梅建偉+田艷芳+雷鈞+李鐵+魏海波
【摘要】在分析功率MOSFET管結構和工作原理的基礎上,結合工程實際應用的N溝道IRFB7434,分析了MOSFET的靜態特性、正偏與反偏工況分析以及選型與檢測方法,該教學內容的拓展豐富了功率MOSFET的教學內容,有利于功率MOSFET的工程化應用。
【關鍵詞】MOSFET;靜態;動態;反向工作區
基金項目:本科教學建設與改革項目資助:面向電動車輛工程方向的自動化專業人才培養模式研究與探討,項目編號:JX201603-1.
【分類號】G643;G254.97-4
1、基本結構
圖1垂直導電結構MOSFET和電氣圖形符號
功率MOSFET通常采用平面結構和垂直導電結構,平面結構中MOSFET的三個電極在硅片的同一側,這種結構存在導通電阻大和通過電流低等弱點;垂直導電結構種MOSFET的源極和柵極在一側,而漏極則在芯片襯底一側。
功率MOSFET是單極性器件,只有一種載流子導電,不管是N溝道型還是P溝道型MOSFET,載流子從源極出發,經漏極流出,由于P溝道的導通電阻較大,所以通常使用N溝道的MOSFET。
2、工作原理
從圖1的結構可知,垂直導電結構的MOSFET中有兩個PN結,分別是 和
截止:漏源極間加正電源,柵源極間電壓為零。
P基區與N漂移區之間形成的PN結反偏,漏源極之間無電流流過。
導電:在柵源極間加正電壓UGS
當 大于 時,P型半導體反型成N型而成為反型層,該反型層形成N溝道而使PN結消失,漏極和源極導電。
3、基本特性與工況分析
3.1 靜態特性
1) 轉移特性
2) 輸出特性
a) 電阻性區域
在開關狀態下,這里 的大小僅僅由外電路決定,而與輸入信號無關,在該區域中,靜態導通壓降 。
b) 飽和區
當 僅略大于柵極開啟電壓時,此時漏極電流受柵源電壓控制,這個區域成為飽和區,在飽和區中, 對 沒有影響,當 一定時, 也近似恒定,只有通過改變 的大小才能改變 。
c) 電壓擊穿區
如果 太大,PN將發生雪崩擊穿, 驟增而使得器件失效。
3.2 動態過程
該部分內容看參考文獻[1]和[2],這里不再贅述。
3.3 正偏和反偏分析
模式1:正柵壓正向輸出
此時導電溝道已經形成,當 的數值大小不一樣的時,MOSFET經過主動區域和電阻性區域。
模式2:無柵壓正向輸出
此時導電溝道沒有形成,當 的數值在MOSFET安全工作區時,MOSFET處于截止區域。
模式3:正柵壓反向輸出
由于柵源電壓大于MOSFET的開啟電壓,導電溝道形成,雖然MOSFET漏極和源極之間施加反向電壓,但是此時仍然是通過導電溝道通電,因此MOSFET的導通壓降大大低于MOSFET寄生的二極管的導通壓降。
模式4:無柵壓反向輸出
此時導電溝道沒有形成,MOSFET漏極和源極之間施加的反向電壓,MOSFET寄生的二極管導通,導通壓降為二極管的壓降。
4、MOSFET的選型與檢測
4.1 重要參數
1) 漏極電壓
該電壓是MOSFET的電壓定額,即Drain-to-Source Breakdown Voltage( ),溫度發生變化時該電壓值發生改變,該指標為Breakdown Voltage Temp. Coefficient, 。溫度越高,該電壓值越大。
2) 漏極電流
對漏極電流的約束,有兩個部分,一是源極電流,即Continuous Source Current( )和Pulsed Source Current( ),該電流是MOSFET寄生的二極管能夠通過的電流,二是漏極電流,即Continuous Drain Current( )和Pulsed Drain Current( ),在不同的溫度下該電流的數值時不一樣的,溫度越高,該電流值越小。
3) 柵源電壓
即MOSFET的Gate-to-Source Voltage( ),該電壓必須大于MOSFET的Gate Threshold Voltage( ),同時該電壓必須小于MOSFET柵源電壓的最大值。該電壓越高,MOSFET最大連續漏極電流越大,并且其穩態導通電阻越小,總等效的柵極電荷越大。
4) 導通電阻
即RDS(on),Static Drain-to-Source On-Resistance,該電阻有一個典型值和最大值,不同的漏極電流和柵源電壓,此時MOSFET的導通電阻值時不一樣的,由該阻值引起的損耗為: ,因此該電阻越大,靜態損耗就越大。溫度越高,導通電阻越大。
5) 柵極電荷
該電荷分成三個部分,分別是Total Gate Charge( )、Gate-to-Source Charge( )、Gate-to-Drain ("Miller") Charge( ),該電荷數值越大,損耗就越大,同時柵極驅動功率就越大。
4.2 用萬用表檢測
以N溝道功率MOSFET為例,使用萬用表判斷MOSFET是否正常:
1)萬用表二極管檔
紅表筆接MOSFET管的源極S端,黑表筆接MOSFET管的漏極D端,不同的MOSFET寄生二極管的導通壓降不一樣,如果此時數字萬用表顯示的數值為0.2-0.7之間,可以認為這項指標合格;
2)萬用表電阻檔
首先紅表筆接MOSFET管的柵極G端,黑表筆接MOSFET管的源極S端,此時電阻值較大,在幾百KΩ以上;再次紅表筆接MOSFET管的柵極G端,黑表筆接MOSFET管的漏極D端,此時電阻值較大,在幾MΩ以上;最后紅表筆接MOSFET管的漏極D端,黑表筆接MOSFET管的源極S端,此時電阻值較大,在幾MΩ以上;如果以上三個數值都在范圍之內,認為這項指標合格;
當(a)項、(b)項的指標都合格時,可以斷定該MOSFET基本合格。在測試過程中需要注意的是,該測試方式是針對獨立的MOSFET,沒有任何外接電路,當MOSFET管焊接在電路板上時,此測試方法容易帶來誤差,主要是電路中其他的元器件工作不正常可能影響該MOSFET上述的測試結果。
4.3 用示波器檢測
按照圖1(b)所示,在MOSFET的柵極和源極之間施加一電壓脈沖信號,脈沖信號的幅值在8V-15V之間,用示波器測量MOSFET的漏極和源極之間的波形,如果該波形如圖1(c)所示,并且該波形的幅值小于1V,滿足這一條件可以認為該MOSFET正常。
參考文獻:
[1]王兆安,黃俊.電力電子技術[M].北京:機械工業出版社,2001.
[2]邢巖等.電力電子技術基礎[M].北京:機械工業出版社,2009.
[3]郭榮祥,崔桂梅.電力電子應用技術[M].北京:高等教育出版社,2013.
作者簡介:梅建偉(1978.10)男,湖北麻城,副教授,碩士研究生,湖北汽車工業學院,研究方向:電力電子變換技術以及電機控制技術方面的研究。