青少年骨性Ⅱ類錯牙合前后牙合平面的測量分析

郭永明，方志欣，周 嫣，唐 倩，曾慶妍

（廣西壯族自治區人民醫院口腔正畸科 廣西 南寧 530021）

骨性Ⅱ類錯牙合畸形是正畸臨床中最常見的錯牙合畸形之一，正畸學者們對Ⅱ類錯牙合的形成和補償機制做了較大量研究,認為其形成的機制錯綜復雜。此類錯牙合畸形不僅存在矢狀方向的不調而且很多患者還存在垂直向發育過度的問題，牙列及頜骨也表現出不同于其他類型錯牙合的補償表現。而近年的多項研究顯示后牙合平面與頜骨的發育、下頜的前伸運動及錯牙合類型等密切相關[1-3]。本研究探討分析矢狀Ⅱ類骨面型患者前、后牙合平面及頜骨的特點，為進一步探索骨性Ⅱ類錯牙合畸形的形成和補償機制，為生長發育期骨性Ⅱ類錯牙合畸形的安全高效矯治提供一些參考。

1 資料和方法

1.1 研究對象：選擇2011年3月-2015年12月在筆者科室就診的患者，按照納入與排除標準選取骨性Ⅱ類錯牙合畸形患者158例，其中男69例，女89例。納入標準：①初診年齡10～17歲；②矢狀Ⅱ類骨面型，ANB＞4.7°；③上下頜牙列完整，除第三磨牙外，所有牙齒均建立咬合關系；④正中咬合時，第一磨牙呈遠中關系，尖牙呈Ⅱ類關系；⑤牙齒無明顯磨耗，無切端及牙尖的牙體組織缺損；⑥X線頭顱側位定位片顱面部軟硬組織影像清晰。排除標準：①面部有明顯畸形或者左右明顯不對稱；②有嚴重齲壞牙、多生牙或畸形牙；③牙列存在嚴重擁擠、鎖牙合或反牙合；④存在早接觸、牙合干擾或嚴重顳下頜關節病癥狀；⑤有口腔及頜面部外傷史、手術史、正畸治療或口腔修復治療史。

表1 骨性安氏Ⅱ類錯牙合高、均、低角組前后牙合平面傾斜度比較 (xˉ±s )

按垂直生長型分組：依據頭顱側位定位片下頜平面與前顱底平面的交角（MP-SN）將158例患者分為：①高角組：即MP-SN＞37.7°，共計54例，平均年齡（16.14±3.0）歲；②均角組：即27.3°≤MP-SN≤37.7°，共計78例，平均年齡（15.63±3.0）歲；③低角組：即MP-SN＜27.3°，共計26例，平均年齡（16.07±3.4歲）歲。

1.2 研究方法：頭顱側位定位片均由專業技師拍攝，拍攝機器為Instrumentarium Dental公司出產的Orthopantomograph? OP200D and Orthoceph? OC200D數字化曲面斷層全景及頭顱X光機，放大率在分析中已校正。將合格的頭顱側位定位片導入Winceph8.0頭影測量分析系統，在系統中進行定點、測量。所有觀察項目標志點的確定及測量均由第一作者在一段連續的時間內完成。2周后重復測量,兩次測量差異大于1mm或1°的測量項目進行第3次測量，取其中兩次最接近的測量值的平均值作為最終測量結果。

根據Fushima等[1]的研究，本研究選擇測量標志點、參考平面及測量項目如下：標志點11個：①U1：上中切牙切點；②U5：上頜第二前磨牙頰尖點；③U7：上頜第二磨牙咬合面中點；④Or：眶下點；⑤Po：耳點；⑥ANS：前鼻嵴點；⑦PNS：后鼻嵴點；⑧Me：頦下點；⑨MTA：下頜角下緣切線點；⑩Gn：頦頂點；⑾N：鼻根點。

參考平面6個：①AOP平面（前牙合平面）：U1點與U5點的連線；②POP平面（后牙合平面）：U5點與U7點的連線；③FH平面（眶耳平面）：Or點與Po點的連線；④PP平面（腭平面）：ANS點與PNS點的連線；⑤MP平面（下頜平面）：Me點與MTA點的連線；⑥NP平面：由N向FH平面所作垂線。

測量項目9項：①AOP-FH：前牙合平面與FH平面的前交角，當此交角在FH平面上方時為負值；②POP-FH：后牙合平面與FH平面的前交角，當此交角在FH平面上方時為負值；③OP-diff：前牙合平面與后牙合平面的交角；④Go-A（下頜支傾斜角）：下頜支后緣切線與下頜平面的前上交角；⑤PPFH：PP平面與FH平面的前交角，當此交角在FH平面上方時為負值；⑥RAM-I（下頜支角）：下頜支后緣切線與FH平面的前下交角；⑦MAND-L（下頜長度）：下頜支后緣切線與FH平面交點到Gn點的距離；⑧Pog-NP（下頜突度）：B點到NP平面的垂直距離，B點在NP平面前為正，在NP平面后為負；⑨RAM-H（下頜支高度）：下頜支后緣切線與MP平面及FH平面交點的連線距離。

1.3 統計學方法：使用SPSS22.0軟件對測量值進行統計學分析，組間差異比較采用單因素方差分析（ANOVAOne way），若方差不齊時采用Brown-Forsythe法及Welch法。組間多重比較方差齊時采用LSD法，方差不齊時采用Dunnett's T3法進行分析。

2 結果

前、后牙合平面傾斜度（AOP-FH、POP-FH）均為高角組＞均角組＞低角組，差異有統計學意義（P＜0.05），見表1。

骨性Ⅱ類錯牙合高、均、低角組頜骨相關指標測量比較：下頜支傾斜角（Go-A）和下頜支角（RAM-I）均為高角組＞均角組＞低角組，PP-FH高角組＞均角組和低角組；下頜突度（Pog-NP）、下頜支高度（RAM-H）均為低角組＞均角組＞高角組；下頜骨長度（MAND-L）高角組＜低角及均角組，以上差異均有統計學意義（P＜0.05），見表2。

3 討論

平面的概念在口腔醫學，尤其是口腔修復學、口腔頜面外科學和口腔正畸學等領域廣受關注，它與牙頜面部形態、顳下頜關節和咀嚼功能等聯系緊密，是影響口頜系統功能的重要因素之一，與下頜閉合軌道、磨牙關系、頜骨的生長發育及面部美觀等相關[4-7]。在口腔正畸學領域，牙合平面通常在X線片上被定義為一條直線，然而，正常天然牙列下頜存在約2mm的Spee曲線曲度，上頜存在相應的補償曲線，所以牙合平面并非是一條直線，而是一個曲面。基于以上原因，日本學者Fushima等[1]將牙合平面分為前牙合平面與后牙合平面。前后雙牙合平面的概念既簡單又能較好地反映實際牙牙合曲度，也利于更好地分析牙合平面與牙頜畸形及牙頜畸形的治療變化的關系，故本研究也采納了前后雙牙合平面的概念。

本研究對青少年骨性Ⅱ類錯牙合高、均、低角組前后牙合平面的測量分析后發現：前、后牙合平面傾斜度（AOPFH、POP-FH）高角組＞均角組＞低角組，差異有統計學意義（P＜0.05），說明骨性Ⅱ類錯牙合隨著下頜平面角增大，前后牙合平面傾斜度均有增大趨勢。Fushima等[1]研究認為陡的后牙合平面會表現下頜的順時針旋轉。賈秀等[8]研究認為出現陡峭的后牙合平面的原因就是下頜骨的發育不足以及下頜骨體的后下旋轉。Tanaka等[3]的研究也發現上頜后牙合平面的傾斜和下頜位置存在聯系。本研究對生長發育期高低均角骨面型患者的下頜支高度和下頜骨長度進行比較分析后也發現，高角組下頜支高度和下頜骨長度均比均角和低角組小，而且下頜支角（Go-A）和下頜支傾斜角（RAM-I）也均表現為高角組＞均角組＞低角組，進一步證明骨性Ⅱ類錯牙合高角者后牙合平面較陡峭，下頜骨體發育不良和后下旋轉，與上述學者研究結果基本一致。同時，本研究中反映下頜突度的指標也顯示高角組＜均角組＜低角組，提示骨性Ⅱ類錯牙合后牙合平面越傾斜，下頜后縮也越嚴重。

表2 骨性Ⅱ類錯牙合高、均、低角組頜骨相關項目測量比較 (xˉ±s )

骨性Ⅱ類高角者后牙合平面陡峭，下頜后縮，臨床中為了達到改善側貌的目的，希望下頜能夠逆時針旋轉，因而學者們比較注意對后牙合平面的矯治。弓國梁等[9]認為，在治療過程中有效減小后牙合平面傾斜度，垂直生長型患者也可取得良好的下頜前移效。Fushima等[1]認為增加上頜后牙區高度可以減小后牙合平面傾斜度，可以使Ⅱ類錯牙合患者下頜向前上旋轉。也有學者[10]應用微種植支抗壓低磨牙對高角病例進行垂直向的控制，結果上頜磨牙平均壓低1.8mm，下頜磨牙壓低1.2mm后，下頜平面前上旋轉2.3°。以上矯治措施或學說對上頜磨牙的控制方向相反卻可以得到同樣的效果，因此臨床上對后牙合平面的控制不應簡單理解為升高或壓低牙齒，而應綜合考慮其對整個牙頜系統的影響，其矯治機理及機制也尚需深入研究。本研究同時顯示骨性Ⅱ類高角患者前牙合平面陡峭，PP-FH角大，則患者出現開唇露齒的概率增加，矯治時應通過壓低和內收上前牙代償上下頜骨的矢狀向異常。有研究[11]認為，骨性Ⅱ類錯牙合矯治時，前牙內收過程中會產生相對伸長，會導致前牙合平面傾斜度的增加，這種前牙合平面的改變既不利于前牙區的美觀也不利于下頜可能發生的逆時針旋轉。Ye等[12]也認為對上切牙的垂直高度的控制才是使骨性Ⅱ類高角患者下頜發生前上旋轉的主要因素，因此臨床矯治中亦應注意前牙合平面的控制。由此也提示大家對不同垂直骨面型Ⅱ類錯牙合患者在治療中有針對性地對前后牙合平面進行控制，可能更有利于Ⅱ類錯牙合畸形的治療。

本研究根據垂直骨面型的不同，將骨性Ⅱ類錯牙合畸形細化為高均低角組，分別探討分析該類錯牙合畸形患者前、后牙合平面的特點，更有針對性地探索了骨性Ⅱ類錯牙合畸形的形成和補償機制。但由于骨性Ⅱ類錯牙合畸形低角者較少，本研究中低角組樣本量較小，今后需擴大樣本量深入研究。

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