陳天寶
(海南醫學院第二附屬醫院設備科,海南 海口 570311)
所有探頭在二維或者彩色模式下,均可能隨機性出現干擾,持續時長可能一閃而過,可能持續數秒,也可能一直存在。圖1、2 為用戶所記錄的故障圖。

圖1 2017 年用戶所拍故障圖b

圖2 2017 年用戶所拍故障圖b
超聲設備的成像易受外界空間電磁波及電網干擾,外界干擾需要作為干擾的首要考慮因素,設備周圍的電氣設備:如UPS 不間斷電源、插線板,電腦、電梯、熒光燈超聲刀、生化設備等都將可能是干擾源。外部引入的圖像干擾往往有如下幾種特征:(1)出現頻率有隨機性或不確定性;(2)干擾圖像往往在中遠場部分,呈現水波紋狀,從左往右或從右往左滾動,也即按一定方向滾動;(3)在探頭接觸人體時干擾會出現或者強度增強,不接觸人體時干擾會減弱甚至消失;(4)出現干擾時,如果被檢查者將手和機器外殼相接觸,或者設備接入專用地線,可能會減弱干擾的強度。外部干擾的排查措施,包括隔離周圍電氣設備、更換設備場地、連接專用地線、設備底部鋪墊銅絲屏蔽網等。
設備的圖像由眾多板塊合作處理而成,總的來說,由前端采集模塊負責超聲波發射接收,經有FEC、彩虹線發送至后端進行圖像處理最終由顯示系統顯示;電源系統負責前后端電壓的供應;AP&I 負責提供參數表,如圖3 為所示。

圖3 M-mode and Color Front-end Signal Path Block Diagram
那么參與圖像成像及相關的因素包括:前端采集模塊的探頭、CB、NAIM、SHSEL、AFP、FEC(包括FEC 的參數配置);后端處理的有:DSC、母版、顯卡;顯示系統有:UAVIO、屏幕。此外前端的高壓脈沖及電路板工作電壓,是由電源的APS 提供,電源提供的幾組電壓中,+3.5Vdc、+-5.3Vdc 是前端模擬電路的工作電壓;15Vdc、+48Vdc 經過前端母版AFP 給到高壓板NAIM,由高壓板進行調節成高壓脈沖,通過四塊通道板執行波束形成發射,所以電源需要作為考慮因素之一,包括電源至AFP 的線纜Segment1;此外FEC 至DSC 的彩虹線作為前后端數據的傳輸通路,也應考慮。
根據此設備干擾圖像的特征:腹部模式下彩色時規則的直射線狀、二維時全場隨機性散狀閃爍點;位置:彩色干擾從扇區根部發射到中遠場;強度:比較固定,不受人體接觸探頭與否、以及干擾時人體接觸機殼或接地而變化;斷開房間內所有電器設備,僅使IU22 通電,故障依舊,排除場地外界因素。
(1)任意僅接1 個探頭,故障依舊;不接探頭,單獨Fake1 個C5-2 探頭,故障依舊;排除探頭引起,故障確定為機身內部。
(2)選用出廠默認預設調節,并嘗試關閉Sonoct、Xres,調節Iscan、2D 及Color 增益,無效;排除圖像預設參數引起。
(3)Debug 前端信息正常、電壓溫度自檢正常、下載Log 查看運行記錄及前端電壓溫度,正常;初步判斷和電壓、溫度沒有關系。
(4)Tech Admin 后臺刷前端FEC 配置無效;執行2D及Color 的Data Path 自檢,結果為Passed。
(5)執行Channel Walk 等排查。均是使用的Board、Manual 手動模式;因考慮C5-2 探頭的干擾特征最具特征性,故所有的Channel Walk 均是在C5-2 探頭下執行。因執行Channel Walk 過程中,多次對調老CB,以及后面更換新CB,以防混淆,我們把維修之前機器原始狀態的四塊舊CB,分別為CB0、CB1、CB2、CB3 定義為④號、③號、②號、①號進行實驗。
(6)驗證結論。設備觀察數日,干擾圖像沒有再發生。確定故障已經解決。根據之前得出的結論:干擾圖像是由②號和③號通道板共同引起的。也就是說:這個舊的AFP 同樣是引起干擾的原因之一,而且它會造成Channel Walk 的結果指向CB2 及CB3 存在問題。原來,在我嘗試兩個新CB 不能解決故障后,更換了AFP,雖然此時把有問題的AFP 拿下來了,但由于DOA 的CB 一直在上面,所以故障一直不能解決,直到把這個DOA 的CB 取下來,機器才恢復正常。至此我認為故障由兩塊CB 及AFP 同時引起的可能性非常小,決定把之前驗證舊通道時,沒有觀察到干擾的②號通道板裝回觀察,此時搭配的是新AFP。觀察若干日機器正常。
更換一塊AFP 及一塊CB。第二塊新CB 因同樣圖像干擾申請DOA,第一塊元件老化的CB 導致圖像通道缺失及開機報錯503 申請DOA。
(1)進行實驗時CB2 位置的N2 和CB3 位置的N3 進行對調,此時的Channel Walk 結果為何會從CB2、CB3 都有干擾故障,變為只是CB3 有干擾故障?
(2)在壞的AFP 搭配情況下,Channel Walk 的結果出現異常可以理解,但是在實驗驗證③號通道板時,此時搭配的是新AFP 及新SHSEL,單獨把有問題的③號通道板放回CB2 位置,為何此時的Channel Walk 結果,是提示CB2 及CB3 都有干擾?
上述兩點都是說:有問題的CB 如果在CB2 的位置,可能會引起Channel Walk 的結果提示CB2 及CB3 有問題。這個情況究竟是否屬于個例還是在特殊情況下會真實存在,需要更多的案例來驗證。假設其是一個在特殊情況下的真命題,那么以后我們執行Channel Walk 時,如果同時提示CB2 及CB3 有問題,此時不妨先對調CB2 及CB3 位置進行觀察結果變化與否,而不著急去對調CB0、CB1 及CB2、CB3 的位置。
(1)執行任何一個動作,相應地做好筆記記錄,如做了什么維修動作,此時的故障現象特征有無變化、自檢等檢測結果如何,進行一一對應,不混淆;如,每次更換CB 如果干擾持續時間長度允許的話都要做Channel Walk,而且記錄好每個步驟后的干擾的位置、持續時間、強度等信息變化。
(2)跳出思維禁錮,由于圖像特征明顯,一直認為故障是CB 引起;思維定勢:認為故障屬于單一故障,不曾假設,同樣的故障現象可能由多個同類型板塊公共引起,甚至可能由不同類型板塊共同引起;特別在存在備件DOA 等干擾因素的情況下,更要大膽設想,小心求證。
(3)手上有新的備件(如果已經拆封)則使用新的備件,這樣可以排除舊備件的干擾和影響,待徹底解決故障后,再將無關的備件裝回。
(4)維修,是不斷判斷、假設、驗證、再判斷、再假設、再驗證的過程。當提出一個假設或者結論后,需要推敲它的可靠性及真實性,如果存在疑問或違背理論的地方,一定要進行驗證。
(1)可以把這塊舊CB、AFP 及疑是DOA 的新CB,拿至同型號版本的機器上再進行測試驗證。
(2)不急于操作更換備件,對于故障,執行足夠長的時間觀察或者檢測,盡量得到多一些的診斷信息。在輪換第一塊新通道時,雖然幾次都是干擾時間很短不足以做Channel Walk,實際可以更再耐心一些,多花些時間等待,等到干擾持續出現時,進行Channel Walk,以此得到更多信息。
(3)在使用第二塊新CB 時,應該再單獨輪換一遍,如果故障依舊,那么雖然不能判斷第一塊CB 或者第二塊CB 是否哪塊存在DOA,但能夠得出一定的結論,比如,故障不是CB 引起;或者故障是由大于等于兩塊CB 引起,或者故障是由CB 及另外元件組合而成的復合故障。因為我們定的兩塊新CB 同時同樣的DOA 現象的可能性實在太小,當然,特殊時候也需要考慮此可能性。
假設設備存在2 個CB 相同故障,且懷疑我們定的CB 板中存在DOA 相同故障,那么我們在不使用Channel Walk 的情況下,如何最快速度通過排列組合方式排查清楚,確定哪個是DOA,及哪2 個CB 是壞CB?
單獨用第一塊新CB 輪一遍,解決不了;再使用第二塊新CB 輪一遍,解決不了,此時說明壞的CB 不止一塊。根據排列組合,原來設備有四塊CB,其中兩塊是壞的,加上訂的兩塊CB,假設訂的CB 沒有存在DOA,此時組合方式共有6 種,如果盲拼,解決故障的概率為:16.7%;如果訂的兩塊CB 中,假定存在一塊DOA,那么第三塊CB 到場,分別用第三塊和第一塊作為組合,或者用第三塊和第二塊作為組合,盲拼的話,此時解決故障的概率為:8.3%;如果訂的三塊CB 中,不確定哪塊存在DOA,盲拼的話,此時解決故障的概率為:5.6%。因此必須使用有效的排查手段和利用診斷工具,避免盲目拼湊。盡量及盡早確定某一塊壞的CB,首先把它替換掉,讓故障從組合故障轉變為單一故障,這時的維修難度將大大降低。