X射線探傷在接底陶瓷器鑒定中的應(yīng)用

牛飛

摘 要：陶瓷的作偽五花八門，其中接底陶瓷器具有極高的誤導(dǎo)性。本文介紹了X射線探傷機(jī)在文物領(lǐng)域的應(yīng)用現(xiàn)狀，并且利用X射線探傷這種無損檢測(cè)技術(shù)對(duì)兩件陶瓷器進(jìn)行檢測(cè)，有效鑒定出這兩件瓷器均為接底陶瓷器。

關(guān)鍵詞：陶瓷；接底；X射線；鑒定

1 概述

陶瓷是國內(nèi)大多數(shù)博物館的重要收藏[1]。與景泰藍(lán)、青銅器等權(quán)貴階層專屬器物不同，陶瓷器可以更廣泛地流轉(zhuǎn)于老百姓手中，也使得更多的人熱衷于收藏陶瓷文物，這股熱潮也催生了造假行業(yè)的產(chǎn)生[2]。陶瓷工藝歷經(jīng)幾千年的沉淀已經(jīng)十分成熟，并且敢于創(chuàng)新。陶瓷的造假也是如此，大規(guī)模的水平參差不齊的贗品擾亂了文物市場(chǎng)的正常秩序，但是也豐富了文物市場(chǎng)的內(nèi)容[3]。目前，陶瓷器的造假主要包括新仿古陶瓷、新仿古陶瓷做舊以及古陶瓷改裝，具體方法有整器作偽、部分作偽、套口、鑲底、后加款、后加彩等。其中極具迷惑性的應(yīng)屬新仿之器接老底，即將新器的底取下，將其他合適的老器底部，尤其是帶官窯款的老器底鑲上，冒充真品。接底通常分為冷接與熱接，冷接是用膠摘 要：陶瓷的作偽五花八門，其中接底陶瓷器具有極高的誤導(dǎo)性。本文介紹了X射線探傷機(jī)在文物領(lǐng)域的應(yīng)用現(xiàn)狀，并且利用X射線探傷這種無損檢測(cè)技術(shù)對(duì)兩件陶瓷器進(jìn)行檢測(cè)，有效鑒定出這兩件瓷器均為接底陶瓷器。

關(guān)鍵詞：陶瓷；接底；X射線；鑒定將老底粘上，熱接則是新器的坯與老底拼接后施釉，入窯復(fù)燒，出窯后完整無缺。

正確認(rèn)識(shí)這些器物需要掌握豐富的文物鑒定知識(shí)。目前，陶瓷鑒定的方法有兩種：一種是憑借眼力、經(jīng)驗(yàn)進(jìn)行的傳統(tǒng)鑒定方法；另一種是運(yùn)用儀器設(shè)備進(jìn)行分析、檢測(cè)的科技鑒定方法。對(duì)于接底陶瓷，鑒定專家可以通過器型的協(xié)調(diào)度、釉色等做出鑒定。比如造假者時(shí)常會(huì)將瓶和碗的底互用，或者新器的胎厚釉肥與老底不協(xié)調(diào)。另外根據(jù)琢器與圓器的底款特征，也能找到鑒定突破口。但是，專家容易受先入為主的意識(shí)干擾。現(xiàn)代科學(xué)儀器為鑒定提供了很多方便，如熱釋光可用于測(cè)定陶瓷年代，但需要取樣，一般在底部取樣，若待測(cè)器物為接底陶瓷，鑒定結(jié)果就無法反映真實(shí)情況。另外紫光燈可以將冷接法制備的接底陶瓷中的膠檢測(cè)出來，但對(duì)熱接法不適用。近些年，X射線探傷機(jī)在小型化、可移動(dòng)方面取得了一定成績[4]，被視為用于文物鑒定的一種好方法。

2 X射線探傷機(jī)簡介

2.1 X射線探傷原理

X射線是由于原子中的電子在能量相差懸殊的兩個(gè)能級(jí)之間的躍遷而產(chǎn)生的，通常呈現(xiàn)連續(xù)的能量譜線。連續(xù)X射線的總強(qiáng)度，可用下式表示：I=KiZU2。式中，K是與X射線管電壓有關(guān)的系數(shù)，i是管電流，Z是靶材原子序數(shù)，U是管電壓。在確保X射線能完全穿透物質(zhì)的情況下，提高電壓會(huì)導(dǎo)致對(duì)比度下降，增加管電流或曝光時(shí)間可以獲得更好的對(duì)比度。根據(jù)文物的材質(zhì)、厚度、檢測(cè)目的，合理調(diào)整管電壓[5]。X射線成像原理就是X射線會(huì)因物質(zhì)的吸收和散射作用發(fā)生強(qiáng)度的減弱，形成各區(qū)域黑度不同的影像。需要注意的是，高劑量X射線對(duì)人體有嚴(yán)重傷害，對(duì)此可以采取縮短受輻照時(shí)間、設(shè)置屏蔽防護(hù)等防護(hù)措施[6]。

2.2 X射線探傷在文物領(lǐng)域的主要應(yīng)用

X射線探傷技術(shù)應(yīng)用于文物領(lǐng)域的研究最早是用于紙質(zhì)文物藝術(shù)品的檢測(cè)，始于20世紀(jì)20年代[7]。目前，X射線探傷在文物領(lǐng)域的應(yīng)用主要包括三個(gè)方面。

2.2.1 文物結(jié)構(gòu)器型的研究

通過X射線探傷可以獲取到內(nèi)部缺陷、銹蝕物覆蓋下的文物結(jié)構(gòu)性損傷以及制造工藝等信息。比如金屬質(zhì)文物，可以獲取芯撐、范縫、補(bǔ)鑄等重要信息；竹木漆器文物，可以獲取結(jié)構(gòu)完整性、連接方式、漆層等信息；陶瓷器可以獲取內(nèi)部縫隙、修復(fù)痕跡等信息。通過這些研究，可以進(jìn)一步分析時(shí)代特征、文化面貌等內(nèi)容。

圖1為一枚銅鏡的X光片，器物斷裂為3塊，全身被厚厚的銹蝕物包裹，無法估量具體尺寸。按照銹蝕物的外緣進(jìn)行拼對(duì)，發(fā)現(xiàn)缺失一塊，但在光片上顯示，有一塊殘片被擊穿，得出結(jié)論該器物并沒有缺損，只是因?yàn)殇P蝕物干擾了對(duì)其的判斷。

2.2.2 文物腐蝕狀況的研究

目前主要應(yīng)用于金屬質(zhì)文物，原理是不同程度的腐蝕對(duì)X射線吸收程度不一樣，反映在X射線光片上，就會(huì)呈現(xiàn)局部亮度不一致的效果。

2.2.3 文物考古現(xiàn)場(chǎng)的應(yīng)用

目前在石膏包分析、弱質(zhì)文物軟X射線分析、棺槨X探傷原位檢測(cè)等幾個(gè)方面取得一定進(jìn)展[8]。通過X射線探傷，并結(jié)合拼接技術(shù)，可以有效梳理考古發(fā)掘現(xiàn)場(chǎng)文物復(fù)雜的堆積狀態(tài)，輔助判斷各類文物的準(zhǔn)確位置。

3 鑒定實(shí)例

實(shí)驗(yàn)設(shè)備為德國依科視朗X射線探傷機(jī)。檢測(cè)中需要注意靈敏度校驗(yàn)。利用本設(shè)備對(duì)陶瓷文物拍攝光片，一般采用的參數(shù)為電壓50～60kV，電流2.0mA，焦點(diǎn)0.4，距離80cm，可以保證足夠的準(zhǔn)確度。

圖2、圖3為一件白釉瓷碗。

該器物造型為碗，雖然碗底無樞府銘文的底款，從底部的胎質(zhì)、附著物以及旋切工藝來看，符合宋代樞府瓷胎底的特征。宋代樞府瓷即卵白釉瓷。從器身來看，釉呈失透狀，色白微泛青，恰似鴨蛋殼色澤；裝飾手法似模印，紋飾由纏枝花紋與飛鶴紋構(gòu)成，中間一個(gè)“壽”字；上手顯得比較厚重。這些特征都符合宋代樞府瓷的特征，但是仔細(xì)觀察，紋飾略顯呆滯，尤其是飛鶴的頸部比例夸張。最重要的一點(diǎn)，碗底的線條與器身不協(xié)調(diào)、不流暢，碗底胎質(zhì)的老舊狀態(tài)與器身不符，碗底邊緣有非土狀的附著物。這件器物的X射線光片如圖4、圖5所示。

從光片一可以看出器身與圈足的影像對(duì)比度明顯，圈足未穿透，其余部位均已穿透。該瓷器器身胎質(zhì)非常致密和均勻，未見各種氣孔，而底部可見一些若隱若現(xiàn)的氣孔。一般來說，現(xiàn)代仿制的瓷器坯體多數(shù)采用模具灌漿工藝制作，胎體結(jié)構(gòu)致密均勻，氣孔較少。而部分仿古瓷器也會(huì)采用拉坯工藝制作，但因?yàn)樵喜煌约袄魇址ㄉ系牟町惖仍?，制備的瓷器在氣孔分布上面與古陶瓷一定會(huì)有差異，在X光片上可以輕松顯現(xiàn)這些差異，當(dāng)然利用X射線探傷檢測(cè)這些特征差異的研究還需要積累大量的經(jīng)驗(yàn)。從光片二可以看出，瓷器底足有一條很明顯的裂隙，碗底與器身是拼接在一起的。X射線對(duì)縫隙缺陷的感應(yīng)特別強(qiáng)烈，因?yàn)槿比鈱?duì)射線的吸收強(qiáng)度必定遠(yuǎn)小于瓷器本體。結(jié)合器身釉色稍微有些甜白的感覺，且有些新造器物的火光，這件器物應(yīng)該是一件新器老底的接底仿制品。endprint

圖6、圖7為一件青釉瓷壺。

這件器物為葫蘆形執(zhí)壺，上小下闊，撇口，短頸，圈足。壺身闊處一側(cè)置彎流，另一側(cè)置連于闊處與窄處的曲柄。流與執(zhí)彎曲有度，與主體線條變化相呼應(yīng)。器身施滿青釉，釉色有些發(fā)褐，施釉較薄，布滿開片，顯得自然、溫潤。壺嘴釉面有剝落現(xiàn)象，露出白色化妝土。器身可見圈紋狀拉坯痕跡。圈足，壺底胎呈深灰色，不見唐器中常見的黑點(diǎn)狀鐵斑，致密度和均勻度較宋器要稍差，有土沁痕跡。底足上的釉不像自然的裹足釉。從裝燒工藝看，有刮掉足底釉的痕跡。總的來說這件器物胎質(zhì)較粗，胎體較厚，釉色淡青，釉層稍簿，有宋代青釉瓷的特征。但是瓶底較大，底與器身連接顯得生硬，線條不流暢。這件器物的X射線光片如圖8、圖9所示。

從光片一可以看出，瓷器壁厚較厚，器身與圈足的影像對(duì)比度明顯，器身部位可看到器身上見有許多斷斷續(xù)續(xù)呈圓周形分布的氣孔，中間白色區(qū)域內(nèi)有一圓環(huán)，按照?qǐng)D形比例與底足尺寸一致。從光片二可以看出，器身有數(shù)條呈圓周形分布的因拉坯工藝形成的氣孔帶，較有規(guī)律性，并且器身葫蘆的上下氣孔情況相似。這可以理解為這件瓷器采用轉(zhuǎn)盤拉坯工藝，整體拉坯，在器身胎體中留下呈圓周分布的氣孔。而瓷器底足有一條明顯的裂隙，表明這件瓷器的底足與器身是拼接而成。結(jié)合該器物底的特征，這件器物應(yīng)是一件接底陶瓷，但應(yīng)該是老器老底。

4 結(jié)論與展望

利用X射線探傷機(jī)可以清楚有效地鑒定接底陶瓷器，避免對(duì)器底部位的肉眼觀察、熱釋光測(cè)年、X射線熒光檢測(cè)成分等所形成的整體判斷假象。但X射線探傷技術(shù)仍然存在一些缺陷，如X光會(huì)改變陶瓷器的熱釋光特性，且X光片只能反映平面的二維影像。未來隨著科技的進(jìn)步，X射線技術(shù)有望更廣泛地應(yīng)用于文物領(lǐng)域，并且有望探討研究出一套結(jié)合其他檢測(cè)分析手段進(jìn)行文物鑒定的科學(xué)流程。對(duì)于文物修復(fù)而言，核心是恢復(fù)器物原狀，有效的鑒定可以在器物補(bǔ)配方面提供幫助。從事文物修復(fù)的過程中會(huì)不斷積累大量文物鑒定鑒賞方面的知識(shí)，而科學(xué)的鑒定可以幫忙更快更有效地接受這些知識(shí)。

參考文獻(xiàn)

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