納米材料粒度測試方法及標準化

汪瑞俊

（池州市產品質量監督檢驗所，安徽池州 247000）

當材料的粒度大小達到納米尺度時，將具有傳統微米級尺度材料所不具備的小尺寸效應、量子尺寸效應、表面效應等諸多特性，這些特異效應將為新材料的開發應用提供嶄新思路。目前，納米材料已成為材料研發以及產業化最基本的構成部分，其中納米材料的粒度則是其最重要的表征參數之一[1]。納米材料的粒度測量方法有很多，主要分為基于圖像測量的電鏡觀察法[2]、基于光子相關譜模型的動態光散射法[3]、XRD線寬法[4]、X射線小角散射法[5]、拉曼光譜法[6]、高頻率超聲衰減譜法[7]等。

由于電子束、光束、X-射線與納米顆粒的相互作用不同，造成的測量結果亦有顯著性的差異。檢測方法標準作為規范性文件可確保同一樣品在同種測量方法下的結果可重復性和再現性，因而根據待測樣品選擇合理的檢測標準可為試驗操作人員提供一定的參考和指導意義。本文根據不同的測試原理綜述了上述幾種納米材料粒度分析方法的適用范圍及參考標準，并比較了不同粒度分析方法的特點。

1 納米粒度分析測試方法

1.1 電鏡觀察法

電鏡觀察法是一種顆粒度尺寸測定的絕對方法，因而具有較好的可靠度和直觀性。電鏡觀察法分為掃描電鏡觀察法和透射電鏡觀察法。電鏡觀察法主要用于觀察納米材料的表面形貌、在基體中的分散及粒徑的測量。對于很小的顆粒粒徑，特別是僅由幾個原子組成的團簇，則采用掃描隧道電鏡進行測量。……