王貴梅 王德昌 張福慶 張永 王玉肖
(晶澳太陽能有限公司,河北邢臺 055550)
在晶體硅電池產業制造過程中,P型硅普遍采用技術路線為SE-PERC(Selective Emitter-Passivated Emitterand Rear Cell,選擇性發射極背鈍化電池),一般背面鈍化膜采用氧化鋁+氮化硅,正面鈍化膜采用氮化硅結構,氮化硅薄膜采用管式PECVD(Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition,等離子增強化學氣相沉積)制備,氧化鋁薄膜采用ALD(Atomic Layer Deposition,原子層沉積)或者PECVD等方式制備。ALD方式制備的氧化鋁結構更接近其化學計量比,薄膜致密,可實現原子級的控制精度,薄膜均勻性好,相比CVD技術,ALD制備的薄膜雜質少,均勻性好,尤其是可實現低溫沉積減少對硅片的損傷,而且氣體耗量低,相對較薄的厚度就能達到較好的鈍化效果[1]。本文基于ALD方式沉積氧化鋁工藝路線基礎上分析驗證管式PECVD石墨舟印EL(Electroluminescence電致發光)發黑異常原因及解決措施,通過各個影響點針對性的管控優化提升產品良率。
EL測試原理是利用晶體硅的電致發光原理,利用高分辨率的紅外相機拍攝電池的近紅外圖像,獲取并判定電池的缺陷。測試時在電池上施加正向偏壓,獲得載流子擴散長度的信息,EL發黑區域表明電池片串聯電阻高或者并聯電阻低,或者少子被復合[2],石墨舟印EL發黑為雜質導致少子復合。
本文采用蘇州捷運昇能源科技有限公司的WAVELABSSINUS-200檢測成品太陽電池的電性能和進行EL測試。典型石墨舟印EL發黑如圖1所示,受污染類型、程度、EL參數設置差異等因素影響,石墨舟印EL發黑嚴重程度表現可能存在差異性。
圖1 石墨舟印EL圖片
基于單晶P型電池SE-PERC電池片生產工藝如圖2所示,分析驗證石墨舟清洗機、烘干機雜質污染石墨舟、石墨舟不同呆滯時間、石墨舟工藝時出現真空泵突然停止粉塵噴舟等因素對石墨舟印EL發黑的影響。
圖2 SE-PERC電池片生產工藝
在工業化PECVD生產中,常用氮化硅做硅片的鈍化膜。由于氮化硅鈍化介質膜具有良好的絕緣性,隨著石墨舟工藝次數的增加,在石墨舟舟片表面會沉積一層較厚的氮化硅薄膜,對石墨舟導電性能產生一定影響,對電池片光電轉換效率、外觀顏色等存在不良的影響,因此石墨舟需要定期清洗[3],SE-PERC產線上石墨舟一般在工藝次數達到60~80次時下線清洗。 根據氮化硅的化學特性,在工藝化生產過程中,一般使用HF酸進行腐蝕[4],去除石墨舟表面的氮化硅薄膜,在實驗過程中使用的45%濃度的HF酸與水體積比例為2:7的混合溶液,石墨舟酸洗時間為6h,經過HF酸清洗后,水噴淋清洗1h,再進行5h的水洗,隨后取出石墨舟,進行氮氣風干表面。此外,還需要在150℃~200℃烘干機中進一步烘干石墨舟內部水分,在烘干過程中,需要保證烘干腔體內負壓,并持續進行氮氣吹掃,保證石墨舟所攜帶水汽全部排出。
本次實驗使用4臺清洗機和2臺烘干機,其產能對應關系如表1所示,其中烘干機1腔體內護板、風機加熱管表面存在粉末附著污染,烘干機2腔體內護板、風機加熱管表面潔凈,目視無污染,如圖3所示。
表1 清洗機和烘干機產能對應表
圖3 不同烘干機內部外觀對比
烘干機1腔體護板、風機加熱管表面產生粉末,分析主要原因為石墨舟吸附的酸性液體,在高溫下揮發,多次工藝下經過長時間腐蝕,與烘干機內部部分金屬材質發生反應,導致金屬材質被腐蝕。對烘干機1表面粉末進行分析,實驗用電子顯微鏡進行元素質譜分析掃描成份,測得元素分析如表2所示,其中O和C可能來源于空氣,F為氫氟酸和氮化硅的反應產物或氫氟酸殘留提供,Fe為烘干機部件材質提供,經過長時間氧化、腐蝕形成含鐵的化合物,該粉末用吸鐵石可以吸附。Fe對于半導體硅而言屬于深能級雜質,是復合中心,具有降低硅中載流子壽命的作用[5]。跟蹤烘干機1對應產線烘干石墨舟生產電池片,其石墨舟印EL發黑比例明顯異常偏高在4%以上,烘干機2對應產線烘干石墨舟生產電池片,石墨舟印EL發黑比例小于0.02%,具體如圖4所示。
表2 烘干機內部粉塵元素分析
圖4 清洗機、烘干機對應石墨舟印EL比例
實驗用烘干機臺1比烘干機臺2早投入使用3個月左右,我們分析粉末受時間積累影響,導致烘干機1相較烘干機2粉末狀況差,持續觀察烘干機臺2粉末積累隨著時間有增加趨勢,佐證粉末受時間積累影響。對烘干機進行精細化維護,主要包括拆卸舟架、內部護板,并使用纖維紙對舟架、內部護板、風機加熱管進行徹底的清理,將相應內部附著物全部徹底清理干凈。按上述方法清理后,跟蹤對應石墨舟生產的電池片EL石墨舟印比例下降至1.5%~2% 未達到正常0.05%以下水平。我們分析石墨舟循環使用,清洗過程中將Fe帶到清洗機各槽體,形成交叉污染。因此,針對相應清洗機進行HCL泡槽和維護,清洗機維護后,再次跟蹤對應石墨舟生產的電池片EL石墨舟印EL比例為0.01%,恢復至正常水平。石墨舟烘干機每月精細化維護清理內部粉末,石墨舟清洗機每月進行HCL泡槽維護,有助于降低石墨舟印EL發黑的產生比例,如表3所示。
表3 改進前后石墨舟印EL對比
石墨本身是由碳原子組成,石墨是元素碳的一種同素異形體,碳的空隙結構使石墨材料具備良好的吸附性,可以用作吸附水分、氣味、有毒物質等[6]。石墨舟飽和的目的是防止出現電池片品質等異常,通常做法是在石墨舟上沉積一層幾百甚至上千納米的Si3N4保護薄膜,此保護薄膜一方面可以減少石墨舟對周圍環境中水分、氣味等的吸附作用;另一方面防止鍍膜時石墨舟片出現和硅片“搶食”現象,形成鍍膜色差[7]。石墨舟在飽和前更容易吸附環境中的水汽和雜質受污染,安排石墨舟烘干后、飽和前不同呆滯時間條件對比,發現呆滯時間越長,生產的電池片石墨舟印EL發黑比例越高,如表4所示,28h石墨舟印比例急劇上升。因此控制石墨舟烘干到飽和時間是有必要的,要求烘干12h以內進行飽和。具體呆滯時間與石墨舟印比例關系和石墨舟呆滯所處環境溫濕度、潔凈度直接相關。因此,這種規律性是相對重要的,時長和比例可能會跟隨石墨舟存放環境的溫濕度、潔凈度改變而改變。
表4 石墨舟烘干到飽和呆滯時間與石墨舟印比例
管式低頻直接法PECVD設備采用電阻式加熱將整個爐管加熱到工藝所需溫度,石墨舟由耐高溫的SIC槳放置在爐管內部。石墨舟尾部與射頻電極相連接,PECVD工藝需要在低壓環境下完成,真空泵是實現低壓、穩定低壓的必要條件。真空泵通過特殊材質的真空管道與爐管相連,完成對爐管的抽真空目的。在一定壓力下,通入生成相關減反射鈍化膜所需的特氣,待壓力穩定后,打開射頻電源,相鄰的石墨舟片間形成正負極,特氣在兩兩相鄰的舟片間發生紫色的輝光放電,輝光放電會分解舟片間的特氣,使其形成離子態,最終結合成相應的分子沉積在硅片、舟片表面。未反應的特氣及相應介質膜反應產物,會在真空泵抽力的作用下排出爐管。
管式PECVD工藝過程對爐管的真空度有一定的要求,目前工藝下,一般壓力控制范圍為1200m~2000m Torr(毫托),通過真空泵在爐管尾部抽出內部空氣及反應殘留物實現[8]。在工藝過程中,因機臺自身問題,外部動力環境因素等不可避免地會出現工藝中斷情況。出現真空泵異常停止或者真空泵轉速下降情況,因爐管內部壓力較低,此時尾排氮化硅粉末等異物會通過真空泵管道返回爐管內部,粉塵污染石墨舟及其載放的硅片,該硅片下傳,或者該石墨舟繼續載片生產,都會出現麻點狀石墨舟印EL發黑,如圖5所示。真空泵出現異常停止或者真空泵轉速下降異常情況,對應的硅片需進行轉返工處理,不進行下傳,對應石墨舟應下線清洗、烘干后重新上線。同時對應異常爐管根據返尾排氮化硅粉末的多少,進行對應改善動作。其一,若返尾排氮化硅粉末較少,表現為舟表面有輕微粉塵,爐管內部基本正常,需要對爐管進行大流量氮氣清洗,如圖6所示。其二,若尾排氮化硅粉末較多,表現為爐管內部出現大量粉塵,如圖7所示,需要對爐管進行降溫,用專用吸塵器進行清理,清理后升溫、飽和爐管,然后再復機。按上述方法能夠有效規避此類EL不良的發生。
圖5 石墨舟工藝時出現真空泵停止
圖6 真空泵異常時返尾排氮化硅粉末較少
圖7 真空泵異常時返尾排氮化硅粉末較多
管式PECVD石墨舟印EL發黑產生的原因為石墨舟受到雜質污染,雜質可能來源于石墨舟清洗機、烘干機(尤其是內部材質含金屬Fe污染對石墨舟印發黑影響嚴重),環境水汽、氣味、做工藝時尾氣粉塵等。采取相對應的管控措施,如烘干機制訂清理維護周期,清洗機定期用HCL泡槽,控制石墨舟呆滯時間,石墨舟烘干8h以內必須進行飽和,飽和上線使用后,呆滯時間超過2h熱舟,超過16h需要重新清洗、烘干,及時飽和才能保證品質正常,具體時長可能會跟隨石墨舟存放環境溫濕度、潔凈度改變。石墨舟工藝時,真空泵異常停止的電池片轉返工處理,不進行下傳,相應爐管進行清理、飽和后進行復機,以上措施管控同時應用,能夠解決石墨舟印EL發黑異常,提升電池片良率。