唐松,方明,何光武
(中國航天南京晨光計(jì)量檢測中心,江蘇南京210006)
在大型機(jī)械制造領(lǐng)域,各種轉(zhuǎn)臺(tái)的應(yīng)用是非常普遍的,如大型機(jī)床、雷達(dá)測試設(shè)備、單軸或多軸仿真測試轉(zhuǎn)臺(tái)等,這些設(shè)備的轉(zhuǎn)臺(tái)角度定位誤差每年都需要專門的幾何量校準(zhǔn)或檢定機(jī)構(gòu)對其進(jìn)行檢測。
角度計(jì)量是計(jì)量科學(xué)的重要組成部分。隨著激光干涉測量技術(shù)的出現(xiàn)以及計(jì)算機(jī)技術(shù)的發(fā)展,轉(zhuǎn)臺(tái)角度定位誤差的校準(zhǔn)和檢測已經(jīng)進(jìn)入了自動(dòng)化、數(shù)字化時(shí)代[1]。但由于測試環(huán)境和條件的限制,尤其是現(xiàn)場檢測的各種嚴(yán)苛要求限制,目前測試人員仍然主要采用光學(xué)自準(zhǔn)直儀與多面棱體相配合的方式,對各種大型設(shè)備的轉(zhuǎn)臺(tái)角度定位誤差進(jìn)行校準(zhǔn)或檢定。
采用光學(xué)自準(zhǔn)直儀與多面棱體配合,對轉(zhuǎn)臺(tái)角度定位誤差進(jìn)行檢測的原理如圖1所示。

圖1 轉(zhuǎn)臺(tái)角度定位誤差檢測示意圖
首先將多面棱體安放在轉(zhuǎn)臺(tái)平面上,使多面棱體與轉(zhuǎn)臺(tái)基本處于同心位置;然后調(diào)節(jié)自準(zhǔn)直儀的安放位置,使自準(zhǔn)直儀鏡頭軸線穿過棱體工作面的中心,并基本垂直于與棱體的工作面,測試人員即利用測微器手動(dòng)對準(zhǔn),讀數(shù)。操作人員即可開始進(jìn)行轉(zhuǎn)臺(tái)角度定位誤差的檢測[2]。
光學(xué)自準(zhǔn)直儀的對準(zhǔn),即經(jīng)過調(diào)整使光學(xué)自準(zhǔn)直儀的鏡頭軸線穿過棱體工作面的中心,并基本垂直于與棱體的工作面。這樣,自準(zhǔn)直儀內(nèi)燈泡所發(fā)出的光經(jīng)過棱體工作面反射后基本沿原路返回,經(jīng)物鏡后仍成像在分劃板上,可在自準(zhǔn)直儀視場中觀察到。如果棱體工作面不垂直于鏡頭軸線,而是偏過一個(gè)小角度θ,如圖2所示,則反射光線與入射光線成2θ 角返回,若2θ 角過大則沒有反射光線通過物鏡,在自準(zhǔn)直儀視場中就無法觀察到目標(biāo)成像。

圖2 自準(zhǔn)直儀對準(zhǔn)光路圖
圖中L為測量距離,一般遠(yuǎn)大于自準(zhǔn)直儀物鏡直徑d或棱體工作面高度,則

目前,測試人員在對準(zhǔn)時(shí)采用目視觀察法。先利用水平儀將多面棱體和光學(xué)自準(zhǔn)直儀的安裝平面調(diào)整至基本平行,然后采用目視的方式使自準(zhǔn)直儀與多面棱體基本處于同一高度后,再由測試人員調(diào)整自準(zhǔn)直儀的鏡頭方向,人眼在自準(zhǔn)直儀視場中觀察到目標(biāo)成像,再利用測微器手動(dòng)對準(zhǔn)、讀數(shù)[3]。
從式(1)可以看出,測量距離L越大,θ 越小,則對棱體工作面與自準(zhǔn)直儀鏡頭軸線的垂直度要求越高,即手動(dòng)調(diào)整難度越大。實(shí)際發(fā)現(xiàn),當(dāng)測量距離較小(≤1 m)時(shí),熟練的測試人員采用目視觀察法一般10~20 min 即可完成對準(zhǔn)。而當(dāng)測量距離大于1 m,即使是熟練的操作工人一般也需要30 ~60 min 才能完成對準(zhǔn)。當(dāng)測量距離大于3 m 或者多面棱體的安裝面平面度較差時(shí),對準(zhǔn)所需的時(shí)間甚至?xí)_(dá)到2 小時(shí)以上。在如圖3所示的測量條件下,需要使用五棱鏡將出射光線轉(zhuǎn)過90°以后投射到多面棱體工作面上,實(shí)驗(yàn)證明這種情況下利用目視觀察法基本上不可能完成對準(zhǔn)。

圖3 利用五棱鏡轉(zhuǎn)向進(jìn)行轉(zhuǎn)臺(tái)檢測示意圖
目視觀察法的缺點(diǎn)在于不適用于長距離對準(zhǔn),且需要熟練的測試人員根據(jù)豐富經(jīng)驗(yàn)來進(jìn)行,只能以從目鏡中觀測到目標(biāo)成像為依據(jù),整個(gè)對準(zhǔn)過程較為抽象不易掌握。熟練程度較差的測試人員所需要的對準(zhǔn)時(shí)間會(huì)大大增加,甚至幾乎無法正確對準(zhǔn)。在檢測條件較為惡劣或需要長距離測量時(shí),采用目視觀察法對準(zhǔn)會(huì)大大降低檢測效率甚至因無法對準(zhǔn)而導(dǎo)致檢測失敗。
在實(shí)際的檢測過程中,我們逐漸摸索出一種利用激光對準(zhǔn)的方法,可完全解決目前對準(zhǔn)方法所存在的問題。新方法利用激光的特性,當(dāng)激光沿自準(zhǔn)直儀鏡頭軸線投射到棱體工作面后,若反射回來的光線與出射光線基本重合,則說明自準(zhǔn)直儀鏡頭軸線垂直于棱體工作面,即完成對準(zhǔn)。
新方法需制作一個(gè)對準(zhǔn)套筒,由激光組件裝卡在套筒工裝上構(gòu)成,從套筒邊緣引出激光器導(dǎo)線,由電池盒供電,如圖4所示。

圖4 套筒工裝設(shè)計(jì)示意圖
采用新方法對準(zhǔn)的步驟如下:①利用水平儀使多面棱體安裝面與自準(zhǔn)直儀安放平面基本平行(利用五棱鏡轉(zhuǎn)向的情況下,需調(diào)整到基本垂直);②將對準(zhǔn)套筒與自準(zhǔn)直儀鏡頭連接,激光組件控制器與導(dǎo)線連接;③打開激光組件控制器開關(guān),調(diào)整自準(zhǔn)直儀和棱體的位置,當(dāng)激光投射在棱體工作面上的光點(diǎn)位于中心,且由棱體工作面反射到對準(zhǔn)套筒靶面上的光點(diǎn)與出射光點(diǎn)基本重合時(shí),即說明對準(zhǔn)完成;④將激光組件控制器與導(dǎo)線斷開連接,再將對準(zhǔn)套筒拔出,測試人員不需要或只需要對自準(zhǔn)直儀稍稍調(diào)整,即可在自準(zhǔn)直儀視場中觀察到目標(biāo)成像,再利用測微器手動(dòng)對準(zhǔn)、讀數(shù)。
轉(zhuǎn)臺(tái)角度定位誤差校準(zhǔn)測試中,測量不確定度由光學(xué)自準(zhǔn)直儀和多面棱體的測量不確定度所決定,與所采用的對準(zhǔn)方法無關(guān)。新的對準(zhǔn)方法在大大提高對準(zhǔn)效率的同時(shí),完全不會(huì)影響到測量精度,可以推廣使用。
在某雷達(dá)測試設(shè)備的轉(zhuǎn)臺(tái)校準(zhǔn)過程中,其中兩個(gè)轉(zhuǎn)臺(tái)的角度定位誤差要求為15″。Ⅰ號轉(zhuǎn)臺(tái)高于地面5 m,配有升降車,由于轉(zhuǎn)臺(tái)連接有長約3 m 的擺臂,故角度定位誤差校準(zhǔn)時(shí),測試點(diǎn)位于升降車上且測量距離取為3.5 m,屬于中長距離測試。Ⅱ號轉(zhuǎn)臺(tái)高于地面約4 m,無升降車可使用,故測試點(diǎn)位于地面,并采用五棱鏡將光線轉(zhuǎn)過90°以實(shí)現(xiàn)角度定位誤差的校準(zhǔn)。在初次校準(zhǔn)時(shí),使用傳統(tǒng)的目視觀察法進(jìn)行自準(zhǔn)直儀的對準(zhǔn),Ⅰ號轉(zhuǎn)臺(tái)費(fèi)時(shí)約2.5 h 完成對準(zhǔn),Ⅱ號轉(zhuǎn)臺(tái)費(fèi)時(shí)2 h 仍未完成對準(zhǔn)故放棄,校準(zhǔn)失敗。再次校準(zhǔn)時(shí),由于采用了激光對準(zhǔn)套筒,Ⅰ號轉(zhuǎn)臺(tái)僅費(fèi)時(shí)7 min 即完成對準(zhǔn),Ⅱ號轉(zhuǎn)臺(tái)也僅費(fèi)時(shí)10 min 即完成對準(zhǔn)。測試實(shí)驗(yàn)證明新的對準(zhǔn)方法解決了目前方法所存在的困難,并極大地提高了對準(zhǔn)效率。
利用帶激光組件的對準(zhǔn)套筒完成自準(zhǔn)直儀的對準(zhǔn),使整個(gè)對準(zhǔn)過程變得更加直觀、方便,降低了操作難度,尤其適用于較惡劣現(xiàn)場檢測條件或大型、戶外轉(zhuǎn)臺(tái)測試設(shè)備的入廠驗(yàn)收以及周期檢測等場合。在實(shí)際測試過程中,采用新方法進(jìn)行對準(zhǔn)之后,大大提高了對準(zhǔn)效率。在長距離或需要五棱鏡改變光路的測量條件下,即使是熟練程度欠佳的操作人員也可在10 min左右完成自準(zhǔn)直儀的對準(zhǔn)。測試實(shí)驗(yàn)說明,新的對準(zhǔn)方法對于提高轉(zhuǎn)臺(tái)角度定位誤差的校準(zhǔn)或檢定效率,具有一定的意義。
[1]張琢,李鵬生,強(qiáng)錫富,等.測角技術(shù)國內(nèi)外發(fā)展概況[J].宇航計(jì)測技術(shù),1994,13(4):4-11.
[2]盧榮勝,費(fèi)業(yè)泰.用測角儀檢定正多面棱體角度誤差的新方法[J].宇航計(jì)測技術(shù),1998,18(6):14-16.
[3]國防科工委科技質(zhì)量司.幾何量計(jì)量[M].上.北京:原子能出版社,226-230.