測試技術在數(shù)字集成電路中的應用

賀雙喜 彭森

摘 要：本文主要基于社會逐漸趨向于現(xiàn)代化發(fā)展的當前背景下，以數(shù)字集成電路測試技術構架及基本操作原理為切入點，對數(shù)字集成電路測試技術的應用進行相關論述，旨在從根本上提升數(shù)字集成電路測試技術的高效性及實效性，以期為相關工作人員提供參考。

關鍵詞：數(shù)字集成電路；測試技術；應用

隨著社會經(jīng)濟與科技的快速發(fā)展，為數(shù)字集成電路技術實現(xiàn)自身功能性及效益性的進一步優(yōu)化及完善奠定了堅實基礎，同時數(shù)字集成電路技術也由過去簡單的操作轉(zhuǎn)向了復雜化。不僅如此，作為保障數(shù)字集成電路系統(tǒng)正常運行的中堅力量，數(shù)字集成電路測試技術也已成為相關領域工作人員共同研究的課題之一，并為切實降低生產(chǎn)期間所需消耗的經(jīng)費，提升數(shù)字集成電路運行效率及質(zhì)量起到了積極促進的作用。

1 數(shù)字集成電路測試技術的特點

1.1數(shù)字集成電路測試技術的測試性

數(shù)字集成電路測試技術主要就是指基于邏輯模糊系統(tǒng)的功能，對數(shù)字電路的實際運行情況進行實時的管控，從而發(fā)現(xiàn)數(shù)字電路運行故障及異常，并以此作為重要參考依據(jù)，制定出解決及改善此類問題的具體方案。同時在數(shù)字集成電路系統(tǒng)設計的過程中，測試人員肩負著對系統(tǒng)設計進行不斷完善與優(yōu)化的職責，并結(jié)合數(shù)字集成電路的運行狀態(tài)與運行邏輯性，測試數(shù)字電路，切實促進數(shù)字電路的高效有序運行。

1.2數(shù)字集成電路測試技術的集中性

數(shù)字集成電路測試技術所體現(xiàn)出的集中性主要表現(xiàn)在數(shù)字電路的信號系統(tǒng)方面，具體而言，信號的良性傳輸對數(shù)字集成電路系統(tǒng)的平穩(wěn)運行具有重要的意義，相關測試人員能夠針對此些信號所傳輸信息資源對數(shù)字集成電路進行集中式的統(tǒng)一管理。同時數(shù)字集成電路測試技術的集中性可讓測試人員對依照信號的傳輸，對數(shù)字集成電路結(jié)構內(nèi)部運行狀態(tài)進行嚴謹?shù)耐扑恪?/p>

2、數(shù)字集成電路測試技術的主要構架

2.1數(shù)字集成電路測試計算機系統(tǒng)

隨著互聯(lián)網(wǎng)時代的到來，計算機被廣泛應用在各領域的生產(chǎn)之中，而數(shù)字集成電路測試技術也不例外。數(shù)字集成電路測試計算機系統(tǒng)主要功能是提升測試的高效性及高質(zhì)性，同時其由控制子系統(tǒng)、儲存子系統(tǒng)、圖片處理子系統(tǒng)、電源子系統(tǒng)等組成。不僅如此，數(shù)字集成電路測試計算機系統(tǒng)相較于其他系統(tǒng)而言，還具有較高的處理性能，并在實際測試過程中對數(shù)字集成電路進行分析，并將分析后的各項信息資源儲存到儲存器之中。

2.2數(shù)字集成電路測試系統(tǒng)

數(shù)字集成電路測試系統(tǒng)主要包括測試裝置、測試夾具、電阻矩陣與直流交流測試系統(tǒng)等，其中測試裝置中的接口能夠?qū)崿F(xiàn)與被測試電路之間的聯(lián)通；測試夾則是將被測數(shù)字集成電路系統(tǒng)連接到相應的通道之內(nèi)，但值得注意的是，在使用夾具的過程中，為保持連接信號的完整性，應將操作期間的誤差性降到最低。不僅如此，為更好的迎合市場對數(shù)字集成電路運行安全及高效性的需求，數(shù)字集成電路的測試系統(tǒng)也具備一定的靈活性與準確性。

3、數(shù)字集成電路測試技術的運行原理

3.1數(shù)字集成電路的功能測試

數(shù)字集成電路的功能測試主要就是對系統(tǒng)是否符合初期設計階段的要求及功能性進行測試，功能測試的基本原理是對設備輸入一定的信號，并依照數(shù)字集成電路在運行期間的實際規(guī)定，對其產(chǎn)生的頻率進行對比分析，從而對電路運行的平穩(wěn)性進行最后判斷。

3.2數(shù)字集成電路的交直流測試

數(shù)字集成電路的交流測試技術主要就是對數(shù)字集成電路設備在進行晶體管轉(zhuǎn)換的時間順序進行判斷，從而發(fā)現(xiàn)數(shù)字集成電路在實際運行及狀態(tài)轉(zhuǎn)換過程中出現(xiàn)的問題，并對此階段的風險性進行控制，從而使電路能夠在正常時間內(nèi)得到的轉(zhuǎn)換。

數(shù)字集成電路的直流測試就是對數(shù)字集成電路設備運行期間各參數(shù)數(shù)據(jù)的準確性及穩(wěn)定性進行相關判定，不僅如此，該項測試技術中還包括了數(shù)字集成電路的漏電與接觸式測試，大大提升了直流測試的穩(wěn)定性。

3.4數(shù)字集成電路的生產(chǎn)測試

在對數(shù)字集成電路設計期間進行一系列測試后，也會對其生產(chǎn)階段進行新一輪的測試，才可進入到后期的大批量生產(chǎn)。同時由于數(shù)字集成電路運行期間必須要具有較高的精準度，以此企業(yè)往往需要對電路裝置進行全部測試，故相關工作人員就應在保障該測試準確性的前提下，嚴格控制測試的成本。

3.5數(shù)字集成電路的故障測試

數(shù)字集成電路的故障測試又稱之為老化測試，其主要目的就是對數(shù)字集成電路設備運行期間的各個部件實際磨損及運行異常情況進行分析，同時在生產(chǎn)測試之后，數(shù)字集成電路會在個體及使用年限上存在著一定的差異性，故為有效消除此種差異性對電路實際運行造成的不良影響，相關工作人員就可利用高壓電與延長時間的測試方式，將不合理的數(shù)字集成電路設備剔除。

4 數(shù)字集成電路測試技術的具體應用

4.1數(shù)字集成電路測試技術的實際應用

數(shù)字集成電路測試技術的應用期間，工作人員應就不同產(chǎn)品的要求選擇不同的測試系統(tǒng)。舉例而言，數(shù)字集成電路的半導體測試系統(tǒng)具有能夠?qū)崿F(xiàn)對儲存裝置、信號接受裝置等進行系統(tǒng)的測試，同時以基礎性計算機操作系統(tǒng)為主，具有運行成本低、操作簡便、測試結(jié)果準確性高等優(yōu)能。在半導體測試系統(tǒng)運行的過程中，需要與數(shù)字集成電路裝置相連接，并對數(shù)字集成電路中的邏輯運行功能及進行快速與詳盡的測試，通過與之相配套硬件裝置，對數(shù)字集成電路進行全面的測試。

4.2數(shù)字集成電路測試技術的發(fā)展展望

數(shù)字集成電路測試技術是數(shù)字集成電路裝置廣泛應用下的產(chǎn)物，該項測試技術所具備的自動化與集成化性能，對互聯(lián)網(wǎng)時代下原有測試技術的改革與完善具有重要的意義，同時為充分發(fā)揮出數(shù)字集成電路測試技術的經(jīng)濟及社會效益，相關工作人員還需在原有的基礎上對數(shù)字集成電路測試技術進行不斷更新，切實提升數(shù)字集成電路測試技術的準確性及高效性。

5總結(jié)

總而言之，通過對數(shù)字集成電路測試技術的應用進行相關研討，我們不難發(fā)現(xiàn)，社會主義市場經(jīng)濟的全球化發(fā)展對數(shù)字集成電路技術提出了更高的要求，而為在原有基礎上創(chuàng)新數(shù)字集成電路測試技術，使其能夠不斷迎合社會發(fā)展的潮流，現(xiàn)階段的相關工作人員就應認清數(shù)字集成電路市場的發(fā)展特征及發(fā)展規(guī)律，積極引進先進的測試技術與理論知識，在實際工作中不斷的吸取經(jīng)驗，總結(jié)教訓，使數(shù)字集成電路測試技術更加的完善。

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作者簡介

賀雙喜，邵陽學院信息工程學院電子科學與技術專業(yè)學生