曹愛青
(濟鋼集團有限公司,濟南 250101)
鋁制品的檢測方法大多采用經典的濕法化學分析、電感耦合等離子體原子發射光譜[1]、直讀發射光譜法、紅外光譜法[2-3]等。用化學分析法分析純鋁制品,方法繁瑣,時間冗長,投入的人力物力較多;直讀光譜法雖說可在較短時間內報出結果,但是需用塊狀樣品,且光譜儀需要特定的基于鋁基的分析通道和分析程序。對于鋁粒、鋁線等小樣品的檢測,由于制樣或者分析程序的問題,使得前述幾種檢測方法受到很大程度的限制。
X射線熒光光譜分析法是通過測量試樣中某元素特征X射線的強度,采用適當的方法進行校準與校正,求出該元素在試樣中的百分含量。該分析儀器有“非破壞”、“快速”、“高精度”和“低成本”的特點,而且分析元素范圍廣,測定元素的含量范圍寬[4-6],但是,由于樣品大小及形狀的影響,使X射線熒光光譜分析儀的檢測受到極大的限制。因此可通過改善制樣方法,制成適合該設備的分析樣品,創建分析方法,用X射線熒光光譜法測定純鋁制品中各元素的含量。
ZSX Primus X射線熒光光譜儀(株式會社理學):端窗銠靶,真空光路,不加過濾片,電壓40 kV,電流60 mA,其它優化條件見表1。

表1 X射線熒光光譜儀測量條件Table 1 Instrument operating conditions
樣品制備是X射線熒光光譜法分析的關鍵,很多物料由于不能處理成適用于X射線熒光光譜分析的樣品而限制了X射線熒光光譜分析法的應用。該設備要求,試樣直徑介于30~51 mm,厚度小于40 mm。
現場取回的純鋁制品形狀多樣且大小不一,對于塊狀樣品,可直接用高速試樣切割機分切,對于鋁線、鋁粒等小樣品可通過高溫熔融,制成塊狀樣品,打磨出符合要求的分析表面,以適應X射線熒光光譜儀分析的要求。
制出的試樣,要求X射線的分析表面不能出現多孔質表面,也不能出現氣孔、大塊析出物和表面臟污等現象。
X射線熒光光譜分析法一般采用相對比較法進行,在實際檢測的過程中發現,所有樣品或多或少都會受到共存元素的影響。該實驗選用了兩套基體與被測樣品相同且組分相近的標準樣品,以減少共存元素的影響并避免樣品固有的誤差因素。完成標準樣品的測量以后,用校正程序對各組分進行計算,在回歸計算時,分別對Fe,Si,Mg,Zn,Ni,V等元素做了吸收增強或重疊干擾的校正,各元素的校正曲線線性較好。圖1~4是幾種典型元素經過校正后的分析曲線。

圖1 Fe元素的校正曲線 Figure 1 Calibration curve of Fe.

圖2 Si元素的校正曲線 Figure 2 Calibration curve of Si.

圖3 Mg元素的校正曲線 Figure 3 Calibration curve of Mg.

圖4 Mn元素的校正曲線 Figure 4 Calibration curve of Mn.
標準樣品的表面處理與被測樣品需要完全一致。所制備的樣品表面要均勻。如果不均勻且當樣品不旋轉時,測量強度會隨樣品的放置方向而變化。此時,在分析樣品時,應設置樣品旋轉。
X射線發生器是給X射線管提供高壓的裝置,總功率一般為3 kW(或4 kW),高壓與電流通常是20~60 kV與2~100 mA。外加電壓太高會使背景增大,信噪比變小,一般選擇40~60 kV,通過實驗確定電壓為40 kV。在低壓下通大電流,燈絲加熱異常,會有燒斷的危險,再者X射線管的最大負荷也有限制,實驗確定電流為60 mA。
選擇一塊試樣,用分析純鋁程序連續測定7次,結果如表2所示。

表2 精密度實驗結果Table 2 Precision test of the method /%
按照確定的分析方法,測定標準樣品與隨機抽取的兩批被測樣品,與ICP-AES法的數據進行了比對。ICP-AES法所用樣品是被測樣品熔融前制取的屑狀樣品,X射線熒光光譜法所用樣品則是制取屑狀樣品后剩余的被測樣品,測定結果見表3。

表3 分析結果對照Table 3 Comparsion of analytical results /%
由表3數據看出,X射線熒光光譜分析法測定的標準樣品的結果與推薦值基本一致;測定的被測樣品中各元素的測定結果與ICP-AES法測得的結果基本一致。可以說明,X射線熒光光譜法結果可靠。
用X射線熒光光譜儀進行純鋁制品中各化學成分的檢測方法,精密度好,準確度高,該方法操作簡單易于掌握,與化學法、電感耦合等離子體原子發射光譜法比較,大大縮短了分析時間,更能適應生產快速檢驗的需要。
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