艾雪梅 朱秀麗 張瑩 馬偉虎 張亞平(通訊作者)
050051河北醫(yī)科大學第三醫(yī)院兒科1
050051河北醫(yī)科大學第四醫(yī)院兒科2
熱性驚厥是3個月~5歲兒童發(fā)生驚厥事件最常見的原因,也是兒科最常見的急癥之一。我國兒童的發(fā)病率2%~5%,18~22個月為發(fā)病高發(fā)期。熱性驚厥預后良好,但6歲以前發(fā)病率高、復發(fā)率也高,首次發(fā)作后約1/3的兒童有再發(fā)風險,伴有高危因素的復發(fā)率更高,可達75%[1-2]。如果不能給予患兒及時有效的對癥處理,有可能會引起不同程度的腦損傷,進而影響長期預后[3]。腦電圖是臨床診斷腦細胞異常放電的有效方法,可用作熱性驚厥疾病的監(jiān)測手段,具有高度的臨床價值,報告如下。
2014年10月-2017年10月收治小兒熱性驚厥患者287例。納入標準:發(fā)熱原因排除中樞神經(jīng)系統(tǒng)感染及其他導致驚厥的器質(zhì)性疾病和代謝性疾病,患兒均行腦電圖檢測,且患兒家屬對研究知情同意,經(jīng)醫(yī)院倫理委員會研究通過。根據(jù)檢測結(jié)果分為正常組和異常組。正常組男103例,女92例;年齡1~9歲,<3歲27例,≥3歲168例;體溫37.5~42℃,<38.5℃ 20例,≥38.5℃175例;首次發(fā)作177例,有家族史30例;持續(xù)時間2~16 min。異常組男48例,女44例,年齡1~8歲,<3歲41例,≥3歲51例;體溫37.5~41℃,<38.5℃32例,≥38.5℃60例;首次發(fā)作55例,有家族史28例;持續(xù)時間2~18 min。
方法:采用動態(tài)腦電監(jiān)測儀,電極安置參考國際10/20系統(tǒng),固定電極后,套上醫(yī)用網(wǎng)狀頭套,交代注意事項,并記錄項目。設定高頻率波60 Hz,時間常數(shù)0.3 s,紙速30 mm/s,靈敏度1 mm=10μV,監(jiān)測時間18~24 h,將腦電信號回收后,結(jié)合患兒的基礎資料加以分析。

表1 兩組患兒基礎資料比較[例(%)]

表2 腦電圖改變與患兒基礎資料的相關性分析
統(tǒng)計學方法:采用SPSS19.0軟件行統(tǒng)計學分析,計量資料用t檢驗,計數(shù)資料用χ2檢驗,相關性用Pearson相關性分析,以P<0.05為差異有統(tǒng)計學意義。
兩組患兒腦電圖檢測結(jié)果分析:腦電圖正常195例,腦電圖異常92例,腦電圖異常率32.1%。
兩組患兒基礎資料比較:異常組年齡≥3歲患兒比例、體溫≥38.5℃患兒比例、首次發(fā)作患兒比例、無家族史患兒比例均低于正常組(P<0.05)。異常組持續(xù)時間長于正常組(P<0.05),見表1。
腦電圖改變與患兒基礎資料的相關性分析:腦電圖改變與年齡、體溫呈負相關性(P<0.05)。腦電圖改變與發(fā)作次數(shù)、家族史、持續(xù)時間呈正相關性(P<0.05),見表2。
腦電圖與熱性驚厥的關系是非常復雜多變的。多數(shù)學者認為熱性驚厥患兒不需要進行腦電圖檢查,但有癲癇高危風險的熱性驚厥患兒哪怕是首次發(fā)作后,2周后還是建議進行腦電圖檢查[4]。隨著熱性驚厥次數(shù)增加,腦電圖異常率隨之增加,首次熱性驚厥腦電圖異常率約12%,再次熱性驚厥則21%,再發(fā)3次以上可高達35%~53%。腦電圖異常率與年齡有關,年齡越大異常率越高,<3歲21%,而>3歲則升至56%。此外,單純性熱性驚厥腦電圖異常率約10%~20%,而復雜性熱性驚厥則增至31%[5]。患兒的年齡越大,身體功能的發(fā)育越完善,調(diào)節(jié)體溫的能力越強,熱性驚厥的發(fā)生風險越低。在較低體溫發(fā)生熱性驚厥的患兒中,提示機體對體溫的調(diào)節(jié)能力較差,更易發(fā)生熱性驚厥。發(fā)作次數(shù)越多,熱性驚厥的誘發(fā)閾值也會降低,會增加發(fā)病風險。具有家族史的患者,熱性驚厥的風險更高。由于熱性驚厥的持續(xù)時間較長,耗氧量會顯著增加,將導致腦組織缺血性改變,這是造成腦損傷的主要原因。因而認為,腦電圖適用于小兒熱性驚厥診治,具有高度的臨床價值,值得臨床推廣使用。但此次研究的樣本量及變量較少,需要進一步擴大樣本量后,再進行研究。