頭部核磁共振在新生兒腦損傷中的臨床應(yīng)用

李靖

（長(zhǎng)沙市婦幼保健院，湖南 長(zhǎng)沙 410007）

腦損傷在新生兒中比較多見，腦損傷新生兒的腦內(nèi)組織受損，損害腦損傷新生兒健康生長(zhǎng)以及發(fā)育[1]。腦損傷是一種中樞神經(jīng)系統(tǒng)相關(guān)功能出現(xiàn)異常的一種疾病，腦損傷新生兒的腦處于分娩的時(shí)候或是分娩之后，出現(xiàn)腦部受損情況所致，腦損傷新生兒發(fā)病早期多存在哭鬧不安情況，拒絕進(jìn)食，出現(xiàn)腹脹情況，或是發(fā)生反復(fù)驚厥現(xiàn)象，相對(duì)比較嗜睡，出現(xiàn)昏迷情況等。腦損傷新生兒的腦處受損嚴(yán)重情況與其缺少氧氣供應(yīng)時(shí)間、缺少血液供應(yīng)時(shí)間、腦處受損位置、年紀(jì)大小等存在密切關(guān)系年齡有關(guān)。腦損傷新生兒引發(fā)因素比較多，比如，新生兒早產(chǎn)或是新生兒出生的時(shí)候存在低體重；新生兒存在宮內(nèi)窘迫情況或是新生兒出生的時(shí)候出現(xiàn)窒息現(xiàn)象；新生兒存在嚴(yán)重黃疸情況，或是新生兒具有低血壓癥狀，新生兒出現(xiàn)休克現(xiàn)象，新生兒發(fā)生低血糖情況；新生兒存在顱腦外傷狀況等。對(duì)腦損傷新生兒機(jī)體健康狀況帶來(lái)嚴(yán)重危害，并對(duì)腦損傷新生兒生命健康情況形成一定威脅。所以，針對(duì)腦損傷新生兒予以盡早準(zhǔn)確診斷和及時(shí)治療干預(yù)具有必要之處[2]。近年來(lái)，頭部核磁共振檢測(cè)方式在腦損傷新生兒診斷中逐漸被使用，得到一定診斷效果。本研究對(duì)于本醫(yī)院收入的26名懷疑存在腦損傷新生兒實(shí)施頭部核磁共振檢測(cè)及計(jì)算機(jī)斷層掃描（Computed Tomography，CT）檢測(cè)，評(píng)估頭部核磁共振檢測(cè)方式運(yùn)用于腦損傷新生兒臨床診斷過程中的檢測(cè)意義，進(jìn)而為腦損傷新生兒的臨床診斷提供一定參考及支持。

1 資料與方法

1.1 一般研究資料

對(duì)2018年05月至2020年02月本院收入的26名懷疑存在腦損傷新生兒開展調(diào)查，男新生兒有14例，女新生兒有12例，新生兒胎齡39.74±2.15歲，新生兒體重3.41±0.43千克。納入標(biāo)準(zhǔn):懷疑存在腦損傷的新生兒；新生兒家屬表示愿意加入研究。排除標(biāo)準(zhǔn):新生兒家屬不愿意讓新生兒接受頭部核磁共振檢測(cè)及CT檢測(cè)。

1.2 方法

對(duì)于新生兒實(shí)行頭部核磁共振檢測(cè)、CT檢測(cè)。

1.2.1 頭部核磁共振檢測(cè)

采取磁共振機(jī)實(shí)施頭部核磁共振檢測(cè)，T1WI序列中，采取SE序列，TE設(shè)置值是15 ms，TR設(shè)置值是389 ms，實(shí)施矢狀面掃描檢測(cè)及軸面掃描檢測(cè)；T2WI序列中，以快速FSE序列，TR設(shè)置值是3035 ms，TE設(shè)置值是100 ms，實(shí)施軸面掃描檢測(cè)；視野設(shè)置值為17 cm×17 cm到22 cm×22 cm，矩陣設(shè)置值是182×256，層厚設(shè)置值是4 mm。DWI序列中，采取回波平面成像超高速成像，TE設(shè)置值是56 ms，TR設(shè)置值是2144 ms，自X軸、Y軸、Z軸給予梯度磁場(chǎng)，b值是700 s·mm-2到1000 s·mm-2，矩陣設(shè)置值為128×72，視野設(shè)置值為19 cm×38 cm，層厚設(shè)置值為4 mm。

1.2.2 CT檢測(cè)

以多層螺旋CT儀器實(shí)施CT檢測(cè)，選用120 kV、200 Mas，層間厚設(shè)置值是10 mm，幕上層厚設(shè)置值是10 mm，后顱凹層厚設(shè)置值是5 mm。

1.3 檢測(cè)指標(biāo)

記載頭部核磁共振檢測(cè)方式、CT檢測(cè)方式對(duì)腦損傷新生兒的腦內(nèi)損傷類型檢出情況，其中，腦內(nèi)損傷類型主要涵蓋新生兒缺氧缺血性腦病、早產(chǎn)兒腦白質(zhì)受損、胼胝體發(fā)育情況不正常、顱內(nèi)出血等，并研究頭部核磁共振檢測(cè)方式、CT檢測(cè)方式對(duì)腦損傷新生兒的腦內(nèi)損傷病灶位置檢出情況，其中，腦內(nèi)損傷病灶位置主要涵蓋顳葉位置、頂枕葉位置、額葉位置、額顳葉位置等。

1.4 統(tǒng)計(jì)學(xué)分析

采用SPSS 18.0統(tǒng)計(jì)學(xué)軟件對(duì)所有數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，其中計(jì)數(shù)資料以率（%）表示，采用X2檢驗(yàn)；P<0.05表示差異有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義。

2 結(jié)果

2.1 頭部核磁共振檢測(cè)方式、CT檢測(cè)方式對(duì)腦損傷新生兒的腦內(nèi)損傷類型檢出情況

26名懷疑存在腦損傷新生兒中，頭部核磁共振檢測(cè)方式對(duì)新生兒缺氧缺血性腦病檢出人數(shù)、早產(chǎn)兒腦白質(zhì)受損檢出人數(shù)、胼胝體發(fā)育情況不正常檢出人數(shù)、顱內(nèi)出血檢出人數(shù)相比于CT檢測(cè)方式差距不大，對(duì)應(yīng)指標(biāo)驗(yàn)證結(jié)果之間具有較低區(qū)別（P>0.05），但是，頭部核磁共振檢測(cè)方式檢出腦損傷新生兒情況相比于CT檢測(cè)方式得以增加，對(duì)應(yīng)指標(biāo)驗(yàn)證結(jié)果之間具有較高區(qū)別（P<0.05）。

2.2 頭部核磁共振檢測(cè)方式、CT檢測(cè)方式對(duì)腦損傷新生兒的腦內(nèi)損傷位置檢出情況

頭部核磁共振檢測(cè)方式對(duì)腦損傷新生兒的腦內(nèi)損傷病灶檢出處數(shù)相比于CT檢測(cè)方式得以增加，對(duì)應(yīng)指標(biāo)驗(yàn)證結(jié)果之間具有較高區(qū)別（P<0.05）。頭部核磁共振檢測(cè)方式對(duì)腦損傷新生兒的顳葉位置病灶檢出處數(shù)、頂枕葉位置病灶檢出處數(shù)相比于CT檢測(cè)方式差距不大，對(duì)應(yīng)指標(biāo)驗(yàn)證結(jié)果之間具有較低區(qū)別（P>0.05），頭部核磁共振檢測(cè)方式對(duì)腦損傷新生兒的額葉位置病灶檢出處數(shù)、額顳葉位置病灶檢出處數(shù)相比于CT檢測(cè)方式得以增加，對(duì)應(yīng)指標(biāo)驗(yàn)證結(jié)果之間具有較高區(qū)別（P<0.05）。

表1 頭部核磁共振檢測(cè)方式、CT檢測(cè)方式對(duì)腦損傷新生兒的腦內(nèi)損傷類型檢出情況

表2 頭部核磁共振檢測(cè)方式、CT檢測(cè)方式對(duì)腦損傷新生兒的腦內(nèi)損傷位置檢出情況

圖1 典型影像圖

3 討論

腦損傷于新生兒中較為常見，可能導(dǎo)致患兒出現(xiàn)智力減弱、腦癱、發(fā)育較慢、癲癇等情況，應(yīng)盡早診斷干預(yù)[3]。當(dāng)前，腦損傷新生兒的臨床診斷方法包含頭顱超聲檢測(cè)、頭顱CT檢測(cè)、頭部核磁共振檢測(cè)等。頭顱超聲檢測(cè)對(duì)腦損傷新生兒的診斷準(zhǔn)確性不高，對(duì)于腦損傷新生兒腦內(nèi)損傷定位缺乏精準(zhǔn)性[4]。CT檢測(cè)對(duì)于鞍區(qū)病變、視交叉后病變等檢出不佳，對(duì)于腦白質(zhì)營(yíng)養(yǎng)不良引發(fā)的腦病診斷情況不準(zhǔn)確，而且，還存在輻射性[5]。而頭部核磁共振檢測(cè)不具有損害性，能夠三維成像，且分辨率較大，可以將腦損傷新生兒腦內(nèi)解剖結(jié)構(gòu)、生理病理特點(diǎn)等較為清晰的呈現(xiàn)[6]。

頭部核磁共振檢測(cè)對(duì)腦損傷新生兒的診斷敏感度和準(zhǔn)確性較高[7]。本文中，頭部核磁共振檢測(cè)檢出腦損傷新生兒在96%以上，CT檢測(cè)檢出腦損傷新生兒僅在76%左右。

雖然頭部核磁共振檢測(cè)和CT檢測(cè)在對(duì)新生兒缺氧缺血性腦病檢出人數(shù)、早產(chǎn)兒腦白質(zhì)受損檢出人數(shù)、胼胝體發(fā)育情況不正常檢出人數(shù)、顱內(nèi)出血檢出人數(shù)方面相差不明顯。然而頭部核磁共振檢測(cè)對(duì)腦損傷新生兒總體檢出情況和CT檢測(cè)對(duì)比更多，頭部核磁共振檢測(cè)方式對(duì)腦損傷新生兒的腦內(nèi)損傷病灶檢出情況和CT檢測(cè)方式對(duì)比更多。雖然頭部核磁共振檢測(cè)在對(duì)腦損傷新生兒的顳葉位置病灶檢出情況、頂枕葉位置病灶檢出情況方面和CT檢測(cè)相差不大，然而，頭部核磁共振檢測(cè)方式對(duì)腦損傷新生兒的額葉位置病灶檢出情況、額顳葉位置病灶檢出情況和CT檢測(cè)方式對(duì)比更多。頭部核磁共振檢測(cè)方式存在無(wú)創(chuàng)性，能夠顯示腦損傷新生兒病灶位置、病灶性質(zhì)、病灶范圍、病灶和附近結(jié)構(gòu)之間關(guān)系，不存在X線輻射性，安全度較好。

綜上所述，為腦損傷新生兒采取頭部核磁共振檢測(cè)存在一定診斷意義，能夠?qū)δX損傷新生兒的腦內(nèi)損傷類型予以判斷，并了解腦損傷新生兒的腦內(nèi)損傷病灶位置，有助于協(xié)助腦損傷新生兒的臨床診斷，顯示出重要診斷價(jià)值。