摘 要: 測量電學元件的伏安特性有多種測量方法。根據待測電阻的阻值大小,正確選擇測試電路,可減小系統誤差,提高測量的準確度。
關鍵詞: 伏安法 電阻元件 接線方法
用伏安法測量線性電阻和非線性電阻的伏安特性,即通過一個元件的電流隨外加電壓變化的關系曲線,稱為伏安特性曲線。我們可以采用多種測量方法,即電流表的內接法和外接法等,這些都是電磁學實驗中最基本的測量方法。因此根據待測電阻的阻值大小,正確選擇測試電路,可以減小實驗中的系統誤差,提高測量的準確度。
1.測量元件的伏安特性
用電壓表測出元件兩端的電壓U,用電流表測出流經電阻的相應電流I,根據歐姆定理
R=U/I?搖?搖(1)
就可以求出電阻值R,這種測電阻的方法稱為伏安法[1]。實驗中測量出一組電壓U和對應的電流I后,以電壓U為橫坐標,電流I為縱坐標作圖,所得曲線稱為伏安特性曲線。通過元件兩端的電壓與流經它的電流成正比,即伏安特性曲線是一條直線,這類元件稱為線性元件(如金屬膜電阻)[2],如圖1(a)所示。若伏安特性曲線不是一條直線,而是一條曲線,如圖1(b)所示,這類元件(二極管、小燈泡和熱敏電阻等)都是非線性元件。
2.測量電路的連接方法及電表的接入誤差
用伏安法測量電阻值時,可分為電流表的內接法和外接法兩種接線方法。由于電表內阻的影響,這兩種接法都會引起一定的系統誤差。
2.1 電流表內接法引入的誤差
電流表在電壓表的里側,如圖2所示。設電流表的內阻為R,回路電流為I,則電壓表測出的電壓值
U=IR+IR=I(R+R) ?搖(2)
即電阻的測量值R是
R=R+R?搖(3)
可見測量值大于實際值時,測量的絕對誤差為R,相對誤差為R/R 。當R?垌R時,可用內接法進行測量,以減小接入誤差的影響,提高測量的準確度。
2.2 電流表外接法引入的誤差
電流表在電壓表的外側,如圖3所示。設電阻R中的電流為I,又設伏特表中流過電流為I,伏特表內阻為R,則電流表中電流
I=I+I=U(1/R+1/R) ?搖(4)
因此電阻R的測量值R是
R=U/I = R*R/(R+ R)?搖(5)
由于R<(R+R),因此測量值R小于實際值R,測量的相對誤差
(R-R)/R=-R/(R+R)
式中負號是由于絕對誤差是負值,只有當R?塏R時才可以用外接法進行測量,以減小接入誤差的影響,提高測量的準確度。
3.測量元件的伏安特性
測量電學元件的伏安特性有多種測量方法。根據待測電阻的阻值大小,可以正確的選擇測試電路。可以選用圖2—6等線路接線,進行實驗測量。
3.1測量線性電阻的伏安特性
若待測電阻是線性電阻可以選用圖2和圖3接線,進行實驗,以減小系統誤差,提高測量的準確度。
3.2 測量小燈泡的伏安特性
若待測電阻是小燈泡可以選用圖4接線,進行實驗效果較好。
3.3 測量二極管的伏安特性
若待測電阻是二極管(非線性元件),二極管的主要特點是單向導電性,其伏安特性曲線如圖1(b)所示。要測量二極管的正向伏安特性,可以選用圖5的接線;若測量二極管的反向伏安特性,選用圖6接線,這樣實驗效果較好。
實驗中還可以按圖7的線路圖進行接線,即有電表的內接法(K倒向1)和外接法(K倒向2);可以測量二極管的正向伏安特性和反向伏安特性(二極管換向),線路較圖全面。
待測二極管是2CW2型穩壓管,它的正向導通電壓約1.0V,穩壓值為8—9.5V,最大穩壓電流I≤29mA,工作電流約5mA,反向電阻大于10MΩ。
(1)用電流表外接法電路測量二極管的正向特性。
按(圖7)連接電路,圖中R為二極管,R是限流電阻,R是分壓電阻,電流計量程0—10 mA,電壓表量程0—5V。測量時,調節E或變阻器R。當K→2時,選擇各種U值(0.1—0.6V)對于每種U值,調節R,記下電流表的電流值。
(2)用電流表內接電路測量二極管的反向特性。
將圖7中的二極管反接,內接法當K→1時,反向電阻為10Ω數量級,U從1—9V,反向電流為幾μA—幾百μA,測量反向特性。
(3)以U為橫坐標,I為縱坐標作I-U特性曲線。
由二極管的伏安特性曲線看出,二極管具有單向導電性。因此在實驗中正確選擇測試電路,能夠將這種系統誤差減小,保證測量的準確度,又可省去系統誤差的修正計算,從而提高實驗測試的效率。
4.結語
測量電阻元件的伏安特性有多種接線方法。實驗時通常可根據待測電阻元件阻值及電表內阻,選擇合適的電表連接方法以減小接入誤差的影響:測量大電阻當R?垌R時常采用電流表內接法;測量小電阻當R?塏R時常采用電流表外接法。又由二極管的伏安特性曲線看出,二極管具有單向導電性。因此在實驗中正確選擇測試電路,能夠將這種系統誤差減小,保證測量的準確度,又可省去系統誤差的修正計算,從而提高實驗測試的效率。根據待測電阻的阻值大小,正確選擇測試電路,可減小系統誤差,提高測量的準確度。
參考文獻:
[1]黃建剛等編.大學物理實驗[M].長沙:湖南大學出版社,2003.
[2]楊述武,陳國英等編.普通物理實驗[M].北京:高等教育出版社,2002.