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航空線纜用XETFE絕緣材料的活化能研究

2020-03-16 10:22:24
合成材料老化與應用 2020年1期

(1中廣核三角洲(太倉)檢測技術有限公司,江蘇蘇州 215400;2 國家能源核非金屬材料老化壽命與管理技術實驗室,江蘇蘇州 215400)

輻照交聯乙烯-四氟乙烯共聚物(XETFE)是在乙烯-四氟乙烯(ETFE)中加入助劑,經過輻照交聯得到的高性能絕緣材料。XETFE絕緣材料具有優(yōu)異的絕緣性能,電阻率高,同時有很好的耐開裂、耐老化、耐輻照和耐熱性,在國防、核電站、汽車、深海、航空航天等特殊環(huán)境下有廣泛應用。除了以上特異優(yōu)點,該材料制成的電線電纜還具有外徑小、質量輕等優(yōu)點,因此在航空航天領域備受關注并且廣泛應用,是航空領域主要線種之一[1-2]。一般常用電線電纜材料,最基礎的機械性能和電氣性能是必備要求,但是作為航空線纜電纜,需要具備耐輻照、耐磨、耐高溫以及耐環(huán)境性能等特性,還需要滿足耐燃料油、耐潤滑油及其他化學溶劑等特殊性能,XETFE材料的研究與使用很大程度上推動了航空線纜領域的快速發(fā)展,隨著研究技術的不斷深入和提高,滿足航空航天線纜需求的材料性能也越來越優(yōu)異[3]。航空航天用線纜是飛機內動力電源、控制信號以及數據信息傳遞的主要部件,連接飛機內的電氣和控制系統[4]。運行良好的線纜可以保證飛機各個部件的安全穩(wěn)定運行,是最基礎也是最重要的部件。然而線纜在長期惡劣環(huán)境的服役狀態(tài)下會發(fā)生物理和化學老化,飛機的部件老化對于航空航天界的安全具有很大的隱患,因此,建立一種方便可行的方法來評估航空線纜的絕緣狀態(tài),研究航空航天用線纜的性能與老化狀態(tài)具有很重要的意義[5]。對于電纜絕緣材料來說,其壽命主要由三個基本因素構成:(1)聚合物本身結構:最基本的聚合物以及共聚物和添加劑;(2)聚合物的儲存和運行環(huán)境條件:不同成分配制的材料活化能、熱老化速率和輻照耐受劑量,敷設位置和運行環(huán)境等;(3)工作時間:電纜長期運行工況等。材料的老化主要表現在以下方面:(1)斷裂伸長率和拉伸強度下降;(2)硬度或彈性模量上升;(3)介質損耗上升,介電強度下降等。一般情況下,機械性能對電纜的失效影響最大[6-7]。

目前,航空線纜主要采用含氟塑料和聚酰亞胺作為主要絕緣材料,其中含氟塑料應用最多的是PTFE、PFA、FEP等材料,但是隨著航空技術的發(fā)展,對材料的性能要求越來越高,傳統的含氟塑料等已經難以滿足其要求[8-10]。大量研究及文獻資料報道表明,聚合物材料的使用壽命與其活化能密切相關。因此,本實驗重點對輻照交聯乙烯-四氟乙烯共聚物絕緣材料活化能進行研究。

1 實驗部分

1.1主要原料及儀器

航空線纜用輻照交聯乙烯-四氟乙烯共聚物,中廣核高新核材(蘇州)科技限公司;萬能材料測試儀,EM-A型,東莞海達儀器有限公司;差示量熱掃描儀(DSC),Q2000,美國TA公司生產;熱重分析儀(TGA),TG209F1 型,德國耐馳儀器制造有限公司;老化箱,DHG-9070A,江蘇無錫四聯科技有限公司。

1.2 實驗過程與測試方法

1.2.1 非等溫氧化誘導測試

將航空線纜用輻照交聯乙烯-四氟乙烯共聚物做成1mm厚的片材,進行測試。其中,取直徑為2.5mm的圓形樣品做DSC氧化誘導測試(純氧氣氛圍中),樣品首先采用氮氣室溫下吹掃5min,然后切換氧氣進行升溫測試,升溫速率分別為5℃/min、10℃/min、15℃/min和20℃/min。

1.2.2 TGA熱失重測試

將航空線纜用輻照交聯乙烯-四氟乙烯共聚物的樣品,在氮氣的氣氛下,分別以5℃/min、10℃/min、15℃/min、20℃/min的升溫速率升溫到600℃進行測試,記錄不同升溫速率下特定分解失重率的分解溫度。

1.2.3 斷裂伸長率測試

將1mm的樣片根據需要裁成啞鈴型樣條,進行不同溫度不同時間的熱老化試驗,采用斷裂伸長率法推算材料的活化能,參照標準為IEC 60216-1:2013。啞鈴型試樣在( 23±5) ℃下存放24h后,用拉力機測定試樣的拉伸性能,拉伸速率為25 mm/min,記錄試樣的斷裂伸長率。老化終點以斷裂伸長率下降50%的時間為臨界點時間。

2 結果與討論

2.1 非等溫氧化誘導分析

采用不同的升溫速率在純氧氛圍中對樣品進行氧化誘導測試,分別測試了5℃/min、10℃/min、15℃/min和20℃/min升溫速率下樣品的氧化誘導情況。所得曲線如圖1所示,從圖1中得到的氧化誘導溫度和氧化峰值列于表1。

圖1 非等溫氧化誘導溫度曲線Fig.1 Temperature curve of non-isothermal oxidation induction

表1 非等溫氧化誘導溫度數據Table.1 Temperature data of non-isothermal oxidation induction

不考慮在反應級數的情況下,通常可采用Kissiger方程[10]計算聚合物的非等溫氧化的活化能。對Kissiger方程式(1)進行推導:

圖2 ln(的線性關系Fig.2 The linear relationship betweenln

2.2 TGA熱失重分析

物質反應過程中的轉化率(α) 和溫度之間的關系可用式(4) 表示[12]:

式 (4)中: ?(α)為反應的機理函數;K(T) 為速率常數溫度關系式。在線性升溫過程中,d α /dt = 1/β × ?(α)×K(T) ,其中K(T)可用 Arrhenius方程式表示,K(T)=A×(-Ea /RT)。Ozawa-Flyn-Wall 等對上述方程進行變換,并采用 Doyle 近似式,得到:

式(5)中:β為升溫速率( ℃/min );Ea為反應活化能( J/mol );R為氣體常數(8. 314J·mol-1·K-1) ; T為特定熱分解反應程度對應的溫度(K)。

通過 TGA 測定材料在不同升溫速率下的某特定熱分解反應程度( 即特定失重率) 下的熱分解反應溫度,通過 logβ 對 1/T 作圖,對曲線進行擬合,曲線的斜率為-0.4567Ea/R,從而求得活化能 Ea。

圖3和圖4分別是XETFE在5℃/min、10℃/min、15℃/min和20℃/min的升溫速率下的TG曲線和DTG曲線。從圖3的熱失重曲線可以看出,XETFE的熱失重曲線主要分為兩段,第一段是在450℃左右的熱失重,可以理解為XEFTE材料中加工助劑小分子的分解,第二段失重率較高,對應XETFE大分子鏈的分解,這一點可以在圖4的DTG曲線得到驗證,DTG曲線分為多個峰,前一個峰對應XETFE材料中助劑的熱分解,后面的峰對應XETFE大分子鏈的分解。

圖3 XETFE在不同升溫速率下的熱失重曲線Fig.3 TG curve of XETFE heated in nitrogen at different heating rate

圖4 XETFE在不同升溫速率下的微商熱重曲線Fig.4 DTG curve of XETFE heated in nitrogen at different heating rate

表2為XETFE在不同升溫速率和失重率下對應的分解溫度。對在不同失重率下對應的分解溫度對升溫速率的對數作圖,得到了圖5,對其進行線性擬合,我們可以從其不同的分解率下的曲線斜率求得其活化能。從表3中我們計算得出,XETFE在5%失重率下的活化能為172.00 kJ/mol,擬合線性相關系數為0.9886。

表2 XETFE在不同升溫速率和失重率下的溫度Tab.2 Temperature of XETFE at different heating rates and weightlessness rates

圖5 XETFE在不同熱失重率下的logβ與(1/T)的線性關系Fig.5 The linear relationship between lgβ and(1/T)of XETFE at different weightlessness rates

表 3 XEFE在不同失重率下的活化能Table.3 Ea of XETFE at different weightlessness rates

2.3 斷裂伸長率法

按照GB/T 21223-2007規(guī)定,電纜材料的老化終點時間(到達規(guī)定老化終點所需要的時間)的對數與加速老化的絕對溫度的倒數之間呈線性關系,即存在與式(6)相似的表達式(熱壽命方程):

式(6)中x = 1/(T+273) ,y = logτ。如果確定了老化終點時間τ與加速老化溫度T,根據最小二乘法計算式(6)中的系數a和b,就可以推算出電纜樣本的剩余壽命,具體推算過程如下:

利用插入法,可計算出3個老化溫度下斷裂伸長率的50%對應的老化終點時間分別為325.9 h(270℃)、676.7 h(250℃)、1279.7 h(230℃)。

圖6 不同老化溫度下樣品斷裂伸長率的保留率Fig.6 Retention rate of sample elongation at different aging temperatures

根據圖6得到的數據,進行整理,得到了圖7所示的老化終點時間與溫度倒數的關系圖。根據x = 1/(T+273.15) 與y = logτ的線性關系,得到老化溫度與老化壽命的關系式:y=-4.67143 + 3906.34852x,擬合相關系數0.9777。

圖7 log?與(1/T)的線性關系Fig.7 The linear relationship between log? and(1/T)

電纜料的活化能Ea計算如下: Ea = b ×2.303 R = 74.80kJ/mol

3 結論與分析

分別采用非等溫氧化誘導法、斷裂伸長率法和熱失重法對航空線纜用輻照交聯乙烯-四氟乙烯(XETFE)絕緣材料進行活化能測試,分別得到對應的活化能。結果表明,非等溫氧化誘導溫度法得到的活化能為120.10kJ/mol,熱失重法得到5%失重時的活化能是172.00kJ/mol,斷裂伸長率法得到的活化能為74.80kJ/mol。

老化反應并非一級反應,反應過程中由于氧化環(huán)境、反應溫度等不同,使得采用各種模型得到的數據會有差異。同時材料在實際運行中老化溫度與測試溫度不同,基于材料的非阿倫尼烏斯效應,不同溫度下,材料的活化能不同,因此采用非等溫氧化誘導法、熱失重法和斷裂伸長率法得到的活化能不同。

(1)對于非等溫氧化誘導溫度法,純氧氣氛中氧化反應速率遠遠大于實際反應時的老化速率,而且非等溫氧化誘導沒有考慮到反應溫度的影響,因此非等溫氧化誘導測試所得的活化能較實際活化能偏小。

(2)對于熱失重分析法計算活化能,在氮氣環(huán)境下進行,沒有考慮到氧化環(huán)境,熱失重具有多段失重,說明反應比較復雜,我們分析的時候只考慮到了一段失重,因此所得的活化能比實際活化能偏大。

(3)對于斷裂伸長率法,首先材料在不同的溫度范圍內的活化能不同。其次,本實驗由于選用的加速老化溫度(230℃~270℃)過高,在高溫下,反應速率高,高溫造成分子鏈的分解,活性自由基的產生速率快,對材料的老化具有催化加速效用;同時,本實驗較低溫度(230℃)老化時間較短,導致加速老化的加速倍數過大。而材料的實際使用溫度遠低于加速老化實驗溫度,且反應緩慢、溫和,因此本實驗求得的反應活化能較實際反映的活化能偏低;

總之,這三種方法均可計算材料的活化能,非等溫氧化誘導法應考慮反映溫度的影響,熱失重法應考慮氧化環(huán)境對其老化反應的影響,斷裂伸長率法應考慮老化溫度范圍以及老化時間(加速倍率)的影響。綜合考慮,實際反應的活化能應在120.10kJ/mol和172.00kJ/mol之間。

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