楊博
(國家知識產權局專利局專利審查協作廣東中心,廣東廣州 510700)
隨著經濟的發展,我國人民群眾的生活水平也得到了較為明顯的提升。在日常生活中使用到了越來越多的電子設備。在這樣的背景下,為了提升這些設備的使用功能與作用,就要對其續航能力進行有效地提升與改進。電子產品的未來發展,主要趨向于體積小、性能高的趨勢,因此為了滿足這樣的設計需求,就要進行穩定電源的設計。
圖1為低壓差線穩壓器的結構圖。如圖1所示,在構成低壓差線性穩壓器時,其芯片基本上都是由模塊構成,并涉及到諸多的模塊類型。分別為過壓保護、功率管、分壓電阻、過溫保護、過流保護以及誤差放大等多方面的模塊設計。在這樣的設計中,可以針對芯片實現較為可靠的輔助能力,同時還能在運行中輔助模塊,基于實際的電路設計需求,進行各項決定[1]。

圖1 低壓差線性穩壓器的結構圖
MOS晶體管是在晶體管柵的電壓工作中,基于某些特定的零溫度系統之下所出現的晶體管的漏源電流,并不會溫度的變化而出現變化[2]。
圖2為MOS管的結構圖。其結構處于高溫的結構下,往往會出現反向的泄漏電流,因此就會使得電流出現嚴重的提升。一般情況下,出現這種情況的原因就是由于具體的構成是兩個pn結構,所以在低于150℃的時候,就會使得pn結構下的電流,主要呈現出產生的電流,但是電流的數值較小。而在溫度高于150℃之后,就會使得在出現泄露的電流之后,主要呈現出反向擴散的電流類型,伴隨著溫度的不斷上升,使得出現越來越明顯的變化,這樣的情況受到高溫影響比較明顯,因此就導致MOS的器件所出現的直流以及交流性,有著較為明顯的變化特征。

圖2 MOS管的結構圖
設計中需要對漏極二極管的泄露電流進行考量,其次,還需要在高溫條件下的CMOS設計中,對晶體管尺寸進行科學合理的確定,避免對泄露的電流造成不良的影響。
2.2.1 帶隙基準源VREF
帶隙基準源,是線性穩壓器的重要組成部分,其運行中主要是對于LDO線性穩壓器的EA提供一定的參考值。穩壓器的仿真功能會對于穩壓器的仿真輸出電壓與電壓參考,造成直接的影響。同時,這種電壓值的大小精度,也會受到仿真輸出電壓結果的影響。
2.2.2 電路EA
受到電路設計的影響,反饋電阻會影響反饋電壓,從而對功率管造成柵壓。功率管會對負載電流造成影響,從而影響到電壓。本文的設計方案,強調利用EA對傳統的運放結構進行處理,并對其結構中的高溫電路進行合理設計,保障在第一級輸出端能夠實現緩沖級和跟隨式零點補償結構,讓電路的整體穩定性得到保障[3]。
2.2.3 保護模塊
在對芯片進行設計的過程中,為了保障其溫度高于預先的設計溫度標準,以此可以實現自動的斷開操作,往往需要在設計出LDO產品的時候,在內部安裝一定的過溫保護模塊。其次,在電路當中的電流,一旦超出了某些指標,就會導致在其電流的過程中,使得需要設計出良好的電阻值。但是,對于不需進行過流保護的電路,在其中各種器件的運行中,如果出現電流過大,或者在溫度上升的過程中,會在溫度的作用之下燒毀。在進行設計的過程中,需要科學合理地設計以及分析,以此保障系統運行的時候,可以有著較高的合理性。
2.2.4 反饋網絡
LDO具有負反饋功能性,在反饋電壓的組成中,可形成負反饋網絡,會直接影響到LDO的線性穩壓器,因此內部關鍵參數設計對精確度要求高,花費成本高。設計過程中,應對LDO參數進行分析,讓LDO性能提升到最佳的狀態。
基準作用,是在一個范圍內,伴隨著溫度的變化,或者受到其他因素的影響,導致出現微小電壓變化的情況。上述現象,會被當做電路的偏置設計基礎。同時,電壓偏差值的出現,會導致電壓穩定性差。需要對溫度特性曲線進行分析,保障線性調整率可以得到處理。帶隙電壓的基準,會受到高精度、低溫度的影響,導致高電源電壓的抑制比較高。在本文的設計中,主要就基于帶隙基準的結構為標準。同時,將其眾多的溫度補償點進行了合理的設計,保障器件的實際工作溫度維持在-55℃~175℃之間,這樣就可以滿足各方面的實際使用需求[4]。
2.4.1 功耗
首先需要對其深壓微米短溝道的長度進行考量,使其呈現出電源電壓、低功耗的特征。這樣的功耗程度往往可以對芯片的穩定性產生幫助,一般較為常見。另外還需要進行拓撲結構設計,提升某些電路的實際性能,形成更快的速度。為了保障系統可以更加高效地運行下去,還要保障對芯片性能進行提升,保證芯片散熱良好。在高速的LDO線性穩壓器的使用中,其基準的電壓源有著一定的功耗限制條件。
2.4.2 溫度偏移系統分析
首先,在當下基準電壓源當中,為了保障電壓始終保持在一個較為理想的狀態當中,但是在實際的情況下,往往溫度對于輸出精度有著直接的影響。當下的溫度偏移系數的出現,就是一種對于基準電壓源的輸出電壓的分析,以此使得電壓會伴隨著溫度的變化影響,以此形成了一個明確的參數。
其次,對于環境的溫度變化單位,往往需要進行針對性地分析,以此保障帶隙急轉電壓源會伴隨著輸出電壓的實際變化,呈現出多種不同的變化趨勢。其次,在分子表示輸出電壓的過程中,所出現的最大值與最小值之間的差值,便可以通過分母的方式,對最大值與最小值進行計算之后,得出相應的平均值,同時,在不同的溫度偏移系統的情況下,使得對于帶隙的基準電壓源的輸出會受到電壓的實際影響。
2.4.3 電源電壓抑制比
在進行模擬集成電路的過程中,其電源線往往有著一定的噪聲,因此就使得在設計的過程中,需要對這種噪聲進行有效地控制。在電源電壓的抑制比當中,往往是體現出對于這種噪聲的抑制性的能力,因此這也成為了一種電路的重要設計參數,只有利用合理的方式,才可以提升設計的合理性。
為了保障設備的高效性,就需要伴隨著應用范圍的提升,而提升設計應用范圍,以此在各種高溫環境下,保障低壓差線性穩壓器可以穩定地運行下去,不會受到溫度的影響,而導致一些故障問題,從而使設備的性能得到最佳發揮。