孫曉祎,黃 昆,楊 磊,岳遠(yuǎn)振,毛國(guó)淑,楊素亮,丁有錢
中國(guó)原子能科學(xué)研究院 放射化學(xué)研究所,北京 102413
制源制靶一直是核技術(shù)領(lǐng)域一項(xiàng)重要的技術(shù),制備的放射性源、靶等可以用于裂變產(chǎn)額測(cè)量、產(chǎn)物放化分析、核反應(yīng)截面測(cè)定以及低能重粒子引起的核反應(yīng)實(shí)驗(yàn)相關(guān)能譜研究等[1-3]。目前國(guó)內(nèi)外用于制備放射源、靶的技術(shù)主要包括:液滴直接蒸發(fā)[4]、電沉積[1-7]、真空蒸發(fā)[2,4]、金屬有機(jī)物熱沉積[2]、裂變碎片濺射[2]等。每種方法具有不同的特點(diǎn),需要針對(duì)不同的研究目的和要求,選擇適合的制源制靶方法。
電沉積方法由于其操作簡(jiǎn)單、電沉積率高、鍍層均勻牢固的特點(diǎn),成為制源制靶技術(shù)中一種被廣泛應(yīng)用的技術(shù),最通常使用的電沉積液體系有分子鍍[5-6]和水相電沉積兩種,很多文獻(xiàn)均已報(bào)導(dǎo)了水相電沉積Pu的方法[7],水相電沉積主要由氨鹽構(gòu)成[8-11],包括草酸胺、硫酸銨、氯化銨。三個(gè)通用的方法包括:鹽酸鹽、草酸鹽、硫酸鹽模型。但NH4Cl電解會(huì)產(chǎn)生Cl2腐蝕不銹鋼襯底,導(dǎo)致薄而不牢固的沉積,因此目前較少應(yīng)用該體系進(jìn)行制源制靶。
開(kāi)展钚的核數(shù)據(jù)測(cè)量,必須制備活性區(qū)直徑D≤5 mm、钚質(zhì)量m≥4 μg的放射靶,而钚靶的制備方法和鍍層的質(zhì)量對(duì)核數(shù)據(jù)測(cè)量的準(zhǔn)確性起著至關(guān)重要的作用。雖然目前國(guó)內(nèi)外制源制靶相關(guān)研究較多,但多為用于常規(guī)測(cè)量的靶片,用于核數(shù)據(jù)測(cè)量用小面積钚靶的制備研究相對(duì)較少。小面積钚靶的制備不同于常規(guī)钚靶的制備,電沉積過(guò)程中陰極反應(yīng)對(duì)鍍層的影響較大,極大地降低了钚的電沉積率和鍍層與襯底的結(jié)合力,使得制備的钚靶無(wú)法滿足測(cè)量要求。因此,本工作擬對(duì)小面積钚靶的制備工藝進(jìn)行研究,并對(duì)電沉積設(shè)備進(jìn)行改進(jìn)。
硫酸,分析純,北京興青紅精細(xì)化學(xué)品科技有限公司;氨水,分析純,純度25%~28%,天津市廣富精細(xì)化工研究所;硝酸(優(yōu)級(jí)純,純度65.0%~68.0%),丙酮(分析純,純度≥99.5 %),國(guó)藥集團(tuán)化學(xué)試劑有限公司;雙氧水,優(yōu)級(jí)純,純度≥30.0%,西隴化工股份有限公司;硫酸銨,優(yōu)級(jí)純,天津市科密歐化學(xué)試劑有限公司;硫酸氫鈉,分析純,上海金山化工廠;硫酸鈉,分析純,北京北化精細(xì)化學(xué)品有限責(zé)任公司;Pu溶液(4 mol/L HNO3),0.5 mg/L,自制;去離子水,18.25 MΩ,自制;異丙醇,色譜級(jí),Alfa Aesar公司。
BP211D型電子天平,感量為10-5g,德國(guó)Sarorius公司;Tri-Carb CR-3170型低本底液閃譜儀,美國(guó)PerkinElmer公司,在測(cè)量的能量范圍內(nèi)本底為7/min;半導(dǎo)體α能譜儀,美國(guó) CANBERRA公司,本底小于0.01/s;JSM-6360LV掃描電鏡,日本電子公司;WYK電源,電源1電流范圍0~500 mA,電壓范圍0~100 V,電源2電流范圍0~100 mA,電壓范圍0~2 000 V,艾泰沃電源有限公司。
電沉積裝置主要由三部分組成:電沉積槽、底座以及密封壓條。電沉積槽整體采用聚四氟乙烯材質(zhì),內(nèi)壁光滑,可減少Pu在槽體上的吸附;底座整體為不銹鋼材質(zhì),可實(shí)現(xiàn)更好地導(dǎo)電、導(dǎo)熱效果,底座上接觸一根接電柱,便于與電源線進(jìn)行連接。通過(guò)密封壓條的形式,將底座與電沉積槽壓緊,保證整個(gè)裝置密封性。

圖1 電沉積裝置圖
1.3.1電極的處理 將鉑金絲置于6 mol/L HCl中蒸煮30 min后,取出,用去離子水漂洗后,置于去離子水中保存,備用。裝槽前將處理好的不銹鋼片(直徑15 mm,厚度1 mm)用2.5 mol/L NaOH煮沸10 min,取出用超純水、乙醇沖洗,晾干裝槽。
1.3.2樣品的前處理 稱取一定量的钚溶液于一定容量的小燒杯中,置于電加熱板上蒸發(fā)至近干;然后向小燒杯中加入0.5 mL濃硝酸、0.1 mL雙氧水,置于電加熱板上加熱(100 ℃),有氣泡產(chǎn)生后,降低電熱板溫度至70 ℃,并輕輕搖動(dòng)小燒杯,緩慢加熱至近干,待用。
1.3.3電沉積
(1)分子鍍
用80 μL的0.04 mol/L的硝酸溶解已經(jīng)蒸干的Pu溶液,用10 mL異丙醇溶液洗滌燒杯,每次2 mL,溶解液與洗滌液均轉(zhuǎn)移至電沉積槽中,在4~5 mA/cm2的電流密度下電沉積1 h。沉積結(jié)束后,將電沉積液轉(zhuǎn)移至液閃管中,用2 mL異丙醇洗滌電沉積槽,并轉(zhuǎn)移至液閃管中,加入低本底閃爍液后,放于液閃譜儀測(cè)量60 min。源片用異丙醇洗滌后,晾干待用。
(2)水相電沉積
向小燒杯中加入1 mL的電沉積液(pH=2~3的硫酸鈉溶液或硫酸銨溶液),將燒杯中的Pu溶解,并轉(zhuǎn)移至電沉積槽中;用相同的電沉積液洗滌小燒杯3次,洗滌液轉(zhuǎn)移至電沉積槽中;用濃氨水、1∶3氨水調(diào)節(jié)體系的pH值;調(diào)節(jié)電極距離,控制在0.5~1.0 cm。開(kāi)啟電源,在一定的電流密度下保持恒流的狀態(tài)進(jìn)行電沉積。
在電沉積結(jié)束前5 min,用氨水將體系的pH調(diào)節(jié)至堿性。待電沉積結(jié)束后,將電沉積殘液轉(zhuǎn)移至已稱重的液閃瓶中,并用去離子水洗滌槽體,洗滌液轉(zhuǎn)移至相同液閃瓶中,并稱量總質(zhì)量,即電沉積殘液總質(zhì)量(m1)。移取一定量的電沉積殘液(測(cè)量液)進(jìn)行液閃測(cè)量,并稱量測(cè)量液的質(zhì)量。根據(jù)測(cè)量液測(cè)量結(jié)果計(jì)算出殘液總活度。用去離子水、無(wú)水乙醇依次洗滌源片,晾干后待用。
向測(cè)量液中加入一定量的液閃液后,置于液閃譜儀進(jìn)行測(cè)量。電沉積率計(jì)算如式(1)。
ω=(A-A0)/A
(1)
其中:ω,電沉積率,%;A,加入電沉積液Pu總活度,Bq;A0,電沉積殘液Pu總活度,Bq,A0=nm1/(tm2);n,一定能量區(qū)間內(nèi)的計(jì)數(shù);t,測(cè)量時(shí)間,s;m1,電沉積殘液總質(zhì)量,g;m2,測(cè)量液質(zhì)量,g。
分子鍍適合制備具有一定厚度的靶片[12],本實(shí)驗(yàn)所需制備的钚靶質(zhì)量厚度為20 μg/cm2(活性區(qū)直徑≤5 mm,钚質(zhì)量≥4 μg),相對(duì)較厚,選擇分子鍍(異丙醇)作為研究的電沉積體系,與此同時(shí),由于水相電沉積中硫酸體系電沉積钚時(shí)相對(duì)穩(wěn)定,因此同時(shí)選定硫酸銨、硫酸鈉體系作為對(duì)比研究體系。具體結(jié)果列入表1。

表1 不同體系钚的電沉積情況
通過(guò)實(shí)驗(yàn)發(fā)現(xiàn),當(dāng)使用分子鍍體系制備直徑D≤5 mm的钚靶時(shí),钚的電沉積率低于70%,且活性區(qū)出現(xiàn)明顯的白色鍍層,該鍍層呈粉末狀,極易脫落,且遇水即溶。使用掃描電鏡對(duì)活性區(qū)的白色鍍層進(jìn)行了分析,結(jié)果示于圖2。如圖2所示,通過(guò)與基體結(jié)果對(duì)比發(fā)現(xiàn),鍍層中出現(xiàn)Na、Mg、Ca等無(wú)機(jī)鹽離子,分析認(rèn)為是在钚的前處理過(guò)程中試劑中微量的雜質(zhì)離子累積,在異丙醇體系中無(wú)機(jī)鹽離子與钚一起在陰極電沉積所致,此外,也可能是在高壓作用下,陽(yáng)極Pt中微量雜質(zhì)溶解,在陰極聚集沉淀造成,與此同時(shí),雜質(zhì)的電沉積影響了钚的電沉積,減弱了钚與襯底的結(jié)合力,使得鍍層極為不牢固。使用硫酸銨體系制備小面積钚靶時(shí),陰極反應(yīng)為2H++2e=H2,該體系在陰極附近產(chǎn)生大量的H2,由于活性區(qū)面積較小,生成的氫氣在陰極附近聚集,覆蓋在陰極表面造成斷電,直接影響钚的電沉積效果。硫酸鈉體系相對(duì)于硫酸銨體系,陰極附近沒(méi)有陽(yáng)離子水解產(chǎn)生的H+,陰極H+濃度更低,產(chǎn)生的氣泡相對(duì)較少且細(xì)小,更容易逸出,對(duì)钚的電沉積影響較小。因此,通過(guò)三種體系的對(duì)比,選定硫酸鈉體系為小面積钚靶的制備體系。

(a)——不銹鋼基體,(b)——白色鍍層
2.2.1電沉積裝置的研究 通過(guò)電沉積體系研究發(fā)現(xiàn),陰極產(chǎn)生的氣泡對(duì)钚的電沉積影響較大,因此希望通過(guò)電沉積槽的設(shè)計(jì)解決氣泡的影響。對(duì)電沉積槽設(shè)計(jì)三種形狀,分別為直筒形、倒錐形以及錐桶形,如圖3所示。由圖3可知:圖3(a)的沉積槽氣泡影響最為嚴(yán)重,在較短時(shí)間內(nèi)氣泡便聚集在陰極附近造成斷電;圖3(b)裝置中钚的電沉積可以持續(xù)一段時(shí)間,但仍會(huì)在陰極聚集造成斷電,頻率較圖3(a)小;圖3(c)中在钚電沉積時(shí)陰極產(chǎn)生的氣泡會(huì)在陰極附近聚集,但氣泡聚集到一定程度后會(huì)自行破裂,不會(huì)產(chǎn)生斷電的情況,降低了陰極氫氣對(duì)電沉積過(guò)程的影響,此時(shí)Pu的電沉積效果最佳,因此選擇錐桶形的電沉積槽。

(a)——直筒形,(b)——倒錐形,(c)——錐桶形
2.2.2體系pH的影響 電沉積過(guò)程中,體系的pH直接影響了靶鍍層的質(zhì)量。pH 較低時(shí),析氫反應(yīng)劇烈,氫氣在還原過(guò)程中為金屬離子提供了更多的成核中心,得到的晶粒更為細(xì)致。然而過(guò)低的pH值會(huì)增加電極腐蝕,并且產(chǎn)生大量的氫氣可能在陰極聚集斷電。pH較高時(shí),會(huì)造成钚的水解。因此,對(duì)pH=0.5~3.0進(jìn)行了研究,結(jié)果示于圖4。由圖4可知:隨著pH的增大,Pu的電沉積率增大。這主要是由于體系中H+的影響,pH較小,產(chǎn)生氫氣較多,對(duì)Pu的沉積產(chǎn)生干擾,使Pu的電沉積率降低,為防止Pu的水解,體系的pH不能過(guò)高,因此pH=2.0~3.0為最佳。

圖4 pH對(duì)Pu電沉積率的影響
2.2.3電沉積溫度的影響 考慮到升高溫度可能會(huì)促進(jìn)氣泡的逸出以及破裂,對(duì)電沉積過(guò)程中體系的溫度進(jìn)行了研究。選定室溫25 ℃、45 ℃以及65 ℃三個(gè)溫度進(jìn)行考察,結(jié)果示于圖5。由圖5可知,钚的電沉積率隨著溫度的升高略有增大。這主要是由于溫度升高,氣泡在底部受熱克服表面張力向上浮,減小了在陰極對(duì)Pu沉積的影響。但考慮到Pu的性質(zhì),未繼續(xù)升高溫度,選擇65 ℃為電沉積溫度。

圖5 溫度對(duì)Pu電沉積率的影響
2.2.4沉積時(shí)間的影響 考察了沉積時(shí)間對(duì)小面積钚靶制備的影響,結(jié)果示于圖6。由圖6可知:钚在溶液中沉積較快,在最初30 min電沉積率即達(dá)到96%以上,且隨著時(shí)間的增加,電沉積率略有增大。本工作希望Pu盡可能多地沉積在陰極,故選定沉積時(shí)間為150 min。

圖6 沉積時(shí)間對(duì)Pu電沉積率的影響
2.2.5電流密度的影響 在一定范圍內(nèi),電沉積率會(huì)隨著電流密度的增大而增大,且電流密度會(huì)影響鍍層的質(zhì)量,電流密度較低時(shí),陰極的極化作用小,鍍層顆粒大,電流密度增大,陰極極化作用增強(qiáng),鍍層細(xì)密,但鍍層中氫含量升高,電流效率也隨之降低,同時(shí)鍍層會(huì)發(fā)黑燒焦。根據(jù)本課題組之前的結(jié)果[13],選擇300~750 mA/cm2進(jìn)行研究,結(jié)果示于圖7。由圖7可知:隨著電流密度的增加,電沉積率不斷增加,當(dāng)電流密度為750 mA/cm2時(shí),電沉積率達(dá)到最大,實(shí)現(xiàn)了Pu的定量電沉積。

圖7 電流密度對(duì)Pu電沉積率的影響
通過(guò)以上實(shí)驗(yàn),確定了钚靶的最終制備工藝條件為:在pH=2.0~3.0的硫酸鈉電沉積液中、750 mA/cm2的電流密度、65 ℃,電沉積150 min。在上述條件下,使用錐桶形電沉積槽,钚的電沉積率可達(dá)98%以上,結(jié)果列入表2。

表2 硫酸鈉體系制備Pu靶結(jié)果
本工作建立了小面積钚靶的制備方法,通過(guò)對(duì)比不同的電沉積體系,確定了以硫酸鈉溶液為電沉積液的體系更適用于小面積钚靶的制備;研制了錐桶形的電沉積裝置,可避免陰極反應(yīng)產(chǎn)生氣泡對(duì)钚沉積的影響;確定了pH=2.0~3.0的硫酸鈉體系、在750 mA/cm2的電流密度、65 ℃、電沉積150 min時(shí),電沉積率大于98%,可實(shí)現(xiàn)钚的定量電沉積,滿足核數(shù)據(jù)測(cè)量用钚靶要求。