郭晗 廖勇 陳龍
(航天科工防御技術(shù)研究試驗(yàn)中心 北京 100854)
隨著元器件種類日益增多,產(chǎn)品系列不斷完善,在滿足設(shè)計(jì)師使用需求的同時(shí),也帶來了新的問題,如何在同系列相似產(chǎn)品中選取更為合適的型號規(guī)格,達(dá)到相應(yīng)的質(zhì)量與可靠性和應(yīng)用適應(yīng)性要求[1]。元器件生產(chǎn)廠家一般根據(jù)元器件類型,依據(jù)有關(guān)的國家軍用標(biāo)準(zhǔn)、國家標(biāo)準(zhǔn)及行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)等制定相應(yīng)的企業(yè)標(biāo)準(zhǔn),然后根據(jù)企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行元器件的性能考核試驗(yàn),試驗(yàn)通過即可認(rèn)定產(chǎn)品合格進(jìn)而供貨[2]。但是上面提到的標(biāo)準(zhǔn)都是通用標(biāo)準(zhǔn),其規(guī)定的試驗(yàn)方法、試驗(yàn)條件、合格判據(jù)與實(shí)際使用要求還存在一定差距[3~9]。
已經(jīng)完成研制的元器件在應(yīng)用推廣中,由于器件手冊內(nèi)容有限,設(shè)計(jì)師無法全面深入的了解器件特性,有可能選用不當(dāng),出現(xiàn)“不好用”、“用不好”,甚至是“不敢用”等問題[10],制約了新研元器件的推廣使用[11~12]。因此本文針對四款 5407六緩沖器進(jìn)行器件級和板卡級測試,設(shè)計(jì)制作通用數(shù)字電路板卡級功能驗(yàn)證系統(tǒng)。得出的功能性能、關(guān)鍵參數(shù)、應(yīng)用適應(yīng)性試驗(yàn)結(jié)果可以指導(dǎo)元器件選型,提高器件的使用可靠性,為設(shè)計(jì)師改變元器件封裝調(diào)整產(chǎn)品集成度、產(chǎn)品設(shè)計(jì)優(yōu)化等情況提供參考。
功能測試的目的是確認(rèn)被測器件的邏輯功能是否符合要求。被測樣品如下:

表1 測試樣品列表
5407系列六緩沖器管腳定義:

表2 5407系列六緩沖器管腳定義
測試參數(shù)及條件如下:
功能測試項(xiàng)的測試向量通過Pin14管腳提供器件工作的電源,通過Pin1、Pin3、Pin5、Pin9、Pin11,Pin13引腳輸入測試數(shù)據(jù),通過 Pin2、Pin4、Pin6、Pin8、Pin10、Pin12管腳的輸出判定是pass/fail。
每個(gè)規(guī)格選取四只器件,在25℃、-55℃、125℃溫度條件下,分別提供4.5V、5V、5.5V電源電壓進(jìn)行功能性能測試,結(jié)果表明器件各項(xiàng)功能性能測試合格。
電源電流反映被測器件的功耗,延遲時(shí)間體現(xiàn)被測器件的時(shí)序特性。每個(gè)規(guī)格選取四只器件,在不同溫度、電源電壓條件下,針對電源電流(ICCH和ICCL)、延遲時(shí)間(tPHL和tPLH)兩類關(guān)鍵參數(shù)進(jìn)行測試,各規(guī)格取四只器件測試結(jié)果平均值繪制特性曲線如下。
1)tPHL-工作溫度特性曲線

圖1 tPHL-工作溫度特性曲線
tPHL隨溫度升高不斷增大,在兩個(gè)極限工作溫度條件下,A-5407的tPHL值最大。
2)tPLH-工作溫度特性曲線

圖2 tPLH-工作溫度特性曲線
tPLH隨溫度升高緩慢增大,A-5407的tPLH值增大明顯,由6ns上升至14ns。
3)tPHL-電源電壓特性曲線

圖3 tPHL-電源電壓特性曲線
隨電源電壓升高,A-5407、D-5407的tPHL值緩慢減小,C-5407的tPHL值線性增大,B-5407的tPHL值無明顯變化。
4)tPLH-電源電壓特性曲線
tPLH隨電源電壓增大而增大,C-5407的tPLH值受電源電壓影響較大,電源電壓由4.9V增大到5.1V,tPLH增大4ns左右。

圖4 tPLH-電源電壓特性曲線
5)ICCL-工作溫度特性曲線

圖5 ICCL-工作溫度特性曲線
ICCL在25℃時(shí)最大,隨溫度升高或降低,ICCL的值均逐漸減小。
6)ICCH-工作溫度特性曲線

圖6 ICCH-工作溫度特性曲線
ICCH隨溫度升高大致呈減小趨勢。
1)電源電壓極限試驗(yàn)
各規(guī)格分別選取兩只器件,連續(xù)增加或降低0.1V電源電壓,在不同電源電壓下對器件進(jìn)行測試,測試項(xiàng)為表3中相應(yīng)的電參數(shù),直到功能性能異?;蜻_(dá)到設(shè)備極限時(shí)停止試驗(yàn),得出器件極限電源電壓,試驗(yàn)結(jié)果如表4所示。

表3 5407系列器件測試參數(shù)及條件

表4 VCC極限試驗(yàn)結(jié)果
2)高低溫極限試驗(yàn)
各規(guī)格分別選取兩只器件,連續(xù)增加或降低5℃工作溫度,在每步進(jìn)一階后對器件依次進(jìn)行外部目檢、正常工作電壓下的電測試,直到功能性能異?;蜻_(dá)到設(shè)備極限時(shí)停止試驗(yàn),得出極限工作溫度,試驗(yàn)結(jié)果如下表所示。

表5 工作溫度極限試驗(yàn)結(jié)果
板級試驗(yàn)主要驗(yàn)證器件在通用板卡狀態(tài)下,典型的板級功能是否正常,根據(jù)通用數(shù)字電路特點(diǎn),針對性的開展板級測試系統(tǒng)構(gòu)建。
硬件設(shè)計(jì)包括母板控制板,子板及其與工控機(jī)和設(shè)備的連接關(guān)系的設(shè)計(jì)。母板主要完成對通用數(shù)字電路試驗(yàn)過程輸出數(shù)據(jù)的采樣及處理,為通用數(shù)字電路提供輸入測試激勵(lì)向量等功能。子板為待測器件及支撐其工作的最小系統(tǒng)外圍電路。上位機(jī)顯示測試結(jié)果、存儲測試數(shù)據(jù)。功能框圖如圖7所示。

圖7 通用數(shù)字電路板級測試系統(tǒng)功能框圖
該系統(tǒng)以STM32系列單片機(jī)作為核心器件,主要完成為通用數(shù)字電路類器件提供輸入邏輯電平、采集器件的輸出邏輯電平、數(shù)據(jù)傳輸?shù)裙δ堋4郎y子板實(shí)物圖如圖8所示。

圖8 5407子板實(shí)物圖
每個(gè)規(guī)格制作兩塊板卡,各焊接一只器件。
1)板級功能測試
在溫度為25℃,VCC=5V條件下開展試驗(yàn)。將5407待測板卡置于溫箱中,將待測板卡與專用控制母板連接,接通電源,電源電壓為5V。通過母板控制器件的輸入連續(xù)變化,每五秒鐘抓取一次器件的輸出狀態(tài)。
測試結(jié)果滿足其期望值,器件在25℃、5V的電壓條件下可以正常工作。

圖9 5407器件板級功能驗(yàn)證硬件平臺
2)工作穩(wěn)定性測試
三溫(低溫-55℃,25℃,高溫80℃)環(huán)境下,將5407待測板卡置于溫箱,連接母板,接通電源。通過上位機(jī)控制母板發(fā)送測試指令,采集輸出信號,判定器件工作狀態(tài)是否正常。循環(huán)上述步驟,每五秒鐘記錄一次器件工作狀態(tài),直至12h結(jié)束。

圖10 5407器件工作穩(wěn)定性測試硬件平臺
通過比對發(fā)現(xiàn)器件在三溫測試前后動態(tài)工作過程中輸出沒有較大變化。輸出結(jié)果和期望值一致。
3)電源電壓拉偏測試
在溫度為25℃環(huán)境下開展試驗(yàn)。將待測板卡連接母板,電源電壓拉偏至4.5V,控制5407的輸入連續(xù)變化,抓取器件的輸出狀態(tài),斷開電源。電源電壓拉偏至5.5V,控制5407的輸入連續(xù)變化,抓取器件的輸出狀態(tài)。結(jié)果顯示器件在下拉偏4.5V和上拉偏5.5V的條件下均可正常工作。
4)溫度循環(huán)試驗(yàn)
開始時(shí)對被測板卡的外觀、功能、性能進(jìn)行檢測記錄,確定樣品正常,并用來與中間檢測和最終檢測結(jié)果進(jìn)行比較。板卡放置于試驗(yàn)箱中與母板連接,將試驗(yàn)箱溫度升至到高溫試驗(yàn)溫度,試驗(yàn)樣品溫度穩(wěn)定1h后,接通電源及信號源。發(fā)送測試指令,比較測試輸出,5s記錄1次,持續(xù)記錄30min,關(guān)斷電源。將試驗(yàn)箱溫度降至低溫環(huán)境試驗(yàn)溫度,繼續(xù)試驗(yàn),方法與高溫相同。試驗(yàn)完成3個(gè)循環(huán)后結(jié)束,使板卡停止工作。循環(huán)過程中器件邏輯功能正常,試驗(yàn)結(jié)束后器件全面的目視檢查和工作性能檢測合格,試驗(yàn)前后輸出沒有較大變化,可判斷器件在-55℃~80℃條件下可正常工作。
另外,采用該板級測試系統(tǒng)完成了54LS00、L54HCT08、54LS20三種規(guī)格器件的板級功能性能測試,驗(yàn)證了該系統(tǒng)的穩(wěn)定性和通用性。
通過本論文對四款5407系列六緩沖器測試分析,明確該類器件的功能性能、關(guān)鍵參數(shù)變化、極限評估。設(shè)計(jì)完成通用數(shù)字電路板卡級測試系統(tǒng),可以對通用數(shù)字器件板卡級功能性能運(yùn)行狀態(tài)進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)測。為器件選用和更換提供依據(jù),為通用數(shù)字器件可靠性分析提供測試方法和手段。