熱島檢測器氣相色譜法測定Kr校準曲線的研究

馬旭媛，張 靜，李鵬翔，李 周，保 莉

(中國輻射防護研究院，太原 030006)

前 言

放射性氣體85Kr的半衰期為10.76年，在衰變中放出2個β粒子和1個γ光子，以及若干個低能量的轉換電子和X射線。其中，Eβ1=0.692 MeV,分支比為99.57%；Eβ2=0.158 MeV，分支比為0.43%；Eγ=0.514 MeV，分支比為0.43%[1]。85Kr主要來源于核武器試驗、核反應堆釋放和后處理廠流出物的排放等，其半衰期較長，在核電廠排放源項中所占比例較大，并在周圍大氣中彌散，對公眾造成輻射影響，使得對85Kr的監測重要性日益突出。核設施周邊環境中的85Kr放射性監測最大的難點，是其放射性活度濃度太低，需要對85Kr進行分離濃集后再測量。

對85Kr的分離濃集需要借助吸附劑，利用氣相色譜儀確定該過程的回收率。目前，國內使用氣相色譜儀，一般是將其并聯在分析流程中[2]，通過消耗所收集到的Kr，測定分離濃集過程中的回收率，僅作為測量裝置，對氣相色譜儀未做到最大化的利用。本實驗中，使用不會對Kr破壞性測的熱島檢測器(TCD)，可將氣相色譜儀串聯在分離濃集過程中，作為一級分離濃集裝置。利用不同組分在色譜柱中的保留時間不同，通過收集裝置對所需組分進行收集，這樣既能達到濃集Kr的效果，又能收集分離后的Kr，實現后續對85Kr的放射性測量，還能計算得到Kr在分離濃集過程中的回收率，而不是消耗所收集的Kr來進行測量。

熱島檢測器氣相色譜法測定Kr所使用的校準曲線，是為了定量確定樣品分離濃集后Kr的含量，從而計算該過程中對Kr的回收率。所收集到的Kr含量需要在……