輕型顱腦損傷電生理研究及其在臨床法醫學上的應用

唐國棟

（莒縣中醫醫院，山東日照 276500）

輕型顱腦損傷指的主要是單純型的腦震蕩，它是臨床上常見的腦外傷類型。臨床上多認為它是傷后出現的短暫性腦功能障礙。但如何對患者腦功能損害程度進行確認，在現今的臨床醫學上還無確切指標[1-2]，結果如下。

1 資料與方法

1.1 一般資料

將2015年2月—2017年2月本院收治的輕型顱腦損傷患者57例納入本次研究，為實驗組。將同時期來醫院進行健康體檢對象57例納入本次研究，為對照組。對照組男女分別為28和29例，年齡18～62歲，平均年齡（32.65±2.14）歲。實驗組男女分別為29和28例，年齡19～63歲，平均年齡（33.24±2.10）歲。經比較，兩組研究對象的一般資料經組間比較無明顯差異（P＞0.05），不具有統計學意義。

1.2 方法

（1）ABR測試

利用Nicolet Compact Four 電生理記錄儀做實驗所用的描記系統，TDH-39耳機選定80 BHL Click聲展開刺激，頻率設置20次/s，疊加1 000次后，分析20 ms，帶通濾波選定為1000 HZ，患者靜臥隔音室開展ABR描記。

（2）VEP測試

利用Nicolet Compact Four 電生理記錄儀做實驗所用的描記系統，由LED進行閃光刺激，光源設定為高亮度3×5模式紅光，頻率設置為1.9次/min，疊加100次，分析250 ms，帶通濾波設置為80 HZ，雙眼交替進行測試。

（3）BEAM測試

利用腦電圖儀作為描記系統，與信號處理機連接。電極按導聯10/20系統法放置[5]。高頻濾波30 HZ，時間常數0.3，患者實施3 min過度換氣后，有10 s清醒時間后進行描記采樣。

1.3 診斷標準

上述開展的測試工作都按照對照組納入的正常人檢測值為標準，異常標準選用指標如下：（1）ABR：各主波潛伏期（PL）及峰間潛伏期（IPL）＞-2.5 s；同耳波幅V＜0.5，雙耳波V振幅差異率＞50%，各波消失或波形都已經恢復正常。（2）LEDVEP：各波潛伏期＞ +2.6 s，波幅＜ -2 s。（3）BEAM：δ、θ平均功率均＞2.5 s。

2 結果

由表1可知，Ⅰ-ⅢIPL組間差異比較明顯，提示Ⅰ-ⅢIPL延長是MHI患者中最常出現的ABR異常。據此認為，MHI排除了患者聽覺系統病損壞外可能出現的所有ABR異常，也就是可以確切反應腦干出現的損傷，見表1。

表1 MHI患者ABR潛伏期與正常人比較（x±s）

3 討論與結論

本次研究的開展是以臨床診斷為主要依據，通過誘發腦電與自發腦電相結合方式，對患者進行早期檢測及三個月之后的追蹤檢測。并根據此項結果提出了關于MH1腦功能性損傷程度的電生理分級標準。0級-頭外傷后早期ABR、LED-VEP、BEAM檢測正常，三個月后對患者ABR及BEAM進行復查，發現各項指標都恢復正常，提示患者的腦功能狀態已經恢復正常。Ⅰ級-頭外傷后早期檢測三項中發現其中一項出現異常，三個月后對患者進行復查，發現ABR及BEAM均正常，提示患者腦功能已經恢復正常。根據本次研究得出的結果，建議在對這類患者進行的法醫鑒定中，將分級標準中的0-Ⅰ級設定為輕微傷，將Ⅱ級設定為輕傷。綜上所述，通過對MHI電生理變化特征進行了揭示，有助于臨床上對患者的診斷以及對患者開展的預后判斷，并以此為法醫評定這類損傷提供具體依據。

[1] 秦燕，周順科，劉軍.多種MRI技術在輕型顱腦損傷中的應用研究進展 [J]. 磁共振成像，2015，603：235-240.

[2] 李晉，左超，劉云陽，等.磁共振擴散張量成像對輕型顱腦損傷患者評價的臨床應用[J].磁共振成像，2015，604：271-276.