眼軸長測量儀原理及使用注意事項

文/陶會榮

眼軸長測量儀原理及使用注意事項

文/陶會榮

1 眼軸測量在不同領域的應用

眼軸長測量儀是一種測量儀器，可以測定眼軸長度、前房深度、角膜曲率半徑等參數，這些參數在驗光配鏡以及醫院的白內障手術等方面均有重要的應用價值。

1.1 在驗光配鏡中的應用

目前在眼鏡店，我們通常不能做眼軸測量，因此，眼軸長測量儀是未來高端驗光配鏡的一種必備儀器。通過眼軸測量可以幫助驗光師大致分析出近視形成的原因是軸長還是調節因素。若再結合角膜曲率值，基本上可以分析出近視眼的性質。比如，如果眼軸測量結果超過正常值24mm，可進一步詢問顧客是否有不良用眼習慣，是否有偏食，是否有不合理配鏡史等等，從而幫助顧客分析防治對策。如果晶體測量結果較厚，在4mm以上，則考慮被檢查者是否處于緊張狀態，在配鏡過程中就應該注意其是否存在假性近視成分，可以采取相應的視功能訓練處理，或是采取少量欠矯的方法。

1.2 在白內障方面的臨床應用

白內障手術中所用的人工晶體，其度數計算參數便用到眼軸長測量儀測得的結果。目前，市面上較先進的眼軸長測量儀器包括蔡司、漢斯、拓普康、尼德克等幾個品牌。其中以尼德克的光干涉式眼軸長測量儀為例，它不僅會根據短眼軸或長眼軸自動選擇所需使用的人工晶體度數計算公式，對于做過LASIK（準分子激光原位角膜磨鑲術）等屈光矯正手術的患者，還能運用Camellin-Calossi公式計算其眼睛的人工晶體度數。此外，其測量光波長為830mm，可測眼軸長為40mm，可測角膜曲率半徑為5～13mm，因此其優良的技術性能在一定程度上對白內障人工晶體方面的臨床應用提供了很大便利。

2 眼軸長測量方法原理

目前用來測量眼軸的方法主要有接觸式的A超測量法和非接觸式的光學測量法。以下為兩種測量方法原理。

2.1 A超測量法

A型超聲儀的基本工作原理是根據超聲波在不同組織里的聲速進行換算而得到的眼軸長度。超聲波在角膜頂點處垂直射入眼睛，依次經過角膜、晶狀體前囊、晶狀體后囊以及視網膜，通過聲速換算便能得到各自的長度以及眼軸總的長度。其測量精度可以達到100～120um。2.2 光學測量法

非接觸式的光學測量法是基于光干涉原理。在光學系統中用棱鏡分光器將紅外激光分成兩束平行光同時射入眼球，這兩束平行光分別在角膜表面和視網膜色素上皮層產生反射光，干涉光的位置由光電傳感器獲得，從而測量得到角膜表面與視網膜色素上皮的光學距離，再結合眼球屈光介質的平均折射率就能計算出眼軸長度。

由于光學測量法不接觸角膜，所以有以下優點：

a. 測量精度高于A超法；

b. 光學法測量的眼軸長度比用A超法測量的略長；

c. 由于不需要接觸角膜，不會受到不同操作者對探頭接觸角膜時的用力不同所影響，大大減少了人為誤差，因此，不同操作者測得的數值差距不會太大。

2.5 GO、KEGG富集分析及GSEA 為了解樞紐模塊可能功能，對樞紐模塊中基因進行GO富集及KEGG通路分析。GO富集顯示模塊中基因主要富集于有絲分裂核分裂、細胞周期相變、染色體分離等生物過程(圖6A)；KEGG通路分析顯示這些基因最顯著富集于細胞周期通路(圖6B)。為進一步了解樞紐基因作用，使用測試集GSE73731數據進行GSEA，結果顯示各樞紐基因高表達組均富集到的基因組有17個，包括“KEGG_CELL_CYCLE”“KEGG_DNA_REPLICATION”“KEGG_MISMATCH_REPAIR”“KEGG_HOMOLOGOUS_RECOMBINATION”等。

當然，即便光學測量法有眾多優點，但有些情況下還是要用A超法。比如，當所要測量的眼睛存在白內障時，光學測量法有可能無法檢測到眼底反射的光。這種情況下無法使用光學法測量眼軸長度，而是需要使用A超法來測量眼軸長度。

此外，目前較優秀的光學測量儀器還能測量角膜曲率半徑、角膜水平直徑、前房深度、中心角膜厚度、瞳孔尺寸等參數，使得對眼睛的分析更加全面、準確，這些參數都是如何測量的呢？光學測量法測量角膜曲率半徑（屈光力）和最陡最扁經線方向的原理是使用光監測器檢測患者角膜上投射的環形圖像并計算圖像值。前房深度和中心角膜厚度是利用了Scheimpflug原理。角膜水平直徑和瞳孔尺寸是根據所拍眼前節圖像測量得到。根據以上這些參數即可通過人工晶體計算公式得到人工晶體度數，較常用的有8種公式：SRK、SRKII、SRK/T、Binkhorst、Hoffer Q、Holladay、Camellin-Calossi和Haigis。

綜上所述，為保證測量結果的準確性以及達到臨床應用目的，應綜合考慮設備和患者兩方面因素，合理選擇測量儀器和方法。

3 使用注意事項

3.1 安全使用光源

雖然基于光學測量法的眼軸長測量儀中光學系統目視LED和SLD是安全的，但使用此類設備時仍然建議遵守以下注意事項：

a. 盡量避免將LED 和 SLD光線直射人眼；

b. 觀察時，不要目視物鏡太久。

對于有觸摸屏的設備，應保持觸摸屏遠離過多紫外線的照射或避免陽光直射。

3.3 設備安裝位置

設備應安裝在遠離強電磁波的場所，為了獲得準確的測量值，應將設備與其它產生強電磁波的設備安裝在同一房間時，測量前，應關閉另一個設備的電源。

3.4 探頭使用注意事項

a. 每位患者使用后，為避免導致患者角膜發炎，應對探頭尖進行消毒；

b. 探頭使用完畢后，為避免損壞，應戴上防護罩，妥善保存。

3.5 設備保潔

用軟布清洗設備外殼，對于頑固污跡，應浸沾中性清潔劑后再擦拭，然后使用干燥軟布再將設備擦干。o

作者單位：天津市職業大學眼視光工程學院