彭 芳,鞏 勇
(上海交通大學醫學院蘇州九龍醫院兒科,江蘇蘇州 215028)
新生兒低血糖的發生與早產、巨大兒、低體質量兒、孕母糖尿病等因素有關[1]。有研究提示,在足月兒中,低血糖發生率約14%,在足月大于胎齡兒中,低血糖發生率約16%[2]。新生兒持續性低血糖可損害神經系統,不利于大腦發育。有研究發現,對頑固性低血糖病例而言,其枕葉嚴重受累,而顳葉、大腦動脈周圍組織損害相對較輕[3]。由于大腦組織葡萄糖供給未能使機體代謝需求得到滿足,可導致線粒體自由基受損,誘發大腦損傷,影響遠期聽力、視覺等功能[4]。通過積極補充葡萄糖,能緩解低血糖癥狀,使神經系統預后改善。然而,葡萄糖輸入速度的控制至關重要,若糖速控制不合理,可能引起低血糖再灌注腦損傷[5]?,F階段,臨床針對低血糖新生兒的糖速控制尚無統一標準,本研究將其納入多因素分析中,旨在觀察低血糖新生兒腦損傷的影響因素,現結果報道如下。
1.1 一般資料 回顧性分析上海交通大學醫學院蘇州九龍醫院2018年7月至2021年7月收治的100例低血糖新生兒的臨床資料,均給予葡萄糖治療。根據是否發生腦損傷分為腦損傷組(n=12)和非腦損傷組(n=88)。本研究方案獲上海交通大學醫學院蘇州九龍醫院醫學倫理委員會批準。診斷標準:血漿葡萄糖或1次全血水平低于2.2 mmol/L,即低血糖。納入標準:①血漿葡萄糖或1次全血水平低于2.2 mmol/L,即低血糖。入組時經24小時腦電圖(EEG)檢查、影像學檢查和臨床表現等排除腦損傷可能;②日齡不超過1周;③臨床資料完善。排除標準:①伴顱內出血;②合并腦積水、顱內結構異常;③肺、心等臟器受損;④伴顱內感染;⑤伴內分泌疾病;⑥伴染色體異常;⑦伴腦外傷;⑧顱腦發育見異常;⑨伴核黃疸。
1.2 治療方法 所有新生兒均根據情況給予對癥處理,包括吸氧、補液、糾正水電解質/酸堿平衡、改善微循環等?;純壕邮芷咸烟侵委?,首先取2 mL/kg 10%葡萄糖靜推,在早期葡萄糖治療達60 min后,開始進行糖速控制,糖速為2~9 mmol/(L·h)。以5 mg/(kg·min)的劑量維持靜滴,每隔20 min測定足部血糖,根據糖速控制及血糖變化調整給藥劑量。持續給藥,直至新生兒血糖恢復正常,通??稍?4 h內糾正低血糖。
1.3 觀察指標 ①腦損傷評價:記錄患兒住院期間腦損傷發生率。通過腦電圖結果、影像學檢查和臨床表現明確是否存在腦損傷。②收集患兒一般資料,包括性別、胎齡、分娩方式、體質量、新生兒窒息率、首次喂養時間、5 min Apgar評分、低血糖發生時間及糖速控制。
1.4 統計學分析 采用SPSS 26.0軟件分析數據,計量資料用()表示,行t檢驗;計數資料用[例(%)]表示,行χ2檢驗。將單因素分析中存在統計學差異的因素納入多因素分析,經Logistic回歸模型分析低血糖新生兒腦損傷發生的影響因素。P<0.05為差異有統計學意義。
2.1 兩組患者一般資料比較 100例低血糖新生兒腦損傷共12例,88例未發生腦損傷,腦損傷發生率為12.00%。腦損傷組低血糖發生時間≥24 h及糖速控制為≤ 3 mmol/(L·h)、7~9 mmol/(L·h)的患者占比高于無腦損傷組,差異有統計學意義(P<0.05),見表1。

表1 兩組患者一般資料比較
2.2 低血糖新生兒發生腦損傷影響因素的Logistic回歸分析 經Logistic回歸模型對各變量行量化賦值,見表2。結果顯示,低血糖發生≥24 h、糖速控制為≤ 3 mmol/(L·h)及 7~9 mmol/(L·h)是低血糖新生兒發生腦損傷的危險因素(P<0.05),而糖速控制為4~6 mmol/(L·h)是預防腦損傷的保護因素(P<0.05),見表3。

表2 低血糖新生兒腦損傷的危險因素分析

表3 低血糖新生兒腦損傷的多因素Logistic回歸分析
新生兒低血糖是新生兒期的常見疾病,大部分患兒通過補充葡萄糖,能取得較好治療效果,然而,部分患兒處于持續低血糖狀態,嚴重情況下可導致酸堿平衡紊亂,并引起神經毒性,促使重要系統受到損害,以大腦損傷發生率較高[6]。有研究發現,腦組織通過獲取葡萄糖,才可確保其能量代謝得以維持,低血糖患兒因血糖較低,大腦無法獲得足夠的葡萄糖,可造成大腦損傷[7]。早期給予葡萄糖,能促進低血糖改善,糾正患兒的不適癥狀,然而,糖速控制對葡萄糖治療而言至關重要。研究指出,一旦糖速控制不當,可能導致腦細胞內、外所獲得的葡萄糖濃度產生差異,引起腦損傷[8]。
本研究回顧性分析低血糖新生兒的臨床資料,觀察腦損傷的影響因素,結果提示,糖速控制為≤ 3 mmol/(L·h)及 7~9 mmol/(L·h)是低血糖新生兒發生腦損傷的危險因素,而糖速控制為4~6 mmol/(L·h)是預防腦損傷的保護因素。原因可能在于,輸糖速度過慢時,可致腦組織無法及時攝取足夠的葡萄糖,而輸糖速度過快,則可致腦細胞外部與內部的葡萄糖濃度發生較大差異,引起再灌注損害[9]。因此,醫師需將輸糖速度控制為4~6 mmol/(L·h),降低腦損傷風險。此外,結果還表明低血糖發生≥24 h是患兒發生腦損傷的危險因素之一,提示醫師還需了解患兒的低血糖持續時間,通常持續時間越長,預后越差。既往還有研究指出,新生兒窒息也與腦損傷發生有關[10]。但也有研究認為,新生兒窒息程度與腦損傷發生無關,僅窒息時長與其有關[11]。在本研究中,未見新生兒窒息與腦損傷發生存在關聯,日后將增加樣本量對此予以論證。
綜上所述,低血糖新生兒經葡萄糖治療時,輸糖速度控制為4~6 mmol/(L·h)最佳,能降低腦損傷風險,且低血糖發生≥24 h、糖速控制為 3 mmol/(L·h)及 7~9 mmol/(L·h)可導致腦損傷發生風險增加。