溫度對陣列感應成像測井儀的影響與校正

王生煥，黃學平

（杭州豐禾石油科技有限公司，浙江杭州 310030）

溫度對陣列感應成像測井儀的影響與校正

王生煥，黃學平

（杭州豐禾石油科技有限公司，浙江杭州 310030）

針對溫度對陣列感應成像測井儀的影響與校正進行深入研究，分析電子線路溫漂的影響和線圈系溫度形變。結合這些內容，總結了如何進行溫度測量誤差校正，并結合實際案例，分析了溫度校正。

溫度；陣列；感應成像測井儀；影響因素；校正

溫度發生變化，對于感應成像測井儀所測量的結果帶來一定影響，特別是高阻地層小信號情況下。這種情況下的溫度校正顯得尤為重要。因此，對溫度對陣列感應成像測井儀的影響以及校正方式進行分析意義深遠。

1 電子線路溫漂的影響

若處于高溫條件下，半導體器件和相應集成電路原有性能可能會出現相應改變，還有可能會出現失效情況。這對著一問題，就會對半導體器件運行的穩定性和負荷造成不良影響，隨著溫度的提升，電容會逐漸提升，也促使容量的穩定性被降低。此外，損耗所具備的系數會發生一定變化，如果半導體中絕緣電阻出現下降情況，會促使其耐壓特征發生改變，主要保險為耐壓能力下降。站在變壓器以及電感線圈角度進行分析，兩者受到的影響主要是絕緣電阻逐漸下降，其存在的特性參數也發生一定變化。

在陣列感應測井當中，對信號進行接收時，信號比較微弱，出現的伏值可能是在微伏值甚至納伏級別，針對這一問題而言，可以看出，若處于高溫情況下，所測量的電路有可能會發生變化，從而影響了測量結果。……