量ICP-MS的研究表明,干擾效應是影響測定結(jié)果準確度的關(guān)鍵性因素[4 - 6]。因此,為了實現(xiàn)ICP-MS準確測定Zr材中Cd含量,首先必須對測定中的干擾情況作出準確分析和判斷,采取消除措施使干擾效應消除或減小到最低程度,最終得到準確的測定結(jié)果。
基于此,本文通過實驗對ICP-MS測定Zr及Zr合金中Cd含量所受的質(zhì)譜干擾情況進行了分析,對干擾物進行了判斷,并提出了避免和消除干擾可參考采用的方法,為ICP-MS準確測定Zr及Zr合金中Cd含量奠定基礎。
ELAN DRC e型電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(美國,Perkin Elmer公司),配有十字交叉霧化器和Scott型霧化室(由Ryton材料制成,耐無機酸和有機溶劑)。儀器工作參數(shù):RF功率1 100 W;等離子氣體流量15 L/min;輔助氣流量1.2 L/min;霧化器流量0.87 L/min;泵速20 r/min;氧化物水平CeO+/Ce+:1.93%;雙電荷水平Ba++/Ba+:1.01%;靈敏度指標In:159 200 cps;背景水平220+:0.83 cps;鎳采樣錐,錐孔1.1 mm;鎳截取錐,錐孔0.9 mm;檢測器為雙模模式;數(shù)據(jù)采集為掃描模式。
Zr、Hf、Sn、Nb、Ni、Cr、Al、B、Co、Cu、Fe、Mg、Mn、Mo、Pb、Si、Ti、U、V、W元素標準儲備溶液(德國Merck公司),除U為10 mg/L外,其余均為1 000 mg/L;HF、HNO3均為BVⅢ級(北京化學試劑研究所)。實驗用水為超純水(電阻率≥18.2 MΩ·cm)。……