劉龍飛
摘 要 偽隨機序列由于其在,常見的偽隨機序列有m序列、legendre序列等,而廣義割圓序列是Legendre序列的擴展,具有良好的線性復雜度和自相關性質。本文介紹了Magma在偽隨機序列方面的測試與應用,可以使抽象的證明直觀化,復雜的計算簡單化,從而使驗證廣義割圓序列的正確性。
關鍵詞 Magma 偽隨機序
中圖分類號:TN918.2 文獻標識碼:A
0前言
由于偽隨機序列具備良好的隨機性,目前已廣泛應用于各個領域。特別是在密碼學中,偽隨機序列扮演著十分重要的角色。隨機序列具有兩個方面的特點:一是預先不可確定、不可重復實現。另一方面所有序列都具有某些共同的隨機特性。能否產生真正的隨機序列一直都處在激烈的爭論中,如果一個二元序列,一方面它的結構是可以預先確定的,并且可以重復的產生和復制;另一方面又滿足Golomb總結的三條隨機性假設:R1 若序列的周期L為偶數,則0的個數與1的個數相等;若L為奇數,則0的個數比1的個數多1或少1。R2 長為的串占1/2,且0串和1串的個數相等或至多差一個。R3 序列的異相自相關函數為一個常數,即序列為二值自相關序列。便稱這種序列為偽隨機序列。簡單的講,偽隨機序列就是具有某種隨機特性的確定序列。它不是真正的隨機序列,它是用確定的算法產生,可以由短的真隨機序列擴展成較長的偽隨機序列。
1 Magma在偽隨機序列中的應用
使用Magma計算偽隨機序列的線性復雜度和自相關函數,主要利用Magma的BerlekampMassey函數以及AutoCorrelation函數。
令p為奇素數,整數m≥1。若g是p2的本原元,并且g'≡g(modp)并且滿足g'≡g(modp),則對于任意n≥2,g是pn的本原元,g'是p的本原元。則根據中國剩余定理可得,g模p的階為p-1,g模pm的階為pm-1(p-1)。
對于任意n,1≤n≤m,定義
D=(g2)(modpn),
D=gD(modpn),
R(n)={0,p,2p,…,(pn-1-1)p}=pZ,
則R(n)=Z\Z*, Z*=D∪D。
對于任意n1,n2,(n1 D(modp)≡D,R(modp)≡R . 因此可得到剩余類環Z的一個分割為: Z=D∪D∪pZ Z 。 1997年,Ding基于Whiteman-廣義割圓類構造了一類具有良好偽機性質的序列,并證明了其具有很高的線性復雜度。1998年,Ding和Helleseth提出了新的廣義割圓類,實現了對剩余類環最大乘法子群的分割,并定義了新的二元序列(簡稱Ding-廣義割圓序列)。該類序列典型代表為周期為pq(p,q為素數)和周期為pm(p為奇素數,m為正整數)的情形。本文中,我們對經典的周期為p2的廣義割圓序列進行驗證。 例2: //D-2 E:=GF(2); P p:=x^12 + x^7 + x^6 + x^5 + x^3 + x + 1; F F; sum:=0; s:=[]; P:= [1, 4, 16, 17, 38, 46, 47, 62, 64, 68, 79, 83, 11, 13, 29, 44, 52, 71, 73, 74, 82, 86, 97, 103]; Q:=[]; for i in [1..21] do Q[i]:=17*i; end for; Q; for i in [1..#Q] do s[i]:=w^Q[i]; sum:=sum+s[i]; end for; printf "sum=%o",sum; 通過測試可得最后的sum值為0,與數學證明的結果相符。 2總結 本文通過對Magma進行學習,可以看到利用Magma來進行偽隨機序列的實驗結果,仿真測試抽象的數學結論,使其更加直觀化,使繁瑣的計算簡單化。最后,針對當前的熱點方向廣義割圓序列進行仿真驗證。 參考文獻 [1] Ding,C.Linear complexity of generalized cyclotomic binary sequences of order 2[J]. Finite Fields and Their Applications,1997,3(02):159-174. [2] Ding,C&T.Helleseth .New generalized cyclotomy and its applications[J]. Finite Fields and Their Applications,1998,4(02):140-166. [3] Cusick,T.W.&C.Ding&A.Renvall.Stream Ciphers and Number Theory[M].Elsevier Science Pub. Co,1998. [4] 宋薔薇,李錄蘋. Magma在近世代數中的應用[J].山西大同大學學報,2015,31(01):6-8. [5] 金桂梅,李永冰.偽隨機序列的仿真與分析[J].現代電子技術,2009, 301(14):103-106.