齒科錐體束CT與頭顱側位片判斷安氏I類錯頜畸形患者上頜磨牙后間隙的準確性對比

苗 博，李 歡，趙 強

（航空總醫院口腔醫學中心，北京 100012）

臨床中，安氏I類錯頜畸形是比較常見的錯頜畸形類型。對于安氏I類錯頜畸形而言，通常需要進行患者牙弓內的間隙管理，亞洲人多見于牙列擁擠，導致患者面部美學受到嚴重影響。如需解除牙列擁擠帶來的影響，則需要考慮促進牙量與骨量的協調，常見的方法有減數拔牙、片切、擴弓和推磨牙向后等。對于推磨牙向后的治療手段而言，需要對第二磨牙遠中的骨量進行精確地測量，如數值有較大誤差，則會對正畸方案的制訂造成重大的影響。拍攝頭顱側位片是研究顱頜面部區域軟硬組織形態和生長的主要方法之一[1]。在頭顱側位片上，正畸醫生可以通過觀察頸椎椎骨的形態，大致判斷患者的生長狀態，用來預測其何時進入快速生長期。但頭顱側位片也存在天然的劣勢，即雙側結構在X線片上的重疊有可能會給醫生的正畸測量帶來誤差。錐形束CT（CBCT）于1998年在歐洲引入牙科，并于2001年在美國被批準使用[2-3]。在口腔正畸學中，CBCT可以更好地使醫生評估牙齒與骨的生長位置，同時顯像效果也更加優秀，可以發現更細微的病情變化[4]。在咬合判斷方面，CBCT也有其獨特的優勢，如偏頜、開合患者不僅需要排除顱面骨形異常的情況，還需要通過圖像分析咬合不調的類型，而傳統的2D片無法精確測量出雙側髁突、下頜升肢的差值，但CBCT可以準確地測量，為病情的評估帶來無可估量的價值[5-6]。但有研究指出：在進行X線診療的時候需要遵循最小放射劑量原則[7-8]。相較于CBCT，頭顱側位片在輻照劑量上更少，具有優勢[9]?；诖耍狙芯客ㄟ^對80位安氏I類錯頜畸形患者進行CBCT及頭顱側位X線檢測報道，并分析測量結果數據，判斷二者在臨床檢測中的價值，具體如下。

1 資料與方法

1.1 一般資料本研究的對象是2020年1月至12月在航空總醫院口腔醫學中心診療的安氏I類錯頜畸形患者，共80例。其中男性40例，女性40例；年齡18～29歲，平均年齡（23.5±3.5）歲。所有患者都簽署了知情同意書，并被告知其數據可能用于研究目的。本研究獲得了航空總醫院醫學倫理委員會批準（編號HK2002-38）。納入標準：①恒牙列完好；②上頜第二磨牙已建合且無修復體；③無牙周?。虎芪催M行過牙拔除術。排除標準：①有正畸史；②有全身系統性疾病。安氏I類錯頜畸形的診斷標準為：上下頜骨及牙弓的近、遠中關系正常，即當正中頜牙合時，上頜第一恒磨牙的近中頰尖咬合于下頜第一恒磨牙的近中頰溝內[10]。

1.2 研究方法

1.2.1 數據收集 由一位拍片員使用同一部X線機（SHINVA口腔綜合治療機，中國山東淄博市）拍攝CBCT及頭顱側位片。設備見圖1。CBCT采用電壓85 KV，電流為16 mA，曝光時間9.5 s。頭顱側位片電流為5 mA，電壓為110 kV，掃描范圍15 cm×15 cm，曝光時間3.6 s。

圖1 SHINVA口腔綜合治療機

1.2.2 測量方法 CBCT的測量方法：如圖2，測量右側磨牙后間隙。先確定上頜第一磨牙、上頜第二磨牙的頰尖連線，再確定合平面，過左上頜第二磨牙遠中面釉牙骨質界做垂直于合平面的垂線，交合平面于A點。過左側上頜結節做垂直于合平面的垂線，交合平面于B點，A與B的距離為L1。對側同理，測出L2。則兩側磨牙后間隙的平均值L=（L1+L2）/2。3次測量后取平均值。

圖2 CBCT的磨牙后間隙測量

頭顱側位片的測量方法：如圖3，先確定合平面的直線，過雙側上頜第二磨牙釉牙骨質界做垂直于合平面的垂線，交合平面于B。過雙側上頜結節遠中做垂直于合平面的垂線，交合平面于A點，A與B的距離為L。如雙側第二磨牙出現重影現象，則取點為兩個重影位置的中點。3次測量后取平均值。

圖3 頭顱側位片的磨牙后間隙的測量

1.3 統計學分析應用SPSS19.0統計學軟件對數據進行分析。計量資料以以（±s)）表示，檢測樣本方差齊性后進行獨立樣本t檢驗。如方差齊性差，則進行秩和檢驗，P＜0.05為差異有統計學意義。

2 結果

2.1 對比兩種測量方法所得的上頜磨牙后間隙長度 CBCT組測量的上頜磨牙后間隙長度與頭顱側位組測量的結果對比，差異無統計學意義（P＞0.05），見表1。

表1 對比兩種測量方法所得的上頜磨牙后間隙長度（±s)）

表1 對比兩種測量方法所得的上頜磨牙后間隙長度（±s)）

組別例數上頜磨牙后間隙長度（mm）CBCT組805.84±1.09頭顱側位組806.02±1.14 t值-1.043 P值＞0.05

2.2 CBCT檢測同一患者兩側磨牙后間隙長度的對比CBCT檢測同一患者兩側磨牙后間隙長度的結果對比，差異無統計學意義（P＞0.05），見表2。

表2 CBCT檢測同一患者兩側磨牙后間隙長度的對比（±s)）

表2 CBCT檢測同一患者兩側磨牙后間隙長度的對比（±s)）

組別例數上頜磨牙后間隙長度（mm）CBCT組（左）805.76±1.09 CBCT組（右）805.92±1.08 t值-0.940 P值＞0.05

2.3 頭顱側位片檢測男性組與女性組兩側磨牙后間隙長度頭顱側位片檢測不同性別患者兩側磨牙后間隙長度的結果對比，差異無統計學意義（P＞0.05）,見表3。

表3 男性組與女性組上頜磨牙后間隙長度的對比（±s)）

表3 男性組與女性組上頜磨牙后間隙長度的對比（±s)）

組別例數上頜磨牙后間隙長度（mm）男性405.65±1.25女性406.03±0.87 t值-1.566 P值＞0.05

3 討論

正畸是口腔醫學中的重要分支，主要針對各種類型的牙齒錯頜畸形、頜骨錯頜畸形和頜骨周圍肌肉神經不協調。在正畸中，臨床常利用各種不同類型的矯治器，矯正上下頜骨、上下牙齒及顏面部神經肌肉的發育異常。對于錯頜畸形導致牙列擁擠的患者而言，患者需要排齊整平牙列，就需要更多的能夠使牙齒排齊的空間。除了常用的片切、擴弓、牽引等手段外，推磨牙向后也是常用的手段。磨牙后間隙就是推磨牙向后法可利用的空間?？紤]到患者牙齒的健康及創傷最小化原則，醫生們通常更傾向于用創傷更小的方式來達到治療的目的從而改善患者顏面部的美觀。

有學者認為，在女性13歲、男性16歲后，牙弓的長度、寬度不會發生顯著變化[11]。這證明在上述年齡段之后，人顱骨的橫向發育基本定型，而此時患者牙弓長度如果小于牙列長度，則會造成擁擠。如果患者具有智齒的牙胚埋在骨內，則智齒的萌出會擠占前牙的空間，進一步造成患者牙列的擁擠，在此情況下，需要拔除患者智齒的牙胚，然后通過推磨牙向后的方式整平、排齊牙列，同時獲得美觀的容貌。這就需要臨床能夠通過X線攝影提前預估通過推磨牙向后能夠提供多少間隙。如果間隙估算的誤差過大，則會對整個治療計劃造成巨大影響，甚至帶來嚴重的醫患糾紛。

CBCT和頭顱側位片經常被應用于正畸的方案制訂之中。本文希望通過二者的比較，觀察頭顱側位片是否可以替代CBCT成為測量上頜磨牙后間隙的證據。根據得出數值的統計學測算，CBCT與頭顱側位片兩種測量方法所得到的上頜磨牙后間隙的數值是沒有統計學差異的。本研究隨后又以CBCT測量了同一批患者的雙側測量數據對比，發現對于安氏I類患者，雙側的磨牙后間隙測量值差異無統計學意義。反之，如果兩側的測量結果有較大差異，則通過頭顱側位片測這種左右側重疊為一張片子的影像技術測量，會發生比較大的數據偏差，可能不會反映患者雙側的真實數據?；诖?，建議用頭顱側位片來替代CBCT進行磨牙后間隙的測量，并盡可能地減少患者拍片的輻射次數及劑量，合理地選擇需要給予患者拍攝的X線片類型；同時，希望X線操作員能夠嚴格遵守拍片機的操作說明，通過積極判斷患者的類型來調整輻射劑量，確保在最小劑量下成功地完成對患者的X線檢查。如此這樣能在減少患者輻照量的同時保證測量的準確性。

這里需要強調：磨牙后間隙的量不等同于上頜后牙向后移動的量。因為在測算上頜磨牙后間隙時，把上頜骨后緣骨皮質、上頜結節的傾斜部分都包含在內，故上頜磨牙后間隙的數據會大于實際可用推磨牙向后的量。具體的上頜牙列移動方式、移動速度和移動量也在臨床上受到諸多因素的影響，如：牙根吸收的情況、上頜第二磨牙是融合根還是分叉根、牙弓擁擠度、患者是高角型還是低角型、前牙是否有深覆合趨勢、是否有牙根扎入上頜竇底皮質骨內、使用隱形矯治還是固定矯治等[12-14]。目前推磨牙向后的單側距離多為2～3 mm，因個體差異而不同，供臨床醫師參考[12-14]。

綜上所述，通過頭顱側位片來測量上頜磨牙后間隙，在保證最小輻射量原則的基礎上，可保障測量數據的準確性，臨床可根據患者實際情況加以選擇。