淺析如何通過(guò)專利分析提高專利檢索能力

龐爾江

國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局專利局專利審查協(xié)作天津中心，天津 300304

0 前言

專利法第二十二條規(guī)定：授予專利權(quán)的發(fā)明和實(shí)用新型，應(yīng)當(dāng)具備新穎性、創(chuàng)造性和實(shí)用性，也就是通常所說(shuō)的“三性”，這是判斷一個(gè)專利能否授權(quán)的主要標(biāo)準(zhǔn)。為了統(tǒng)一審查標(biāo)準(zhǔn)，盡量避免審查員主觀因素的影響，設(shè)定了“本領(lǐng)域的技術(shù)人員”這一概念。“本領(lǐng)域的技術(shù)人員”不僅用于創(chuàng)造性的判斷，也用于新穎性和實(shí)用性的判斷，新穎性主要是隱含公開(kāi)的判斷，實(shí)用性主要是再現(xiàn)性的判斷，可見(jiàn)“本領(lǐng)域的技術(shù)人員”貫穿于整個(gè)“三性”的評(píng)判。

《專利審查指南（2010）》第二部分第四章第2.4節(jié)定義：本領(lǐng)域的技術(shù)人員是一種假設(shè)的“人”，假定他知曉申請(qǐng)日或者優(yōu)先權(quán)日之前發(fā)明所屬技術(shù)領(lǐng)域所有的普通技術(shù)知識(shí)，能夠獲知該領(lǐng)域中所有的現(xiàn)有技術(shù)，并且具有應(yīng)用該日期之前常規(guī)實(shí)驗(yàn)手段的能力，但他不具有創(chuàng)造能力；如果所要解決的技術(shù)問(wèn)題能夠促使本領(lǐng)域的技術(shù)人員在其他技術(shù)領(lǐng)域?qū)ふ壹夹g(shù)手段，他也應(yīng)具有從該其他技術(shù)領(lǐng)域中獲知該申請(qǐng)日或優(yōu)先權(quán)日之前的相關(guān)現(xiàn)有技術(shù)、普通技術(shù)知識(shí)和常規(guī)實(shí)驗(yàn)手段的能力[2]。雖然《專利審查指南（2010）》已經(jīng)明確定義了本領(lǐng)域的技術(shù)人員，但是在實(shí)際審查過(guò)程中，如何站位本領(lǐng)域的技術(shù)人員客觀地評(píng)價(jià)專利申請(qǐng)的“三性”依然是一個(gè)焦點(diǎn)問(wèn)題，這就需要審查員不斷地積累本領(lǐng)域的專業(yè)知識(shí)，對(duì)審查領(lǐng)域的專利進(jìn)行分析統(tǒng)計(jì)，不斷接近本領(lǐng)域的技術(shù)人員的要求。

1 專利分析

專利分析主要是在整理、分析、比較、歸納一定時(shí)空范圍內(nèi)某技術(shù)領(lǐng)域相關(guān)專利文獻(xiàn)的基礎(chǔ)上，以典型技術(shù)為支撐，描述該領(lǐng)域的主要技術(shù)路線、技術(shù)發(fā)展脈絡(luò)和趨勢(shì)、主要申請(qǐng)人和發(fā)明人等信息[3]。對(duì)于審查員而言，專利分析應(yīng)該以審查領(lǐng)域，特別是以分類號(hào)為基礎(chǔ)進(jìn)行，這樣逐漸將審查領(lǐng)域的每個(gè)大組進(jìn)行分析，逐漸接近本領(lǐng)域的技術(shù)人員的要求。

專利分析主要可以從專利申請(qǐng)總量趨勢(shì)、申請(qǐng)人專利申請(qǐng)趨勢(shì)、申請(qǐng)人申請(qǐng)量、發(fā)明人、技術(shù)路線以及本領(lǐng)域常用關(guān)鍵詞等方面進(jìn)行[4]。通過(guò)專利申請(qǐng)總量分析可以分析該技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)發(fā)展趨勢(shì)；通過(guò)申請(qǐng)人專利分析可以確定該領(lǐng)域的龍頭企業(yè)，也可以分析各個(gè)企業(yè)、高校院所、科研機(jī)構(gòu)的技術(shù)實(shí)力；通過(guò)對(duì)發(fā)明人分析可以明確某些高校、科研機(jī)構(gòu)的老師的主要研究方向，并通過(guò)發(fā)明人進(jìn)行追蹤檢索；通過(guò)技術(shù)路線分析可以明確某項(xiàng)技術(shù)的發(fā)展脈絡(luò)；通過(guò)關(guān)鍵詞的統(tǒng)計(jì)分析可以方便在檢索時(shí)進(jìn)行擴(kuò)展，也可以在專利申請(qǐng)本身撰寫(xiě)不夠清楚時(shí)準(zhǔn)確提取關(guān)鍵詞。

通過(guò)專利分析，審查員可以在專利檢索過(guò)程中準(zhǔn)確地理解申請(qǐng)人想要表達(dá)的意思，并且適當(dāng)擴(kuò)展關(guān)鍵詞，站位本領(lǐng)域技術(shù)人員理順發(fā)明構(gòu)思，進(jìn)而提高審查效率。通過(guò)專利分析，也可以使審查員更加了解審查領(lǐng)域，并且在評(píng)述過(guò)程中避免錯(cuò)誤使用公知常識(shí)以及技術(shù)啟示的誤判。本文將結(jié)合實(shí)際案例，淺析如何通過(guò)專利分析提高審查員的檢索能力。

2 案例分析

2.1 對(duì)申請(qǐng)人進(jìn)行分析

申請(qǐng)?zhí)枺?01310540803.1[5]

發(fā)明名稱：基板檢查裝置系統(tǒng)及基板檢查方法

發(fā)明構(gòu)思：在將電子部件裝配到印刷電路板之前，能夠執(zhí)行用于檢查焊條是否正常涂布于印刷電路板的焊盤(pán)區(qū)域的焊膏檢查（SPI）工序，并且，在電子部件裝配到印刷電路板之后，能夠執(zhí)行用于檢出上述電子部件是否正常焊接于印刷電路板的各種類型的不良問(wèn)題的自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)（AOI）工序。以往的SPI工序主要通過(guò)三維形狀測(cè)定完成，AOI工序主要通過(guò)二維形狀測(cè)定完成，兩種方法相互獨(dú)立地執(zhí)行。為了解決上述問(wèn)題，本發(fā)明將SPI工序和AOI工序的檢測(cè)結(jié)果結(jié)合起來(lái)綜合判斷基板焊接是否合格，提高了檢測(cè)的效率和精度。

檢索思路：本申請(qǐng)權(quán)利要求中均采用“第一裝置”、“第二裝置”、“第三裝置”等詞限定，并且由于國(guó)外申請(qǐng)大多是直接翻譯而來(lái)，關(guān)鍵詞的提取較為困難，采用關(guān)鍵詞檢索噪聲較大，所以可以通過(guò)相關(guān)領(lǐng)域的申請(qǐng)人縮小檢索范圍。檢索之前，通過(guò)對(duì)分類號(hào)G01B11/+（以采用光學(xué)方法為特征的計(jì)量設(shè)備）進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析，特別是對(duì)申請(qǐng)人進(jìn)行了統(tǒng)計(jì)，得出在該領(lǐng)域重要的申請(qǐng)人有日本的三豐株式會(huì)社、歐姆龍公司，美國(guó)的康耐視、施耐寶、Hunter Engineering Company、AT&T，以及中國(guó)的大連理工大學(xué)、華南理工大學(xué)等。通過(guò)對(duì)主要的申請(qǐng)人進(jìn)行檢索，并結(jié)合關(guān)鍵詞：基板、電路板、PCB以及焊膏、焊錫、焊糊，比較快速地檢索到了公開(kāi)號(hào)為T(mén)W201231960[6]（焊錫檢查方法和基板檢查系統(tǒng)以及焊錫檢查機(jī)）的專利申請(qǐng)，采用該對(duì)比文件評(píng)述了權(quán)利要求的新穎性或創(chuàng)造性。

2.2 對(duì)技術(shù)路線進(jìn)行分析

申請(qǐng)?zhí)枺?01410498902.2[7]

發(fā)明名稱：一種隧道仰坡土體滑移開(kāi)裂監(jiān)測(cè)儀器及其方法

發(fā)明構(gòu)思：隧道仰坡土體滑移開(kāi)裂會(huì)影響造成災(zāi)害事故，本申請(qǐng)檢測(cè)儀器包括前點(diǎn)固定裝置和后點(diǎn)固定裝置；前點(diǎn)固定裝置包括固定桿，所述固定桿的一端通過(guò)球形閥與測(cè)量?jī)x連接；后點(diǎn)固定裝置包括固定桿，固定桿的中部開(kāi)槽，卷尺安裝于所述槽內(nèi)，固定桿靠近卷尺的一端連接有球形閥，球形閥的頂部設(shè)有定位銷；前點(diǎn)固定裝置的測(cè)量?jī)x與后點(diǎn)固定裝置的卷尺的尺體連接。可用于隧道工程的仰坡土體滑移開(kāi)裂的監(jiān)測(cè)工作，及時(shí)掌握施工過(guò)程中仰坡土體的變形規(guī)律，有利于實(shí)際隧道工程的安全施工。

檢索思路：本申請(qǐng)主要涉及土體滑移開(kāi)裂監(jiān)測(cè)領(lǐng)域，屬于位移測(cè)量，而且申請(qǐng)也較多，進(jìn)行專利分析后可以方便今后的審查。進(jìn)行專利分析時(shí)，主要擴(kuò)展了分類號(hào)和關(guān)鍵詞：G01B5/02、G01B5/04、G01B7/02、G01B7/04、G01B21/02、G01B21/06、滑坡、開(kāi)裂、裂縫、滑移、泥石流、塌方、巖移、土體、山體、隧道、涵洞、峒室、仰坡、邊坡、巷道、坑道。通過(guò)對(duì)專利的引用次數(shù)、申請(qǐng)時(shí)間等分析得出，土體滑移開(kāi)裂監(jiān)測(cè)儀器主要經(jīng)過(guò)了重物懸掛和刻度盤(pán)讀數(shù)配合、重物懸掛和位移傳感器讀數(shù)配合以及收斂計(jì)3個(gè)階段，如圖1所示。其中，圖1（a）采用重物懸掛拉伸，通過(guò)刻度盤(pán)讀數(shù)，體積大且安裝復(fù)雜，讀數(shù)也較為不便；圖1（b）采用重物懸掛拉伸，通過(guò)位移傳感器讀數(shù)，較之前方便；圖1（c）采用收斂計(jì)測(cè)量，安裝簡(jiǎn)單，讀數(shù)方便。

由于收斂計(jì)使用簡(jiǎn)單，測(cè)量精確，申請(qǐng)量逐年增加，并且針對(duì)收斂計(jì)做了許多改進(jìn)，主要包括：直接讀數(shù)、采用卷尺和機(jī)械讀數(shù)相配合、采用卷尺和數(shù)碼讀數(shù)相配合，以及采用卷尺和電磁位移傳感器相配合等類型，如圖2所示。其中，圖2（a）直接讀數(shù)，結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單；圖2（b）卷尺和機(jī)械讀數(shù)配合，讀數(shù)簡(jiǎn)單，但使用壽命較低，讀數(shù)精度較低；圖2（c）卷尺和數(shù)碼讀數(shù)配合，讀數(shù)簡(jiǎn)單，讀數(shù)精確；圖2（d）卷尺和電磁位移傳感器配合，讀數(shù)簡(jiǎn)單，讀數(shù)精確，但成本較高。

通過(guò)專利分析，得出了土體滑移開(kāi)裂監(jiān)測(cè)領(lǐng)域的常用儀器及其技術(shù)路線，分析可知，本申請(qǐng)屬于收斂計(jì)的一種變形，并且屬于卷尺和數(shù)碼讀數(shù)相配合的收斂計(jì)，可以大大縮短檢索時(shí)間，并且當(dāng)再次出現(xiàn)類似案件時(shí)，可以直接依據(jù)之前專利分析的內(nèi)容進(jìn)行檢索，不僅可以提高檢索效率，而且能夠站位本領(lǐng)域的技術(shù)人員，對(duì)申請(qǐng)針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的貢獻(xiàn)做出較為準(zhǔn)確的判斷。

2.3 對(duì)關(guān)鍵詞進(jìn)行統(tǒng)計(jì)

申請(qǐng)?zhí)枺?01410189782.8[8]

發(fā)明名稱：一種檢測(cè)裝置和方法

發(fā)明構(gòu)思：薄膜場(chǎng)效應(yīng)管（TFT）產(chǎn)品型號(hào)多，為了更好區(qū)分這些產(chǎn)品，在玻璃面板上制作一個(gè)唯一的標(biāo)識(shí)ID，本申請(qǐng)請(qǐng)求保護(hù)一種能夠自動(dòng)檢測(cè)標(biāo)識(shí)ID位置的裝置和方法。

檢索思路：本申請(qǐng)主要涉及的是利用光學(xué)元件對(duì)基板上的標(biāo)記位置進(jìn)行檢測(cè)的裝置和方法，光學(xué)部件較多，且光學(xué)元件的位置不同，光路也不同，所以沒(méi)有對(duì)部件的位置關(guān)系做檢索，而是直接對(duì)功能以及關(guān)鍵部件做檢索。本申請(qǐng)主要是采用圖像處理的方法檢測(cè)基板上的標(biāo)記位置，通過(guò)對(duì)關(guān)鍵詞進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析，主要采用關(guān)鍵詞——“圖像”、“定位”、“位置”、“距離”、“標(biāo)記”、“標(biāo)志”、“記號(hào)”、“ID”進(jìn)行檢索。而對(duì)光路的部件進(jìn)行分析可知，采用分光片不僅可以起到改變光傳播方向的作用，而且可以減少對(duì)圖像信號(hào)的干擾，所以將“分光”作為關(guān)鍵詞；圖像分析中，相機(jī)等設(shè)備屬于必不可少的部件，進(jìn)一步擴(kuò)展關(guān)鍵詞——“照相”、“攝像”、“圖片”、“照片”、“相機(jī)”、“CCD”。檢索到了公開(kāi)號(hào)為CN1419275A[9]（標(biāo)記位置檢測(cè)裝置）的對(duì)比文件。

3 結(jié)束語(yǔ)

本文探討了專利分析對(duì)專利檢索的促進(jìn)作用，在平時(shí)的審查工作中，審查員需要不斷積累本領(lǐng)域的技術(shù)知識(shí)，通過(guò)專利分析，逐漸將所審查的分類號(hào)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析，提高自己的審查能力，盡量接近“本領(lǐng)域的技術(shù)人員”的要求。通過(guò)對(duì)專利申請(qǐng)總量趨勢(shì)、申請(qǐng)人專利申請(qǐng)趨勢(shì)、申請(qǐng)人申請(qǐng)量、發(fā)明人、技術(shù)路線以及本領(lǐng)域常用關(guān)鍵詞等方面進(jìn)行分析，從而達(dá)到站位本領(lǐng)域的技術(shù)人員，做出客觀、公正的判斷。