防呆技術在集成電路多工位測試中的應用

李 琦，郭昌宏，李習周，張易勒

(天水華天科技股份有限公司，甘肅 天水 741000)

測試是產品到客戶端最重要的環節，其主要目的是檢測產品功能參數，根據客戶的要求將良品、不良品區分開來。在集成電路（以下簡稱IC）測試生產中，為了提高測試效率，提高產量，經常采用多工位測試方法。但是在更換測試板的過程中，經常會出現低級的錯誤，僅僅依靠人工去檢查預防測試中存在的錯誤隱患，是遠達不到要求的。因此，就要求用一種簡單容易操作的方法來預防隱患的發生。防呆技術最早是由新江滋生提出來的，目的是即便由于操作人員人為疏忽，也不會導致錯誤產生。新的操作人員只需要參加崗前培訓，在老員工的指導下，就能容易操作。為此，在實際的測試生產過程中，采取硬件部分和軟件部分進行防呆的研究與實現。

1 測試系統

1.1 測試系統結構

集成電路成品測試通常由自動測試設備（Automatic Test Equipment簡稱ATE，也叫測試機，Tester），分選機（也叫機械手 handler），測試板卡（Load board，或 DUT板），通信板卡（Signal board，也叫信號板卡）等構成的自動測試系統來完成對IC功能參數的測試。典型的測試系統結構如圖1所示。

圖1 測試系統結構

測試機與分選機的測試信號處理（正確的連接方式），如圖2所示，測試機與分選機的測試信號處理（交叉連接方式），如圖3所示。

圖2 測試機與分選機正確連接方式

1.2 測試排線交叉連接存在的風險分析及研究

以Site1上產品為良品，Site2上產品為不良品，且以雙站（Station A和Station B）并行測試為例，測試排線交叉……