５０例閉合性顱腦外傷的異常ＥＥＧ，ＢＥＡＭ分析

關(guān)鍵詞 閉合性顱腦外傷 EEG BEAM

顱腦外傷是臨床上常見的一種疾病，X線、CT檢查對(duì)顱腦外傷引起的骨折、腦損傷較易提供證據(jù)。但較輕型閉合性顱腦外傷或腦震蕩者，常遺有自覺癥狀，但較少陽性發(fā)現(xiàn)，且易引起一過性或較長時(shí)間的腦電圖改變。本科室采用EEG和BEAM檢查方法對(duì)臨床診斷為顱腦外傷的患者進(jìn)行腦功能動(dòng)態(tài)變化的檢查，現(xiàn)對(duì)50例顱腦外傷異常EEG、BEAM分析如下。

資料與方法

檢查對(duì)象：50例均由本院外科診斷為合性顱腦外傷，男35例，女15例，年齡10~20歲10例，21~30歲20例，31~40歲10例，41~50歲8例，60歲以上2例。其中交通事故13例，斗毆傷15例，跌摔傷20例，其他原因致傷2例。所有病例傷后均曾有意識(shí)障礙，持續(xù)時(shí)間約在30秒內(nèi)。有頭痛、頭昏，多數(shù)出現(xiàn)惡心部分伴嘔吐、焦慮、健忘等癥狀。體查缺乏神經(jīng)系統(tǒng)陽性體征。

EEG描記：采用秦皇島康泰微電子有限公司產(chǎn)KT98EEG/BEAM微機(jī)處理系統(tǒng)，按國際10~20系統(tǒng)安放電極，耳垂安置參考電極，在清醒、閉目、靜坐狀態(tài)下用單極和雙極描記EEG。常規(guī)進(jìn)行過度換氣誘發(fā)試驗(yàn)、睜閉眼反應(yīng)試驗(yàn)、閃光刺激試驗(yàn)，并采樣制作功率譜BEAM直方圖。BEAM頻率劃分：慢波(0.8~7.8Hz)、δ(0.8~3.8Hz)、θ(4.0~7.8Hz)、α1(8.0~9.8Hz)、α2(10.0~12.8Hz)、β1(13.0~19.8Hz)、β2(20.0~29.8Hz)。EEG診斷參考黃遠(yuǎn)桂標(biāo)準(zhǔn)^[1]。BEAM診斷標(biāo)準(zhǔn)：正常BEAM中大腦各區(qū)δ、θ波功率的灰度均低于6級(jí)，α的波功率均不低于6級(jí)，大腦后半部為高功率區(qū)；β波率的灰度級(jí)同α波，額、顳區(qū)為高功率區(qū)，反之則異常。

結(jié) 果

50例異常EEG中15例(30%)為α波前移，額部α波占優(yōu)勢(shì)；患者多為青年(15~30歲10例)。出現(xiàn)棘-慢波，尖-慢綜合波者13例(26%)。出現(xiàn)δ、θ波改變者22例(44%)，其中15例為輕度異常腦電圖，波幅中低電位，出現(xiàn)少量散在性δ波活動(dòng)伴有多量4~7Hz之θ活動(dòng)；6例為中度異常EEG，出現(xiàn)多量低中電位1~3Hzδ波發(fā)放，，4~6Hzθ活動(dòng)；4例為重度異常EEG，出現(xiàn)彌慢性高電位，1~3Hzδ波發(fā)放及少量4~7Hzθ活動(dòng)。BEAM中大腦各區(qū)的δ、θ波功率的灰度級(jí)均超7級(jí)以上；α波功率的灰度級(jí)低于6級(jí)達(dá)4~5級(jí)并伴有α波前移傾向，β波率的灰度級(jí)同α波；均屬異常BEAM范圍。

討 論

EEG、BEAM檢查在顱腦外傷早期應(yīng)用不多，來診者多為傷后幾日或恢復(fù)期的病人。由于EEG，BEAM安全易行，并可觀察傷情的演變，故仍不失為一項(xiàng)比較理想的輔助檢查方法。本組報(bào)告的50例中有15例EEG、BEAMα波前移，且在青年的顱腦外傷者出現(xiàn)，與大腦發(fā)育不成熟有關(guān)，經(jīng)過臨床治療可恢復(fù)，為預(yù)后良好之征象。其余35例EEG，BEAM改變，表示腦的機(jī)能仍未恢復(fù)；特別是局灶性改變恢復(fù)期較慢，可長達(dá)數(shù)月。部分病人傷后數(shù)月甚至數(shù)年內(nèi)仍有頭痛、頭昏、疲勞、情緒不穩(wěn)、記憶力減退等顱腦外傷患者后綜合征表現(xiàn)。其異常的程度，一般與損傷的程度有關(guān)。

顱腦外傷患者絕大多數(shù)無器質(zhì)性損傷或僅有輕度器質(zhì)性損傷，無顯著的腦解剖學(xué)和結(jié)構(gòu)性組織損害，CT檢查不一定能發(fā)現(xiàn)，且受條件限制，不能每例顱腦外傷者都做CT檢查。EEG、BEAM檢查雖然不是置入性的檢查方法但它是動(dòng)態(tài)觀察腦神經(jīng)功能變化的重要手段。對(duì)諸種腦功能障礙可獲取重要情報(bào)在腦功能監(jiān)測(cè)方面有著極其重要的作用。當(dāng)EEG、BEAM出現(xiàn)異常情況時(shí)，說明腦功能有障礙，異常程度越高，則功能障礙越重。但是當(dāng)EEG、BEAM正常時(shí)也不并不意味著腦部無病變或腦功能無損害。這可能是因?yàn)椋耗X部病變較輕；疾病早期；病變部位在腦的深部，所放置的電極離病灶部位過遠(yuǎn)。一般情況下大腦半球表面的異常易于檢出，深部腦回、深部結(jié)構(gòu)、幕下病變、病灶較小等陽性率較低；記錄時(shí)異常病灶處于非活動(dòng)狀態(tài)。因此為了提高其異常檢出率，應(yīng)盡量延長記錄時(shí)間，反復(fù)多次檢查，必要時(shí)加放特殊電極，進(jìn)行各種誘發(fā)試驗(yàn)。故EEG、BEAM檢查是顱腦外傷后的首選方法。它對(duì)傷情的判斷，損傷灶的定位、程度及預(yù)后估計(jì)都有一定的價(jià)值。并與臨床經(jīng)過之間具有良好的相互關(guān)系，但進(jìn)行EEG、BEAM追蹤觀察也是十分必要的。

總之，EEG，BEAM改變是反映腦功能的一種非特異性變化。CT所獲得的是形態(tài)學(xué)方面的信息。雖然它們之間有質(zhì)的不同，但它們之間是相輔相成的，決不可取而代之，在臨床診斷中需將它們有機(jī)地結(jié)合起來。綜合評(píng)價(jià)顱腦外傷患者的腦功能及腦組織形態(tài)上的變化有助于臨床評(píng)價(jià)傷情，改善預(yù)后治療有積極指導(dǎo)作用。

參考文獻(xiàn)

1 黃遠(yuǎn)桂，吳聲儉.臨床腦電圖學(xué).陜西科學(xué)技術(shù)出版社，1984，142~150

2 黃遠(yuǎn)桂.腦電圖、腦電形圖及其臨床應(yīng)用學(xué)習(xí)班講義摘要，1993