楊哲銘
(黑龍江大學 黑龍江 150080)
隨著計算機科技不斷進步,集成電路設計技術飛速發展,要在單個芯片集成更多晶體管數目,隨著集成度要求不斷提高,面積及功耗等方面的性能,二維電路需要提高。傳遞器件層信號,采用硅通孔實現垂直互聯,將器件層進行三維集成電路芯片受到重視。三維芯片可降低互聯線功耗,提高芯片處理速度,具有信號延遲小,走線短等特點。可通過三維芯片減少芯片面積。芯片內部器件產生熱量增大。如何合理處理散熱是設計三維芯片需要考慮的問題。
隨著半導體產業發展,傳統集成電路面臨挑戰。SMOS晶體管趨近物理極限,互連線延遲等問題隨著工作頻率升高嚴重,硅通孔三維集成技術應運而生。硅通孔可提高芯片集成度,但面臨信號完整性等問題,為提高硅通孔性能,學界從襯底等方面改進傳統互連技術,如何設計新型互連結構是當前關注的重點。
硅通孔是穿過硅襯底垂直互連,由于硅襯底為半導體,需在導體周圍引入地緣層防止漏電流,為防止銅硅通孔銅原子擴散,需在絕緣層間加超薄阻擋金屬。硅通孔電學特性對三維集成電路性能影響很大,通常采用等效電路建模方法進行研究。韓國科技研究所提出硅通孔對高頻可擴展電路模型,在20GHz范圍內準確。德國柏林科技大學Ndip教授分析準TEM時,硅通孔在高中低阻硅中電學性能。比利時學者Katti等人研究溫度變化對硅通孔寄生電容影響。隨著工作頻率提高,三維集成電路易出現信號完整性等問題。圣地亞哥大學研究團根據多導體傳輸線模型,對硅通孔矩陣列中出串擾效應研究。
芯片尺寸縮小導致功耗劇增,自熱及其他電磁脈沖影響使溫度升高,引發散熱問題。構成硅通孔材料膨脹系數不匹配,可能引發硅通孔形變。佐治亞理工大教授團隊建立高密度硅通孔陣列電熱模型。美國學者Bakir教授等通過芯片刻蝕得到微通道,人們提出用導熱硅通孔將熱量傳導到底部熱沉積的方法散熱。學界研究不同的方法改進傳統硅通孔技術,通常從填充部分與襯底方面入手。
硅通孔是硅片制作垂直方向通孔,在內部填充導電物質,實現不同硅層互連,使用硅通孔制作三維芯片可在垂直方向堆疊較多硅層,能獲得較短的互連線長度,提高芯片速度。使用硅通孔對硅層基層,粘合層位于硅層中間,硅層位于粘合層上下面,硅層互聯利用穿過粘合層硅通孔實現[1]。
制作硅通孔工藝包括使用離子反應刻蝕通孔。使用等離子體增強化學相沉積工藝積淀絕緣層。使用化學電鍍工藝在硅通孔中填充金屬銅。使用物理氣相沉積等方法淀積金屬粘附層。使用化學機械拋光等工藝對硅層減薄處理。制作硅通孔所用材料與用于制作金屬互連線相同,為對三維芯片散熱,芯片制作專門散熱硅通孔。硅通孔長度對三維芯片散熱性能有重要影響。
通過實驗說明硅通孔長度對三維芯片熱效應影響。設四周為絕熱便捷,粘合層地面為等溫平面,硅層厚度hsi=50μm,TSV直徑d=2μm,粘合層和TSV熱導率為Ksi=150W/(m·k),Ktsv=400W/(m·K),加載熱量Q=10-4W。含有整根TSV與含有1段TSV等對應芯片表面溫度分布,峰值溫度為33.148℃,22.909℃[2]。
實驗說明采用整根TSV可使芯片溫度降低,峰值溫度降到22.869℃,使用粘合層中TSV可降低峰值溫度,降低幅度為10.239℃,對使用粘合層中TSV情況,由于粘合層中支座TSV,比芯片中制作TSV成本少,使峰值溫度降低。峰值溫度降低幅度說明粘合層中部分TSV降溫中起到積極的作用,一些情況下起到主要作用,原因是粘合層熱阻大熱導率低。三維芯片中制作專用于散熱TSV,在三維芯片中設計粘合層用于散熱TSV,可降低TSV制造成本,芯片中期間分布在硅層中,不影響芯片內期間層信號線互連。
研究使用碳納米材料做粘合層制作TSV材料。碳納米管具有橫向導熱率小特點,粘合層中TSV材料替換為碳納米管,芯片散熱通道熱阻變小,對八個硅層芯片實驗,芯片面積為S=12mm×12mm,粘合層導熱率為0.1W/m·K,TSV熱導率為400W/(m·K),硅層厚度為50μm,芯片熱沉為Rhs=3K/W,硅層熱量為5W。芯片中含有TSV,TSV執行用p表示,TSV直徑小時芯片層溫度低,說明TSV導熱性強。隨著TSV直徑增大,TSV導熱能力增加緩慢,針對大面積大小確定芯片,可根據實驗結果選取最優TSV執行,TSV導熱能力不再明顯增加,TSV直徑最優。
三維集成電路相比傳統二維集成具有提高系統性能,降低功耗,縮小芯片尺寸等優勢,得到廣泛的應用,硅通孔互連是三維集成的關鍵技術,面臨尺寸縮小導致信號延遲,電源傳輸中電壓下降,電熱力耦合響應等問題。研究人員從絕緣層,填充部分與襯底方面著手改進傳統技術,玻璃通孔絕緣層硅通孔呈現顯著電學性能,碳納米管填充硅通孔可靠性方面具有明顯優勢。硅通孔三維芯片信號互連等方面起到重要的作用,本文說明硅通孔長度對散熱效應的影響,使用碳納米管為硅通孔材料,可提高芯片散熱能力。