王皓 樊明貞


摘要:激光干涉計量技術可以直接測量細絲直徑,方便快捷,而且相當精準,在工業生產領域應用非常廣泛。本系統使用He-Ne激光器產生的激光束,垂直照射待測細絲,發生衍射現象,進而發生衍射條紋。然后使用線陣CCD將衍射條紋轉換成電信號,經A/D轉換將數據送入計算機將衍射條紋的光強分布進一步進行了分析,最終達到實驗目的,再根據有關衍射公式算出細絲直徑。本文主要介紹光路設計、信號處理及軟件設計。
關鍵詞:線陣CCD直徑測量;衍射法;細絲直徑
1.前言
在工業生產和科學實驗中,經常碰到尺寸較小的細絲直徑的測量問題。細絲直徑測量的方法有許多,傳統測量方法通常有兩種:一種是細絲稱重法,即稱出一定長度的細絲的重量后,把細絲看成為均勻細長的圓柱體,然后根據材料的密度計算出細絲的直徑;另一種方法是用游標卡尺或螺旋測微器手工測量。以上兩種方法浪費較多的人力物力,而且測量的不一定準確,更無法滿足現代工業制造技術對零部件的高精度,準確性的要求。
近年來,伴隨著光學技術的進步與電子技術的迅速發展,在生產生活等領域中廣泛使用著大量光電器件。其中,CCD由于具有光電轉換的能力,并且使用方便快捷,而且相當精準等優點,被較多的使用在非接觸式直徑測量領域。相比接觸式的直徑測量方式,非接觸直徑測量具有測試速度快,精度高,對環境要求低等特點,因此在生產生活中被廣泛使用。
通過對線陣CCD特性及工作原理的分析,本文對基于線陣CCD的非接觸直徑測量系統進行了研究,并結合本課題的特點(測量細絲直徑),設計了一種基于線陣CCD非接觸直徑測量系統。
2.CCD衍射法測量原理與裝置
2.1 測量原理
衍射法測量細絲直徑,其使用的理論基礎是夫瑯和費衍射,平行激光束照射細絲,在接收屏上得到同樣的明暗相間的條紋。激光是利用某些物質原子中的粒子受激發而發出的光,其相位、方向、頻率完全相同,顏色很純,能量高度集中,本課題使用He-Ne激光器提供激光束。根據巴比涅原理可知,直徑為d的細絲產生的衍射圖樣與寬度為d的狹縫衍射圖樣相同。在觀察屏上光斑明亮分布為:
。當
,
時,I=0,出現暗紋,每一側的暗紋是等間距的。由于實際上很小,設第k級暗紋到光軸的距離為,則有
。式中:
,為暗紋間距。可見,只需測出暗紋間距S及細絲到衍射屏的距離L,就可計算出細絲的直徑d。
2.2 測量裝置
在以上測量原理的基礎上,依照測量原理設計測量裝置,進而實驗測算。本設計使用Arduino為控制中心元件,傳感器為線性CCD-TSL1401CL模塊,線性CCD-TSL1401CL會根據接收屏上得到同樣的明暗相間的條紋而輸出不同頻率的方波;進而將此方波輸入至Arduino,通過方波數據即可得出暗紋間距S,然后根據其他幾個必要的參數根據測量原理公式,最終得到直徑d。具體測量系統如圖1。

3.CCD模塊程序設計
激光衍射會出現明暗相間的條紋呈現在衍射屏,外部的模擬信號量需要轉變成數字量才能進一步的由arduino單片機進行處理,線性CCD-TSL1401CL很方便的將數據采集下來傳輸到單片機上。這就需要對arduino進行編程,具體程序如下:
int piexl[128]={0};int CCD_SI =2;int CCD_CLK=3;int i;int exp_time=500;
void setup()
{pinMode(2,OUTPUT);pinMode(3,OUTPUT);pinMode(A0,INPUT);
Serial.begin(115200); delay(500);}
void CAI(void)
{digitalWrite(CCD_SI,HIGH);digitalWrite(CCD_CLK,HIGH)digitalWrite(CCD_SI,LOW);
digitalWrite(CCD_CLK,LOW);for(i=0;i<128;i++)
{digitalWrite(CCD_CLK,HIGH);digitalWrite(CCD_CLK,LOW);}
delayMicroseconds(exp_time);digitalWrite(CCD_SI,HIGH);
digitalWrite(CCD_CLK,HIGH);digitalWrite(CCD_SI,LOW);
piexl[0] =analogRead(A0)/4;if(piexl[0] <25)piexl[0] =0;
if(piexl[0] ==255)piexl[i]=254; digitalWrite(CCD_CLK,LOW); for(i=1;i<128;i++)
{ digitalWrite(CCD_CLK,HIGH);piexl[i]=analogRead(A0)/4;
if(piexl[i]<25)piexl[i]=0;digitalWrite(CCD_CLK,LOW);}
digitalWrite(CCD_CLK,HIGH);digitalWrite(CCD_CLK,LOW);for(i=0;i<128;i++)
{Serial.write(piexl[i]);}
Serial.write(255);}
void loop()
{ CAI();delayMicroseconds(100);}
4.數據采集與處理
4.1 線性CCD數據采集
本實驗以頭發絲作為測量細絲直徑的實驗對象。經過多次試驗,在黑暗條件下明暗相間的條紋更加明顯,有利于線性CCD的數據采集。經系統對模擬量采集后,通過線性CCD成像軟件導出了線性CCD波形圖,如下圖2所示:

4.2 數據處理
在對于實驗數據處理中首先要計算出CCD比例,進而通過CCD接收到計算機上的圖像的像素點數計算出物體在CCD表面實際圖像的亮紋或暗紋間距。經計算,本實驗所使用的線性CCD-TSL1401CL的CCD比例為:16個像素點對應1mm。
首先利用CCD傳感器參數中像素點與距離之間的關系測得暗斑的間距:
,?----CCD比例,N----像素點個數。測量分析得到待測細絲的暗斑平均間距為16像素點,頭發絲到衍射屏的距離測量多組數據取平均值,如表1:
平均值:L=(86.66+86.68+86.71+86.74)÷4=86.70mm。相鄰暗紋距離:
可得S=0.1mm,由上式可得
。
通過實驗測得頭發絲d的直徑為0.055mm。將實驗測得值的數據與頭發絲原值作對比相差不大,說明本測量系統基本能夠實現對細絲的測量要求。
5.結論
本文以線性CCD傳感器為主要光電器件,arduino單片機為主要控制器件,通過對線性CCD模塊程序進行設計,很方便的將數據采集下來傳輸到單片機上,進而通過數據處理得到細絲直徑。通過本實驗可以更好克服傳統測量方法的效率低、精確度低的缺點,更好的滿足現在工業生產中對零部件精確度的要求。測量數據的準確性是此次測量細絲直徑實驗準確性的保證。通過多次測量數據取平均值,減小了測量誤差,這保證了細絲直徑的準確性。將實驗得出細絲直徑值與頭發絲原值作對比相差不大,因此此方案是可行的。本方案成本低,結構簡單,易學易用,在數據采集與處理領域,具備一定的研究價值。
參考文獻:
[1] 覃立平,趙子珍,莫玉香.用激光衍射法測量細絲直徑[J].實驗科學與技術,2014年,12卷第1期:1-7.
[2] 劊新凱,鄭亞茹.利用光學衍射方法測量金屬絲的直徑[J].遼寧師范大學學報.2003.11:2-5.
[3] 袁麗成.用光學衍射的方法測量金屬絲的直徑[J].物理通報.2000.10:39-41.
[4] 和志忠.基于線陣CCD的非接觸直徑測量系統研究[D].河北工業大學,2014.
(作者單位:山東建筑大學機電工程學院)