發(fā)射光譜法測定化探樣品中微量銀與錫

鄢佳慧

摘要：發(fā)射光譜法測定化探樣品中的銀以焦硫酸鉀、氟化鈉、氧化鋁、石墨粉為緩沖劑，鍺為內(nèi)標，銀檢出限為Ag0.022u g/g。錫的檢出限為0.88ug/g，通過多次實驗，對實驗條件進行選擇和優(yōu)化。采用國家一級標準物質(zhì)的樣品驗證，測定結果與標準值相符。

關鍵詞：發(fā)射光譜；銀；錫；檢出限

一、儀器及工作條件：

1、儀器：CCD 1型平面光柵攝譜儀，光柵刻線1200條/mm，閃耀波長3000nm，一級光譜，中間光欄：2.5x10mmm，狹縫9um：

2、激發(fā)光源：WPF 20。交直流電弧發(fā)生器，交流電弧4A起弧，5s后電弧升至15A，保持30s。

3、電極規(guī)格：上電極為平頭柱狀，直徑4mm，長10mm；下電極為細頸杯狀，孔徑3.5mm，孔深4.0mm，壁厚0.7mm，細頸的直徑2.6mm，頸長2mm

4、光電譯譜

采用計算機應用樣條函數(shù)插值法自動擬合標準曲線，自動計算樣品中各元素的含量，并打印出分析數(shù)據(jù)。

分析線對：銀328.07/鍺326.95分析范圍：銀的分析范圍0.02-5ugu g/g，錫的分析范圍0.88-50u g/g，

二、試劑的配制

1、緩沖劑制備

2、標準系列的配制

合成標準基物由下列高純物質(zhì)混合組成：Si0272%，A120315%，F(xiàn)e2034%，CaMg（c03）2（純白云石）4%，K2S04 2.5%。混合基物在950℃溫度灼燒，冷卻后磨均備用。所用基物均應進行相應的空白實驗，驗證所含被測定元素的含量較低時才能被采用。（可以在中國地質(zhì)科學院地球物理地球化學勘查研究所購買）

標準系列中被測定元素均以穩(wěn)定的氧化物或含氧鹽形式加入到上述基體中充分磨勻而成。

三、樣品處理：

稱取0.0500克樣品，0.0500克緩沖劑，放入5ml瓷坩堝中，在烘干箱中80～100℃烘干兩小時后用光譜研磨機研磨均勻，裝入電極，滴加一滴酒精糖水，放入烘箱中，90℃烘干2小時以上，按上述儀器條件進行攝譜、測光。

四、方法檢出限

此方法進行12次空白測定，求其標準偏差，實驗得出方法銀檢出限為0.022ug/g，錫的檢出限為0.88u g/g，其標準符<<地質(zhì)礦產(chǎn)實驗室測試質(zhì)量管理規(guī)范>>的要求。

五、注意事項

1、防止操作過程中的污染是本方法的關鍵

2、樣品與緩沖劑要保證混勻，磨樣要仔細

3、烘樣溫度不能過高

4、攝譜時曝光時間要一致

5、曲線的選擇要根據(jù)含量范圍控制，選擇要合理

六、結論

本文分析了發(fā)射光譜法中各個影響測定的因素，分析具體，操作方便簡單，結果穩(wěn)定可靠，通過國家級標準物質(zhì)的測定，選用合適的實驗條件，結果均滿足或優(yōu)于規(guī)范要求，準確度與精密度能滿足日常分析測試的需要，適用于化探樣品中銀元素與錫元素的批量分析。