高阻器件低頻噪聲測試技術與應用

尚恒　李靜

摘 要：在現階段生產的電子元件中，有很多的電子元件都存在較為嚴重的噪聲問題。人類對電子的依賴程度較高，尤其是手機一類的產品，其電子元件倘若在噪聲方面沒有達到標準，勢必會對使用者的身體造成傷害。通過利用高阻器件低頻噪聲測試技術，能夠對電子元件的內部、外部等多個方面，實施有效的測試，搜集大量的資料與數據，以此來判定電子元件的噪聲是否達到標準、是否能夠投入生產。高阻器件低頻噪聲測試技術是目前比較有效的測試技術，日后可以深入研究，并且在電子元件的加工、生產、設計等方面來應用。

關鍵詞：高阻器件；低頻；噪聲；技術；應用

電器元件在目前的發展和研究中，其體積不斷的減小，功能不斷的增多。類似于手機一類的產品中，電子元件所扮演的角色是絕對性的。但是，任何一種電子元件在投入使用后，都存在噪聲的問題，頻率與噪聲密切相關，通過運用相關的測試技術，能夠在客觀上了解電子元件的噪聲范圍、影響程度、持續時間等等，以此來優化電子元件的設計和運用，并且在多方面完成對電子元件的優化。所以，測試技術的研究與應用，是很有必要的。在此，文章主要對高阻器件低頻噪聲測試技術與應用展開討論。

1 高阻器件低頻噪聲測試技術

相對于其他測試技術來講，在運用高阻器件低頻噪聲測試技術的過程中，省去了很多環節，實現了較大的便利條件。但是，由于高阻器件低頻噪聲測試技術是一種針對性較強的技術，因此我們在運用的過程中，不能奢求該項技術可以完成所有電子元件的測試，必要時可聯合其他測試技術共同完成。在此，文章主要對高阻器件低頻噪聲測試技術進行論述。

1.1 高阻樣品噪聲測試問題分析

高阻器件低頻噪聲測試技術的研究并不是偶然的研究，而是在大量現有問題的基礎上，實施的一項針對性技術研究，以此來完成各方面的測試進步。從客觀的角度來分析，高阻樣品噪聲測試過程中，表現出了很多的問題，傳統技術根本無法滿足需求。經過大量的總結和分析，認為高阻樣品噪聲測試問題，突出表現在以下幾個方面：第一，高源阻抗使電壓噪聲信號衰減。在運用傳統技術測試的時候，發現一旦應用高源阻抗來測試，就會導致電壓噪聲信號持續衰減，部分電壓信號甚至時表現出無噪聲的特點，這就在客觀上導致測試結果的不準確性。倘若以此來生產和加工電子元件，勢必會造成產品的較大噪聲問題，對用戶產生的傷害是比較嚴重的。第二，高偏置的電壓條件，會直接降低耦合電容壽命，甚至是造成耦合電容被擊穿的情況。目前，部分測試技術選擇的條件是高偏置的電壓條件，在以往的測試中，該條件的確表現出了較多的優異成績。可是，目前的耦合電容已經無法承受高偏執電壓的條件，不僅僅是損耗壽命，甚至是會出現被擊穿，一旦擊穿，勢必會造成較大的安全事故。第三，電流噪聲信號帶過窄。測試噪聲的過程中，對電流噪聲信號帶的要求是比較高的，倘若信號帶過窄的話，勢必會造成某些指標測試不合格，反復測試只會陷入惡性循環。

1.2 高阻器件低頻噪聲測試技術的實現

經過長期的努力與研究，高阻器件低頻噪聲測試技術應運而生，告別了以往的各種不良條件，實現了測試水平的進一步提升。相對而言，高阻器件低頻噪聲測試技術的實現，促使電子元件的噪聲測試，告別了傳統上的惡性循環，能夠對很多指標實現有效的測試。就現有的測試工作來看，高阻器件低頻噪聲測試技術的實現主要是劃分為兩個方面：首先，在電壓的測試工作中。技術人員可以將待測的樣品，直接放入到前端適配器上，之后就是要檢查各個硬件模塊的連接情況，需保證連接線的完全正確。接下來，不必實施繁瑣的步驟，而是直接給器件施加直流信號，以此來激發電壓的噪聲信號，根據噪聲信號，就可以完成相應的信息和數據采集、分析，確定電壓噪聲是否符合標準。其次，在電流噪聲的測試方面，還是要將待測樣品，直接放入到前端適配器上，按照順序來實施檢查，尤其是線路方面，之后也是激發噪聲信號。接下來，根據信號幅值的大小將放大器調至合適的放大倍數。之后，在軟件界面上激活頻譜采集功能。采集結束后，利用鎖相放大器獲取放大器在該放大倍數下的傳輸函數。從以上的表述來看，高阻器件低頻噪聲測試技術符合造成測試的要求，能夠在實際的測試工作中，表現出較大的積極作用。

2 高阻器件低頻噪聲測試技術的應用

任何一項技術的發明，其最終目的就是為了應用。在理論研究、實驗研究的過程中，高阻器件低頻噪聲測試技術均表現出了突出的成績，很多方面都要優于以往的傳統技術。但是，高阻器件低頻噪聲測試技術在沒有得到實際應用時，就不能說高阻器件低頻噪聲測試技術是完全成功的，因為沒有創造出實際的價值。在此，文章主要對高阻器件低頻噪聲測試技術的應用展開論述。

2.1 高阻器件低頻噪聲測試技術應用于高阻厚膜電阻的篩選

高阻厚膜電阻是比較常用的電阻類型，現階段的生產數量比較大，但如何更好的篩選出劣質電阻，就需要應用高阻器件低頻噪聲測試技術來完成了。在目前的篩選工作中，可以根據高阻厚膜電阻的數據、爆裂噪聲開展篩選，其效果均比較突出。以爆裂噪聲篩選為例，在運用高阻器件低頻噪聲測試技術的過程中，每個足以激發出爆裂噪聲的微觀缺陷，對應著一個脈沖的高度。如果樣品材料中含有多個足以在高場強下激發出爆裂噪聲的缺陷，則該器件的爆裂噪聲時域波形中會含有多種高度的脈沖，其頻域中會含有明顯的洛倫茲譜，因而不會再表現為典型的爆裂噪聲曲線。通過對爆裂噪聲的具體分析，就可以完成高阻厚膜電阻的有效篩選。

2.2 高阻器件低頻噪聲測試技術應用于聚合物鉭電容的漏電流噪聲研究

聚合物鉭電容是比較常用的一種電力物質，其作用是比較突出的。但是，由于聚合物鉭電容的漏電流噪聲存在嚴格的要求，因此凡是不合格的產品絕對不能投入產出。在以往的測試過程中，只能是對噪聲的單一指標進行測試，不僅耗時費力，同時還導致很多指標的測試達不到標準，僅僅是能在基礎工作上努力，聚合物鉭電容的相關技術也停留在原地。通過對聚合物鉭電容的漏電流噪聲，應用高阻器件低頻噪聲測試技術，電容噪聲功率譜密度幅度與器件的反向應力損傷時間成反比。隨著電容兩端施加反向電壓時間的不斷增加，電容的噪聲在低頻段不斷降低，降低幅度達到50%。該現象可以由鉭電容在施加反向應力時發生的特殊效應來解釋。所以，高阻器件低頻噪聲測試技術還是能夠較好測試的。

3 結束語

文章對高阻器件低頻噪聲測試技術與應用展開討論，從現有的工作來看，高阻器件低頻噪聲測試技術在應用過程中，能夠對多種類型的噪聲進行測試，并且得到的結果也相對權威。在今后的工作當中，需對高阻器件低頻噪聲測試技術進行深入的研究，保持技術的良性發展，將技術應用到更多的噪聲測試中，減少電子元件的噪聲程度，避免對人體造成較大的傷害。

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