一種光信號處理芯片測試技術研究

（中國電子科技集團公司第58研究所，江蘇無錫 214035）

一種光信號處理芯片測試技術研究

張鵬輝

（中國電子科技集團公司第58研究所，江蘇無錫 214035）

介紹了一種光信號處理芯片的測試技術，該芯片通常用于紅外接收系統中，對接收到的光信號進行處理后發送到系統的數字芯片中。測試時需要輸入ASK調制信號，文中通過單片機產生測試信號以取代信號發生器，有效節約了成本。該芯片內部有放大器、帶通濾波器、比較器等部分，重點介紹了功能部分和帶通濾波器參數的測試，包括產生測試信號的方法，如何對單片機產生的信號進行處理，以及帶通濾波器中心頻率的測試和修調方法。

光信號處理；紅外接收；測試；ASK調制信號

1 引言

光信號處理芯片（下文簡稱為芯片或被測芯片）大量用于消費電子產品中，該芯片在測試時需要外部輸入ASK調制信號，市場上常見的模擬電路測試系統普遍沒有輸出ASK調制信號的能力。過去普遍使用外置信號發生器輔助測試系統進行測試，這種方式不可編程，應用靈活性較差，而且增加了測試成本，占用測試機臺的空間，同時新增的電源線、信號線等線路也不利于現場6S管理。本文介紹了一種低成本的光信號處理芯片測試技術，利用單片機設計一套ASK信號源集成進測試板，可以有效避免上述問題。

2 芯片概述

被測芯片也稱為紅外遙控接收芯片[1]，在紅外接收系統中，接收到的紅外光信號經過光電二極管轉化成與輸入相關的電流信號后傳到被測芯片中，芯片將接收到的電流信號經過電流-電壓轉換器轉換成電壓信號，再經過可變增益放大器放大，然后經過帶通濾波器、遲滯比較器和包絡檢測電路將輸入信號轉變成后級需要的電平信號。……