汽車發動機控制單元的錫晶須分析
錫的晶須簡稱錫須,其是從錫鍍層表面自發生長出來的一種細長狀錫結晶。對于可靠性要求很高的系統如汽車電子,需要特別關注錫須,其生長是潛在的,不可預測的,會產生難以預料的后果。汽車電子產品使用純錫鍍層,當錫須所構成的短路電流超過其所能承受的電流時,可將錫須熔斷,造成斷路故障。低電壓、高阻抗電路的電流不足以熔斷錫須,當錫須生長到一定長度后,會使兩個不同的導體短路,造成汽車發動機控制單元(ECU)故障。發動機振動時可能會使晶須從表面脫落,使相鄰部件存在短路的風險。
普遍認為,產生錫須的主要原因是錫鍍層中的壓應力(有可能是電鍍過程的殘余應力)。電鍍材料與基體材料的熱膨脹系數不一致也能導致錫須的產生。許多研究者認為,在純錫鍍層使用鎳作為下鍍層(隔離層)可使錫須的生長緩慢。為檢查錫須的生長特性,對ECU進行溫度/濕度循環試驗。測試配置文件盡可能地模擬在ECU下的使用條件,試驗的兩個極限條件為:溫度25℃、相對濕度50%;溫度85℃、相對濕度85%。共進行5次循環試驗,歷時1250h。通過觀察錫須的微觀結構,可以看出用鎳作為下鍍層不能阻止錫須的產生。
為消除錫須,制造商應在汽車電子中避免使用純錫鍍層。考慮到成本問題,替代產品可以是鎳鈀、鎳金、鎳鈀金以及銀基鍍層。其它方法可以是浸銀、熱風整平以及化學鎳金。
刊名:Microelectronics Reliability(英)
刊期:2014年第1期
作者:Elviz George et al
編譯:倪媛媛