朱長軍、沈汝澄、曹魏、張璁、羅臻 /中國運載火箭技術(shù)研究院

故障模式影響及危害性分析(FMECA)是一種系統(tǒng)的、標準化的故障模式分析方法,可以有效提高產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性,在航空、航天、兵器、船舶、汽車等工業(yè)領(lǐng)域得到了廣泛使用。FMECA是一種可靠性分析技術(shù),針對指定產(chǎn)品生產(chǎn)過程中所有可能的故障,根據(jù)對故障模式的分析,確定每種故障模式對產(chǎn)品功能和性能的影響,找出故障原因,并按故障模式的嚴重程度和發(fā)生概率確定其危害性,采取措施降低發(fā)生概率、提高可檢測性,從而使風(fēng)險得到有效控制。
國內(nèi)在航天器設(shè)計方面已經(jīng)普遍推行FMECA,對提高航天器的可靠性發(fā)揮了重要作用。在產(chǎn)品成型、加工和裝配等制造工藝可靠性分析方面,國內(nèi)開展的研究工作有限,與國外成熟的可靠性管理體系相比存在較大差距。本文采用國軍標《故障模式、影響及危害性分析指南(GJB/Z1391)》方法,以某型號新研的儀器艙殼體粘接裝配(套裝)開展工藝FMECA研究工作。通過開展此項研究工作,從不同角度識別套裝工藝基本過程可能存在的故障模式、故障原因,采用風(fēng)險優(yōu)先數(shù)(RPN)進行優(yōu)先排序,對關(guān)鍵過程采取有效的改進措施降低風(fēng)險,直到RPN值滿足可接受的水平,同時將改進措施落實到儀器艙殼體套裝工藝中,提高產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性。
儀器艙殼體為圓臺體結(jié)構(gòu)形式,由金屬殼體(內(nèi)層)和保護套(外層)組成,結(jié)構(gòu)如圖1所示,其中金屬殼體為鋁合金材料,分大小端,殼體外表開槽使用硅橡膠固定敷設(shè)的光纖;保護套為非金屬材料,從金屬殼體小端套入,通過硅橡膠與金屬殼體外表面粘接裝配形成整體。儀器艙殼體的工藝FMECA流程如圖2所示。

圖1 儀器艙殼體結(jié)構(gòu)簡圖

圖2 儀器艙殼體工藝FMECA流程
系統(tǒng)定義包括功能分析、繪制工藝流程圖、零部件—工藝關(guān)系矩陣。
儀器艙殼體的主要功能是在嚴酷的外部環(huán)境條件下使儀器艙內(nèi)部溫度適宜,確保儀器設(shè)備正常工作,同時通過金屬殼體上光纖采集工作過程中艙體的某些關(guān)鍵信息。儀器艙殼體裝完成后,要求保護套粘接質(zhì)量滿足要求,且金屬殼體表面敷設(shè)的光纖導(dǎo)通。
工藝流程圖表示各工序相關(guān)工藝流程的功能和要求,是FMECA的準備工作。其要求根據(jù)儀器艙殼體的工藝流程,完成對應(yīng)的輸入和輸出結(jié)果分析。
儀器艙殼體生產(chǎn)的基本工藝流程為:準備工作、保護套和金屬殼體表面處理、膠黏劑配制、保護套套裝和固化、套裝質(zhì)量檢測、光纖導(dǎo)通測試。根據(jù)儀器艙殼體套裝工作要求,梳理每一道工序?qū)?yīng)的輸入要求和輸出結(jié)果(見表1)。

表1 儀器艙殼體套裝工藝流程
儀器艙殼體產(chǎn)品主要有3項技術(shù)指標和7個工藝過程,根據(jù)各項技術(shù)指標要求,分析每項工藝過程結(jié)果對應(yīng)的技術(shù)指標,形成工藝關(guān)系矩陣(見表2)。

表2 儀器艙殼體工藝關(guān)系矩陣
工藝故障模式是指不能滿足產(chǎn)品加工、裝配過程或設(shè)計要求的工藝缺陷,是可能引起下游工序故障模式的原因,也可能是上游工序故障模式的后果。針對儀器艙殼體套裝工藝,通過分析粘接裝配過程,保護套粘接裝配的脫粘面積和粘接性能、光纖網(wǎng)絡(luò)導(dǎo)通是重要的性能和功能指標,針對此開展故障模式分析。
保護套與金屬殼體粘接強度低、脫粘面積差、粘接性能低,造成運輸、保管或工作過程中保護套與金屬殼體分離脫落,主要因素有金屬和保護套與膠黏劑結(jié)合強度不足、膠黏劑本體強度不足、固化工藝不適宜等。
光纖破損造成光路不通,光纖采集信息功能降低,主要因素是光纖受壓過大、涂覆膠黏劑工具刮傷等。
通過RPN評估儀器艙殼體工藝過程質(zhì)量風(fēng)險大小,制定相應(yīng)的解決措施。RPN是對工藝潛在故障模式風(fēng)險等級的評價,它是工藝故障模式發(fā)生可能性及后果嚴重性的綜合度量。RPN數(shù)值越大,該工藝故障模式的危害性越大。RPN是工藝故障模式的嚴酷度等級()、工藝故障模式的發(fā)生概率等級()和工藝故障模式的被檢測難度等級()的乘積,即RPN=**。
嚴重度():指某種失效模式發(fā)生時的嚴重程度。嚴重度采用參考評價準則進行評估,評估分為1~10 分。
失效原因發(fā)生頻度() :指失效原因發(fā)生的可能性。對發(fā)生頻度標明等級,分值為1~0。
探測度():指問題被發(fā)現(xiàn)并阻止失效發(fā)生的可能性。發(fā)現(xiàn)的可能性越小,探測度越大。
風(fēng)險級別(RPN):風(fēng)險級別是FMECA 分析中的一個重要參數(shù),它是嚴重度、頻度、探測度相乘得出的數(shù)值。RPN越大,失效的影響越大。
膠黏劑與金屬殼體和保護套容易脫落。粘接前,需要對套裝粘接面(金屬殼體外表面和保護套內(nèi)表面)進行吹砂處理,以增加粘接面的粗糙度,提高粘接性。吹砂處理完成后如果長時間暴露在空氣中也會影響粘接性能,因此在吹砂處理完成后需要在規(guī)定時間內(nèi)進行粘接工作。
主要體現(xiàn)在界面粘接強度上。不同組分配比的膠黏劑與金屬材料或保護套材料粘接強度不同,可使用工藝試驗與金屬殼體和保護套粘接強度最佳的膠黏劑,同時需要綜合考慮膠黏劑強度。
膠黏劑的性能與其保管使用方法相關(guān),保管使用不當(dāng)也會造成保護套粘接質(zhì)量問題。采購膠黏劑各組分材料時按照標準進行性能復(fù)驗,滿足要求方即可入庫;領(lǐng)用時確認各組分均在保管期內(nèi);雙崗制配制膠黏劑,嚴格按配方要求稱量各組分并攪拌均勻;在限定時間內(nèi)完成保護套套裝。
實施保護套套裝時,金屬殼體上均勻涂覆適量膠黏劑,將保護套套入金屬殼體,如果套裝時保護套與金屬殼體間隙控制不當(dāng),容易填充氣泡。因此,設(shè)計套裝專用工裝,確保套裝時保護套與金屬殼體間隙均勻變小直至貼合,確保無大氣泡存在;套裝后靜置一段時間進一步排除氣泡,根據(jù)需要補填膠黏劑;采用抽真空方式固化,進一步排除氣泡,從而提高粘接質(zhì)量。
固化工藝參數(shù)尤為重要,參數(shù)錯誤會直接影響套裝質(zhì)量。在不考慮設(shè)備故障的前提下,工藝參數(shù)錯誤造成的原因可能有參數(shù)輸入錯誤,傳感器安裝位置不當(dāng)導(dǎo)致的數(shù)據(jù)采集無效等操作方面的原因,可通過雙崗確認、定時檢查等方式確認固化過程的正確性。
金屬殼體外表面挖槽并布有光纖,光纖用于檢測金屬殼體表面受沖擊情況,破損的光纖無法采集有關(guān)的信息。
保護套固化采用加溫加壓的工藝方法。一般情況下,壓力越大,保護套、金屬殼體和膠黏劑的粘接強度越大。由于光纖強度不高,套裝壓力大可能造成光纖受壓損傷,在制定套裝固化工藝時,充分考慮光纖所能承受的壓力情況,通過降低套裝壓力、延長固化時間,確保膠黏劑粘接質(zhì)量和光纖不受壓力損傷。
金屬殼體上使用工具涂覆膠黏劑,工具使用不當(dāng)可能損傷光纖。選用材質(zhì)柔軟、寬度大于金屬殼體表面光纖槽的橡膠刮刀進行膠黏劑涂覆,同時刮刀與金屬殼體夾角約為30°,可避免刮刀刮傷光纖。
金屬殼體表面敷設(shè)的少量填充光纖的硅橡膠高于殼體表面,在進行保護套套裝時是應(yīng)力集中點,在正常套裝壓力下光纖易受損傷。在進行金屬殼體套裝前,對高于表面的硅橡膠進行打磨處理,使其低于金屬殼體表面,避免應(yīng)力集中造成光纖損傷。
FMECA對儀器艙殼體套裝工藝進行FMCEA分析及風(fēng)險評估(見表3)。

表3 儀器艙殼體FMECA風(fēng)險評估表
套裝工序作為儀器艙殼體裝配的重要工序,其質(zhì)量直接關(guān)系到儀器艙殼體功能的可靠性。通過優(yōu)化工藝參數(shù)、加強工藝過程控制,使儀器艙殼體的套裝質(zhì)量和可靠性滿足設(shè)計要求。
在儀器艙殼體套裝質(zhì)量控制的研究過程中引入工藝FMECA 方法,可提前識別風(fēng)險,制定有效控制措施,優(yōu)化工藝過程,縮短了產(chǎn)品研制生產(chǎn)周期,提升了套裝工藝質(zhì)量和過程控制能力,降低了制造成本。工藝FMECA是一個動態(tài)的、反復(fù)迭代分析的過程,隨著對工藝過程的認識加深、設(shè)備和檢測等能力的逐步提升,儀器艙殼體套裝質(zhì)量可靠性還能持續(xù)提高。