◎石文坤
玻璃鈍化U型封裝產品的工藝研發
◎石文坤
本篇論文以2CZ5806U型封裝產品為例,著力論述一種新型的U型玻璃鈍化實體封裝二極管的工藝實現路徑,通過對多種方案的對比驗證,最終確立適合本公司的U型產品量產工藝流程,實現玻璃鈍化二極管由插件式向表貼式的工藝創新,為玻璃鈍化二極管譜系再添一類新結構,豐富用戶的選型及應用。
近年來,隨著國家軍用裝備的小型化、集成化要求,各設計院所在新型號的設計上,均逐步推廣使用多層PCB工藝進行電路的設計開發,我公司的主力玻鈍系列二極管產品,由于設計上采用軸向引線設計思路,導致在應用過程中不可避免的使用PCB穿孔焊接,很難匹配目前用戶設計需求。因此,開發一款基于玻鈍軸向二極管工藝基礎上的表貼產品,就成為了我們需要解決的當務之急。玻璃鈍化U型封裝表貼二極管的開發,很好的彌補了我公司玻鈍系列二極管沒有表貼產品選型的空白,具有很好的市場前景及應用價值。
同時在開發時我們還需注意以下兩點要求: (1)工藝質量延續性。我公司生產的玻鈍系列二極管產品,由研發至今已經歷30多年歷史,在各大軍用項目中被廣泛的使用,產品結構具有較強的質量可靠性,受到軍方的一致好評。因此在開發U型封裝產品時,需注重對軸向二極管的工藝延續性,以保證U型產品的設計可靠性。 (2)工藝路線可量產性。在設計產品的工藝路線時,需考慮產品的工藝量產可能性,保證在由研發轉入量產階段時,該方案具有較好的量產適用性,能在最經濟、最短的時間內實現產品系列的全面推廣及應用。
軸向結構2CZ5806產品的設計結構圖。

圖1 2CZ5806產品結構圖
軸向型2CZ5806產品兩端設計為引線安裝方式,為我公司成熟玻鈍整流二極管結構,設計上采用玻璃體包封,兩端鉬引線對向燒焊,具有較強的抗機械應力及密封性。但不具備表貼安裝能力。
U型封裝2CZ5806U產品的設計結構圖。根據2CZ5806U型封裝產品的實際使用需要,我公司設計了安裝銅電極片的U型封裝結構。

圖2 2CZ5806U產品結構圖
該結構具有以下幾方面的優點:
具備表貼安裝能力。兩側銅電極片的安裝,使產品具備了在PCB板上進行表貼安裝的能力,適應目前波峰回流焊工藝流水線生產需求。
質量可靠性。在原2CZ5806封裝的基礎上,進行工藝設計,延續了原產品的質量可靠性。
經濟性。在投入資金最小的情況下,完成U型封裝要求,即利用了原有的工藝流水線,同時滿足了U型產品的開發需求。
在流程設計上,采用在軸向產品基礎上,安裝銅電極片的工藝路線,實現U型封裝結構的工藝流程,其中,難點工序為采用何種工藝完成銅電極片的安裝,在進行方案設計時,我們設計了以下幾種方案:
通過應用U型片與引線間電阻值差的方法,采用電阻焊工藝實現U型片焊接的工藝研發方案;實現U型片焊接的工藝研發方案;通過激光環焊方式,實現U型片焊接的工藝研發方案。
針對采用電阻焊工藝實現U型封裝的工藝研發方案。根據2CZ5806型產品外形,結合我公司U型封裝片尺寸工藝,研發過程中設計了以下工裝夾具,進行產品U型封裝試驗,具體如下圖:
引線和U型電極片用可伐或鐵鎳材料,采用電阻焊的方式進行連接。
(1)方案一:設計電極A、電極B,由人為施加向外拉力,利用可伐引線與銅電極片之間的電阻差,在瞬間大電流的作用下,使引線與U型銅連接片的接觸面之間形成熔融層,完成焊接。
(2)方案二:設計電極A、電極B,由人為施加向外拉力,利用可伐引線與銅電極片之間的電阻差,在瞬間大電流的作用下,使引線與U型銅連接片的接觸面之間形成熔融層,此次調整電極片內孔孔型,由柱形調整為梯形結構,以加大接觸面電流密度,最終快速形成焊接面。
(3)方案三:設計電極A、電極B,減小產品可伐引線墩頭厚度,增加單位電流密度,由人為施加向外拉力,利用可伐引線與銅電極片之間的電阻差,在瞬間大電流的作用下,使引線與U型銅連接片的接觸面之間形成熔融層,最終快速形成焊接面。
(4)方案四:重新設計焊接夾具,將產品引線做預處理,留下一部分引線端頭用于焊接,將向外的拉力改為向內的壓力,通過電極端A、B施加瞬間大電流,以形成焊接面。
在實際試驗過程中出現以下問題:方案一、二、三最終均由于電極片散熱,流經引線與電極間的電流集中發熱于引線部分,導致焊接面未形成有效熔融,最終將引線熔斷。方案四,調整產品焊接電流至焊接面形成焊接層,在電流的作用下熱瞬間導入產品內部,由于U型封裝產品整體尺寸要求,玻璃體距離U型焊片距離僅為1mm左右,導致產品外層玻璃體崩裂、芯片燒毀。
由于上面幾種方案在實施過程中均出現不同情況的問題,于是研發過程中排除使用電阻焊方法實現U型玻封產品的方案。
針對添加焊料層的方式,實現U型片焊接的工藝研發方案。根據2CZ5806型產品外形,結合U型封裝片尺寸工藝,研發過程中設計了以下焊接用工裝夾具,進行產品U型封裝試驗,具體見圖。

根據該圖紙設計,研發過程中分別用焊膏、焊錫絲、焊片進行填充試驗,試驗結果為:使用PbSnAg焊膏進行焊接,焊接后由于焊膏揮發作用,導致玻璃體整體發黑,且難以有效去除;使用PbSnAg焊錫絲進行焊接,由于焊錫絲難以安裝,導致在焊接后,焊錫不能很好的導入焊接孔內,引起產品局部虛焊;使用預加工PbSnAg焊片進行焊接,由于焊片預先安裝于產品與焊片之間,在焊接后,由于焊料與Cu之間的浸潤力作用,焊料較好的浸潤入焊孔,焊接效果良好;添加焊料層的工藝方式,有較好的工藝適應性,適合工業化生產使用。
綜合以上情況下,決定保留添加焊料層的工藝研發路線,以最終對比確定此次U型產品封裝路線。
后期,為了進一步提高產品焊接面的可靠性,選用了中溫AuGe焊料做為U型封裝焊接材料,進行產品U型工藝封裝。
采用激光環焊方式,實現U型片焊接的工藝研發方案。根據2CZ5806型產品外形,結合U型封裝片尺寸工藝,研發過程中設計直接使用工業用激光焊接設備,對產品U型電極片進行焊接,結果如下:焊接過程中由于激光環焊熱量過于集中且焊接時間較長,導致產品芯片由于高溫作用燒毀,玻璃體融化變形;銅引線與U型片焊接面出現凹坑,U型片變形,嚴重影響焊接質量。
由于以上原因,在分析論證后,排除了使用激光環焊實現U型片的封裝方案。
經過對以上三個實施方案進行評估,評估結論為:采用添加焊料層的方式,實現U型片焊接的工藝研發方案。該方案具有以下優點:
該方案在低于660℃的環境溫度中對U型片進行封裝,不會影響產品玻璃體及芯片整體性能,保證了產品電特性參數及鈍化玻璃質量;方案同時具有較好的工藝適應性,不需對半成品進行較為復雜的預處理,具備工業化批量生產的能力。
軸向玻璃鈍化封裝二極管,由于其具有30年以上的軍方使用歷史,在此基礎上,研發U型封裝,可部分延續軸向實體封裝的工藝路線,產品具有較高的參數可靠性。
U型產品可靠性性能試驗情況。提供2CZ5806U型產品,送廣州5所進行質量可靠性驗證試驗,試驗一次通過;提供5只結構分析樣管,送航天五院結構分析中心,進行產品結構分析試驗,分析結論為宇航級適用。


試驗方案。抽樣數量:22只試驗溫度:150℃±3℃拉力:相當于6磅重量的拉力時間:30min
試驗方法:對產品電極片施加相當于6磅重量的拉力,然后放入150℃的烘箱中停留30min。試驗前后對產品基本電參數進行測試。
試驗合格標準。試驗后產品電極片外觀完好無損;試驗后產品電參數合格。
試驗情況。試驗前后產品電參數測試情況見表1:
試驗后對產品進行外觀檢查,產品電極片完好無損,未出現任何損壞或脫落的現象。
試驗結論:從試驗情況來看,該產品完全能夠經受高溫150℃±3℃下的熱應力試驗,結構可靠。
玻璃鈍化U型封裝表貼二極管的開發成功,彌補了玻鈍系列二極管無表貼產品選型的空白,延續了玻璃鈍化二極管產品的生命周期,同時該產品具備較強的機械強度及密封性,可原位替代軸向玻鈍二極管、玻殼系列二極管產品,市場前景廣泛。
(作者單位:中國振華集團永光電子有限公司)