程秀蓮,高 慶,郝永平,霸書紅
(沈陽理工大學(xué)裝備工程學(xué)院,遼寧 沈陽 110159)
含能復(fù)合薄膜是由2種或2種以上材料、按一定厚度比交替沉積而成的,在熱或電能刺激下,能發(fā)生放熱的化學(xué)反應(yīng)。因此,在輸入相同電能條件下,與橋絲換能元相比,含能復(fù)合薄膜換能元具有能量放大作用,從而實(shí)現(xiàn)降低向換能元輸入的初始激發(fā)能量、提高換能元輸出的點(diǎn)火能量的目的,比橋絲式火工品具有更好的點(diǎn)火性能和安全性能。
為了將含能復(fù)合薄膜與儲(chǔ)能電源連通,李勇[1]借鑒傳統(tǒng)的電雷管連接方式—電極塞連接法,將其封裝進(jìn)帶有腳線的絕緣塞中,其封裝過程大致為先用環(huán)氧膠將帶有基片的含能復(fù)合薄膜固定在絕緣塞凹槽中,再用導(dǎo)電鍵合絲連接含能復(fù)合薄膜的電極和絕緣塞腳線,最后用導(dǎo)電膠保護(hù)鍵合絲,通過絕緣塞的腳線與儲(chǔ)能電源實(shí)現(xiàn)連通。孫豐雅[2]研究了直接在已經(jīng)刻好電路的電路板上制備含能復(fù)合薄膜的連接方式,通過電路板上的電路可以與儲(chǔ)能電源連通;簡(jiǎn)化了封裝工藝,有利于向小型化,集成化發(fā)展,以便于多點(diǎn)起爆或點(diǎn)火的火工器件制備及小型化。但在刻好的電路板上,存在與其銅箔厚度相同的凹陷,而含能復(fù)合薄膜中導(dǎo)電層的厚度只有幾十到幾百納米,因此,直接在清洗干凈的電路板上制備的導(dǎo)電膜與銅電路之間不能導(dǎo)通,為此,必須將電路板上的凹陷用絕緣膠填平。然而,市售絕緣膠的黏度較大,涂膜厚度遠(yuǎn)大于電路板上覆銅板的厚度,大大增大了后續(xù)打磨的工作量;市售絕緣膠中含有易揮發(fā)溶劑,固化產(chǎn)物中易存在微小氣孔,不能滿足制備含能薄膜對(duì)基片的要求。本研究以磁控濺射制備鋁薄膜為例,研究了電路板填平膠與填平工藝,為導(dǎo)電薄膜與電路板的集成奠定了基礎(chǔ)。
Φ50.8×3Al靶(純度為99.99%),四川德陽奧納新材料有限公司;環(huán)氧樹脂(E-39D),無錫線廣化工原料有限公司;異佛爾酮二胺,分析純,山東佰仟化工有限公司;稀釋劑(502),武漢遠(yuǎn)成共創(chuàng)科技有限公司。FR-4單層覆銅板(板厚度為4 mm、銅箔厚度為35 μm),蘇州萬潤(rùn)絕緣材料有限公司。
QHV-JGP400B型磁控濺射鍍膜儀,沈陽奇匯真空技術(shù)有限公司;SHZ-D(Ⅲ)型循環(huán)水式真空泵,鞏義市予華儀器有限公司;DGG-9100G型電熱恒溫鼓風(fēng)干燥箱,上海森信實(shí)驗(yàn)儀器有限公司。QHQ型鉛筆硬度計(jì),天津市金孚倫科技有限公司;F15B 經(jīng)濟(jì)型萬用表,深圳市時(shí)代華南儀器有限公司。
1.3.1 填平膠的配制
先稱取一定量的E-39D,再按E-39D與502的配比,準(zhǔn)確稱取502,并加入到E-39D中,混勻,密封保存。
使用時(shí),先稱取一定量的E-39D稀釋液,再按一定配比稱取固化劑加入到E-39D稀釋液中,混勻,即為填平膠。在適用期內(nèi)使用。
使用惰性稀釋劑時(shí),胺類固化劑用量計(jì)算公式如(1)式所示。

式中,W為m克E-39D稀釋液所需固化劑的質(zhì)量(g);a為環(huán)氧樹脂稀釋液中E-39D的質(zhì)量濃度(%);M為胺的相對(duì)分子質(zhì)量;N為胺分子中活潑氫原子數(shù)目;Ev為環(huán)氧樹脂的環(huán)氧值。
使用活性稀釋劑時(shí),胺類固化劑用量計(jì)算公式如(2)式所示。
式中,F(xiàn)v為活性稀釋劑的環(huán)氧值;其他符號(hào)同公式(1)。

1.3.2 電路板填平
FR-4單層覆銅板刻蝕電路后,留下與銅箔厚度相同的凹坑。直接或?qū)㈦娐钒宕蚰ズ髮⑸倭刻钇侥z滴在電路板上,用裁紙刀輕輕刮平,放置在水平的平面上,按規(guī)定的溫度和時(shí)間固化。固化后,用砂紙打磨至銅電路露出即可。
1.3.3 鋁橋制備
利用磁控濺射鍍膜儀按文獻(xiàn)[2]報(bào)道的工藝,在填平打磨后的電路板上制備厚度為636 nm的鋁橋。如圖1所示[2]。

圖1 電路板上的鋁橋膜Fig.1 Aluminum bridge film on printed circuit board
(1)硬度:按照GB/T 6739—1996《涂膜硬度鉛筆測(cè)定法》標(biāo)準(zhǔn),采用鉛筆硬度計(jì)進(jìn)行測(cè)試(電路板填平固化后)。
(2)鋁橋電阻:采用萬用表分別對(duì)鋁橋2橋基最遠(yuǎn)距離間電阻R3.3和橋最遠(yuǎn)距離間電阻R1.7進(jìn) 行測(cè)試[依據(jù)R=ρl/s和圖1中鋁橋的尺寸(鋁塊的電導(dǎo)率ρ=2.83×10-8Ω·m[3]、鋁橋厚h=636 nm ),計(jì)算得出R3.3/ R1.7= 1.5,R1.7= 0.13 Ω,R3.3=0.20 Ω。鋁橋規(guī)格如圖2所示]。

圖2 鋁橋規(guī)格Fig.2 Aluminum bridge specifications
由于環(huán)氧體系的FR-4板具有銅箔剝離強(qiáng)度較高,絕緣性能良好和可加工性,且制造成本較低,因而成為目前通用產(chǎn)品[4]。根據(jù)單面FR-4覆銅板基板的性能差異,基板和銅箔分別有不同的厚度等,使其成為系列化產(chǎn)品。本研究選用以玻纖布為基材,阻燃溴化E-39D為膠粘劑的普通FR-4板。為了便于手工操作,選取基材厚度為4 mm的較厚FR-4板。由于電路板上的銅箔和基板表面都吸附了空氣,用膠填平時(shí),銅箔端面和基板形成的夾角處,空氣不易趕出,易形成內(nèi)部缺陷,因此銅箔不宜過厚,但電路板填平打磨時(shí)可能使銅箔變薄,影響其導(dǎo)電性能,所以選用厚度為35 μm ,厚度居中的銅箔。
由于電路板基材是采用環(huán)氧膠粘劑粘接的,因此,填平膠首選亦是環(huán)氧系膠粘劑,同系列物質(zhì)之間界面張力較小。涂膠填平時(shí),易在電路板表面鋪展,固化后打磨和使用時(shí)填平層都不易與基材分離。一般膠層厚度為30~150 μm[5]。電路板填平厚度為35 μm,膠液宜偏稀為好。環(huán)氧值較大的環(huán)氧樹脂分子質(zhì)量較小,黏度亦小,但固化后體積收縮較大,因此選用環(huán)氧值偏大的E-39D,其揮發(fā)物≤0.5%[6],其固化制品具有尺寸穩(wěn)定性較好等特點(diǎn)。
稀釋劑分為活性稀釋劑和非活性稀釋劑。非活性稀釋劑在氣化固化過程中,易在固化產(chǎn)物中留下氣孔,使打磨后在其上面濺射的鋁橋電阻增大,故一般不選非活性稀釋劑。活性稀釋劑可與環(huán)氧固化劑之間發(fā)生化學(xué)反應(yīng),不存在氣化問題,因此固化產(chǎn)物中無氣化產(chǎn)生的氣孔。環(huán)氧值和黏度均較小、用量少的活性稀釋劑與E-39D混合固化后體積收縮率較小,內(nèi)應(yīng)力亦較低,固化打磨過程中不易產(chǎn)生微小裂紋,在其上面濺射的鋁橋電阻也較小。在固化前為脫除填平膠中混合和涂膜過程中混入的空氣,需進(jìn)行真空脫氣,為防止稀釋劑在高真空度下氣化,宜選用沸點(diǎn)較高的稀釋劑。502和660稀釋劑的物理、化學(xué)性能參數(shù)如表1所示。
由表1可知:660黏度較小,用量雖少但環(huán)氧值較大,沸點(diǎn)較低;502的環(huán)氧值較小,沸點(diǎn)較高,但黏度亦較高,用量也較大,因502具有環(huán)氧值較小的優(yōu)勢(shì),可以對(duì)其黏度較高、用量亦較大導(dǎo)致其稀釋的固化物體積收縮率較大的缺點(diǎn)有一定的彌補(bǔ)作用。雖然660黏度、用量較少的優(yōu)點(diǎn)對(duì)環(huán)氧值較大導(dǎo)致其稀釋的固化物體積收縮率較大的缺點(diǎn)有一定的彌補(bǔ)作用,但沸點(diǎn)較低的缺點(diǎn)無法彌補(bǔ),因此選用502作稀釋劑較適宜。

表1 E-39D稀釋劑的物理、化學(xué)性能參數(shù)[7]Tab.1 Physico-chemical properties of diluting agent for E-39D epoxy resin
脂肪胺類固化劑揮發(fā)性、毒性和固化產(chǎn)物的脆性均較大;芳香胺類固化劑雖然固化產(chǎn)物性能優(yōu)越,但也有一定的毒性,如間苯二胺(LD50=130~300 mg/kg),常態(tài)下為固體,使用不方便,由此選用脂環(huán)胺—異佛爾酮二胺為固化劑,此為透明液體,使用方便,其固化產(chǎn)物性能與芳香胺固化物相近,LD50為1 030 mg/kg,毒性明顯低于間苯二胺。
據(jù)文獻(xiàn)[7]報(bào)道,異佛爾酮二胺的固化條件為,80℃/4 h或150℃/1 h。根據(jù)異佛爾酮二胺的胺當(dāng)量和E-39D的環(huán)氧值,可以計(jì)算出異佛爾酮二胺∶E-39D質(zhì)量比為16.17~17.45∶100,502稀釋劑的環(huán)氧值≥0.4與E-39D的環(huán)氧值0.38~0.41[6]相近,加入502稀釋劑后,異佛爾酮二胺與E-39D稀釋液的質(zhì)量比亦為16.17~17.45∶100。本研究取異佛爾酮二胺與E-39D稀釋液的質(zhì)量比為17∶100。粟立軍[4]報(bào)道,普通FR-4板玻璃化溫度在130~140℃之間。因此,固化溫度定在130℃以下,不同固化工藝對(duì)涂膜硬度和打磨后濺射鋁橋電阻的影響如表2所示。

表2 固化工藝對(duì)硬度和鋁橋電阻的影響Tab.2 Effect of curing process on hardness and aluminum bridge resistance
由表2可知,階梯固化不僅涂膜的硬度高于80℃固化4 h的涂膜,而且鋁橋電阻也明顯變小;室溫負(fù)壓一定時(shí)間后階梯固化涂膜硬度不變,但鋁橋電阻明顯變小。這是由于階梯固化初始溫度低于80℃后,固化速度變慢,固化產(chǎn)物內(nèi)應(yīng)力較小,打磨時(shí)產(chǎn)生的微裂紋也少,在其上面制備的鋁膜厚度較均勻,使鋁橋電阻變小;同時(shí),階梯固化的后續(xù)固化溫度高于80℃會(huì)使固化反應(yīng)進(jìn)行得更完全,涂膜硬度得以提高。
R3.3/ R1.7大于1.3中理論計(jì)算值1.5,說明在銅電路與鋁橋基搭接處存在缺陷,造成搭接電阻增大,下同。
鋁橋的厚度僅為636 nm,濺射鋁橋基片的粗糙度對(duì)鋁橋電阻大小有較大的影響。基片上存在較大的凹陷或凸起的缺陷,會(huì)導(dǎo)致局部鋁橋變薄、甚至不連續(xù),使電阻變大,尤其是基片上銅電路與鋁橋基搭接處,若存在缺陷,甚至電阻超量程,都會(huì)使電路不導(dǎo)通。基片不同打磨工藝對(duì)鋁橋電阻的影響如表3所示。

表3 基片打磨工藝對(duì)鋁橋電阻的影響Tab.3 Effect of substrate grinding process on aluminum bridge resistance
由表3可知:打磨工藝對(duì)鋁橋電阻有顯著的影響,打磨砂紙目數(shù)越大,電路板表面粗糙度越小,表面越光滑,在其上制備的鋁橋厚度越均勻,電阻越小。覆銅板刻制電路后表面粗糙度較大,直接涂膠時(shí)由于存在電路板表面吸附空氣、膠液黏度較大等原因,使膠液不易填充電路板表面的微小凹陷,造成部分缺陷在膠液固化、打磨后依然存在,使電路板表面粗糙度較高,鋁橋電阻較大。所以,采用1.25 μm砂紙打磨較宜。
E-39D與502質(zhì)量比越大,502用量越小,E-39D稀釋液黏度越大,越不利于電路板中銅電路端面和基板形成夾角處的填充,存在未被趕出的空氣,打磨后此處表面可能有氣孔存在,使濺射在其上面鋁橋的橋基與銅電路搭接處電阻增大,且E-39D稀釋液黏度較大,填充層厚,增加后續(xù)打磨工作量;反之,502用量增加,E-39D稀釋液黏度變小,有利于銅箔端面和基板形成夾角處的填充,但是稀釋劑用量越大,E-39D固化產(chǎn)物體積收縮比越大,內(nèi)應(yīng)力也越大,固化和打磨時(shí)易形成微小裂紋等缺陷,使濺射在其上面的鋁橋電阻增大。E-39D與502質(zhì)量比對(duì)鋁橋電阻的影響如表4所示。

表4 E-39D與502質(zhì)量比對(duì)鋁橋電阻的影響Tab.4 Effect of mass ratio of epoxy resin and diluting agent on aluminum bridge resistance
由表4可知,E-39D與502質(zhì)量比為100∶24時(shí),鋁橋電阻相對(duì)最小,R1.7= 1.3 Ω、R3.3= 2.0 Ω、R3.3/ R1.7= 1.5,R3.3與 R1.7比 值 與1.3中理論計(jì)算值相同,但R3.3與 R1.7均是理論計(jì)算值的10倍,這主要是由于200 nm厚的鋁膜電阻率為4.68×10-8Ω·m,而20 nm厚的鋁膜電阻率增大為9.97×10-6Ω·m[3],說明濺射鋁橋的基片電路板粗糙度仍然偏大,造成鋁橋存在厚度遠(yuǎn)小于636 nm的區(qū)域,甚至低于200 nm的區(qū)域。但已能滿足火工品對(duì)換能元電阻的要求。
(1)填平膠的較佳配方為:E-39D與502的質(zhì)量配比為100∶24,異佛爾酮二胺與E-39D稀釋液的質(zhì)量配比為100∶17。
(2)電路板打磨較佳工藝為涂膠前后都用1.25 μm(約7 000目)砂紙進(jìn)行打磨。
(3)較佳固化工藝為階梯升溫固化前進(jìn)行室溫脫氣的固化工藝。
(4)在處理后電路板上濺射鋁橋的電阻,能夠滿足火工品對(duì)換能元電阻值的要求。